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모바일 RFID 포럼 표준 개정일 : 2006 년 6 월 30 일 WD-MRFS-5-02-R1-v0.7(20060630)-모바일 RFID Air Interface 프로토콜 표준적합성 시험규격

모바일 RFID Air Interface 프로토콜 표준적합성

시험규격(개정안)

(Air Interface Protocol Conformance Test Standard for Mobile RFID)

모바일 RFID 포럼

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모바일 RFID 포럼 표준

MRFS-5-02 i

서 문

1. 표준의 목적

국내에 도입되는 모바일RFID 리더 및 태그의 Air Interface 프로토콜 기술이, 국내

900MHz 기술 기준과 국내 모바일RFID 기술표준에 따라 표준에 적합하게 구현되었

는가를 검증하기 위한 시험표준을 정의한다.

2. 주요 내용 요약

모바일 RFID용 리더 및 태그의 Air Interface 프로토콜 표준적합성 검증을 위한 시

험환경, 시험항목, 시험방법 및 절차를 제시하고 있다.

3. 표준 적용 산업 분야 및 산업에 미치는 영향

본 표준은 모바일 RFID용 리더 또는 태그의 표준적합성 검증을 통해 시장에서

모바일 RFID 제품의 신뢰를 확보하고 상호운용을 지원함으로써 국내 모바일 RFID

시장의 활성화에 기여할 것이다.

4. 참조 표준(권고)

4.1 국외표준(권고)

- ISO/IEC 18000-6:2004/FPDAM 1, “Information technology-Radio frequency Identification

for item management-Part 6: Parameters for air interface communications at 860 MHz to 960

MHz”, July 2005

4.2 국내표준

- 해당사항 없음


MRFS-5-02 ii

5. 참조표준(권고)과의 비교

5.1 참조표준(권고)과의 관련성

본 표준에서는 국제 900MHz RFID 표준, 국내 RFID 기술기준 및 모바일 RFID 표

준을 참조하여 모바일 RFID용 Air Interface 프로토콜 표준적합성 시험규격을 규정한

다.

6. 지적재산권 관련사항

해당사항 없음

7. 적합인증 관련사항

7.1 적합인증 대상 여부

해당사항 없음

7.2 시험표준제정여부

해당사항 없음

8. 표준의 이력

판수 제/개정일 제�개정내역

제1판 2005.08.31 제정

제2판 2006.06.xx 개정


MRFS-5-02 iii

Preface

1. The Purpose of Standard

This standard proposes the test specifications verifying that Mobile RFID devices such as

Reader and Tag using for Mobile RFID services in Republic of Korea conform to both the

domestic Mobile RFID air interface protocol standard and the international RFID air interface

protocol standards at 860-960 MHz

2. The summary of contents

This standard presents test cases, test configurations and test methods for air interface protocol

conformance of Mobile RFID devices

3. Applicable fields of industry and its effect

This standard can be used as a reference for verifying that Mobile RFID devices such as

Reader and Tag using for Mobile RFID services conform to both the domestic Mobile RFID air

interface RF standard and the international RFID air interface RF standards at 860-960 MHz

4. Reference Standards (Recommendations)

4.1 International Standards (Recommendations)

- ISO/IEC 18000-6:2004/FPDAM 1, “Information technology-Radio frequency Identification

for item management-Part 6: Parameters for air interface communications at 860 MHz to 960

MHz”, July 2005

4.2 Domestic Standards

Nothing is referred

5. Relationship to International Standards(Recommendations)


MRFS-5-02 iv

5.1 The relationship of international standards

This standard specifies the Mobile RFID RF conformance test methods referring to both the

domestic Mobile RFID air interface RF standard and the international RFID air interface RF

standards at 860-960 MHz

6. The Statement of Intellectual Property Rights

Nothing is related

7. The Statement of Conformance Testing and Certification

Nothing is related

8. The History of Standard

Edition Issued date Contents

The 1st edition August 31, 2005 Established

The 2nd edition June xx, 2006 Revised


MRFS-5-02 v

목 차(Contents)

1. 개 요 .........................................................................................................................１

1.1 문서의 목적................................................................................................................................１

1.2 문서의 범위................................................................................................................................１

1.3 규격의 내용................................................................................................................................１

1.4 참조 표준....................................................................................................................................１

1.5 용어 및 약어 ..............................................................................................................................１

2. 시험 환경 .................................................................................................................３

2.1 시험대상 장비............................................................................................................................３

2.2 시험 장비....................................................................................................................................３

2.3 시험 구성도................................................................................................................................３

2.4 시험 데이터................................................................................................................................４

3. 시험 항목 .............................................................................................................１７

3.1 ISO 18000-6 TYPE C 프로토콜 표준적합성 시험항목 ......................................................１７

3.2 ISO 18000-6 TYPE B 프로토콜 표준적합성 시험항목.......................................................１８

4. ISO 18000-6 TYPE C 시험절차 .........................................................................１９

4.1 시험 환경 및 조건.................................................................................................................１９

4.1.1 시험 환경.........................................................................................................................１９

4.1.2 시험 조건.........................................................................................................................１９

4.2 태그 상태 천이 ......................................................................................................................２０

[TC_T_01] SELECT 명령에 의한 SESSION 및 INVENTORIED FLAG 값 변경 ........２０

[TC_T_02] REPLY => ACKNOWLEDGED .........................................................................２２

[TC_T_03] REPLY => ARBITRATE (T2 시간초과 후) ......................................................２４

[TC_T_04] ACKNOWLEDGED => OPEN...........................................................................２６

[TC_T_05] ACKNOWLEDGED => SECURED...................................................................２８

[TC_T_06] OPEN => SECURED ...........................................................................................３１

[TC_T_07] OPEN => KILLED...............................................................................................３５

[TC_T_08] SECURED => KILLED .......................................................................................４０

[TC_T_09] KILL PASSWORD 초기상태 (KILL PASSWORD = 0) ..................................４４

4.3 태그 메모리 관리 ..................................................................................................................４９

[TC_T_10] UII 길이 수정 후 PC 값 변경...........................................................................４９


MRFS-5-02 vi

[TC_T_11] KILL PASSWORD/ACCESS PASSWORD 구현..............................................５３

[TC_T_12] UII/USER 메모리 영역 LOCK 기능 설정 ......................................................５７

[TC_T_13] KILL PASSWORD/ACCESS PASSWORD LOCK 기능 설정 .......................６３

4.4 리더 주요 기능 ......................................................................................................................６９

[TC_R_14] 데이터읽기 ...........................................................................................................６９

5. ISO 18000-6 TYPE B 시험 절차........................................................................６９

5.1 시험 환경 및 조건.................................................................................................................７０

5.1.1 시험 환경.........................................................................................................................７０

5.1.2 시험 조건.........................................................................................................................７０

5.2 SELECTION 기능 ................................................................................................................７１

[TC_T_01] SELECTION 명령에 의한 READY 상태 => ID 상태 (OR READY 상태) ..７１

[TC_T_02] SELECTION 명령에 의한 ID 상태 => READY 상태 (OR ID 상태) ...........７３

5.3 DATA TRANSFER 기능 .......................................................................................................７５

[TC_T_03] 태그정보 읽기 ......................................................................................................７５

[TC_T_04] 태그정보 잠금 ......................................................................................................７７

[TC_T_05] 태그정보 쓰기 ......................................................................................................８０

5.4 리더 주요 기능 ......................................................................................................................８３

[TC_T_06] READ 명령 수행 .................................................................................................８３

5.5 복수 태그 인식 ......................................................................................................................８５

[TC_T_07] FAIL 명령 및 SUCCESS 명령 수행.................................................................８５

[TC_T_08] RESEND 명령 수행 ............................................................................................８７

[TC_T_09] INITIALIZE 명령 수행......................................................................................８８

1. 개 요

1.1 문서의 목적

본 문서는 ISO/IEC 18000-6(Type B 또는 Type C) 표준에 따라 구현된 리더 및 태그의 Air Interface

프로토콜 표준적합성을 평가하기 위한 문서이다. 모바일 RFID 국내 표준에서 정의한 리더와 태

그에서 요구되는 통신 프로토콜 기능을 검증하기 위한 시험규격이다.

1.2 문서의 범위

본 문서에서는 모바일 RFID 리더와 태그의 Air Interface 프로토콜 표준적합성을 검증하기 위한

시험규격을 정의하며, ISO/IEC 18000-6 표준에서 정의한 기능을 시험할 수 있는 근거를 제시한다.

1.3 규격의 내용

모바일 RFID 무선기기 Air Interface 프로토콜 표준적합성 검증

1.4 참조 표준

[1] ISO/IEC 18000-6:2004/FPDAM 1, “Information technology-Radio frequency Identification for item

management-Part 6: Parameters for air interface communications at 860 MHz to 960 MHz”, July 2005

1.5 용어 및 약어

1.5.1 용어

[리더(Reader, Interrogator)]

908.5 – 914 MHz(FHHS 방식은 910 ~ 914 MHz) 주파수 대역에서 국내 RFID 기술기준과 표준에

따라 태그에게 명령을 송신하고, 또한 태그로부터 응답을 수신하여 통신을 담당하는 장치로서

CDMA, WCDMA, 와이브로, 무선랜, 텔레매틱스 등의 무선통신기술을 사용하는 휴대 단말기에

장착

[태그(Tag)]

리더에서 무선으로 송신한 명령을 분석한 후, 응답을 리더에게 무선으로 백스캐터링

(Backscattering)하는 장치로서 칩과 안테나로 구성. 태그는 자체 전원을 갖지 않고 리더에서 보낸

RF 신호를 정류하여 리더와의 통신전원으로 사용

1.5.2 약어

ASK: Amplitude Shift Keying

BLF: Backscattering Link Frequency (BLF=1/Tpri)

Byte: 8 bits

CRC: Cyclic Redundancy Check

DR: Divide Ratio

DSB-ASK: Double Sideband -ASK

DUT: Device Under Test

EVB: Extensible Bit Vectors

Handle: 16-bit tag-authentification (for ISO/IEC 18000-6 Type C)

ID: Tag identification(64 bits) for Type B

LSB: Least Significant Bit

M: Number of subcarrier cycles per symbol

MSB: Most Significant Bit

PC: Protocol Control

PR-ASK: Phase reversal-ASK

Q: Slot-count parameter. Q is an integer in the range (0,15)

RFID: Radio Frequency Identification

RN16: Random Number 16bits

SSB-ASK: Single Sideband-ASK

RTcal: Interrogator-to-Tag calibration symbol

R=>T: Reader-to-Tag or Interrogator-to-Tag

T1: Time from Interrogator transmission to Tag response

T2: Time from Tag response to Interrogator transmission

T3: Time an Interrogator waits, after T1, before it issues another command

T4: Minimum Time between Interrogator commands

Tpri: Link pulse-repetition interval (Tpri=1/LF)

T =>R: Tag-to-Reader or Tag-to-Interrogator

TID: Tag-identification or tag identifier

TRcal: Tag-to-Interrogator calibration symbol

UII: Unique Item Identifier

Word: 16 bits

2. 시험 환경

2.1 시험대상 장비

908.5 ~ 914 MHz 대역의 RFID/USN 주파수를 사용하는 모바일 RFID용 리더(이하 “리더”라 한다.)

와 태그(이하 “태그”라 한다.)가 시험대상 장비(DUT)가 된다.

2.2 시험 장비

모바일 RFID 리더 또는 태그의 프로토콜 표준적합성을 확인하기 위해, 리더 시험에서는 Tester에

서 국제표준 응답을 발생시킨다. 또한 태그를 시험할 경우에는 표준 명령을 발생시키는 Tester를

시험장비로 사용한다.

2.3 시험 구성도

시험대상 장비(DUT)인 리더 또는 태그의 프로토콜 표준적합성을 확인하기 위한 시험 구성도는

그림 2-1과 같다. 프로토콜 표준적합성 시험에서는 리더에서의 명령 처리와 태그의 명령에 대한

응답이 표준에 적합하게 처리되는 가를 기준시험기(Reference Tester) 또는 기준장비(Golden Device)

를 사용하여 확인한다.

Upper Layer(Command/Response)

Reference tester(Tester 또는 Peer device to DUT )

Tx Rx

908.5 ~ 914 MHz(RF)

PHY(Baseband)

Upper Layer(Response/Command)

PHY(Baseband)

Device Under Test(Reader or Tag)

Rx Tx

[그림 2-1 프로토콜 적합성시험 구성도]

2.4 시험 데이터

2.3.1 ISO 18000-6 Type C

2.3.1.1 DUT가 리더인 경우 ■ 리더는 시험항목별로 시험수행에 필요한 표준 명령과 명령에 대한 변수들을 리더에서 제공하는 표준인터페이스(UART 등)와 테스트모드를 통해, Tester 에서 항목별로 설정된 명령/응답 시나리오로 지정할 수 있어야 한다. 즉, 리더는 시험항목의 수행을 위해, Tester 가 지정한 명령들을 Timing 에 맞게 순차적으로 생성하여 송신할 수 있어야 한다.(리더는 개별 명령을 송신하여 이에 대한 응답을 받은 후, 리더의 명령 송신 Timing 에 맞게 다음 명령 송신절차 수행)

■ Reference Tester(표준 Tag 역할 수행)는 시험항목별로 초기 메모리와 Session 및 flag 정보가 설정된 상태에서, 시험항목별로 리더에서 전송한 명령들에 대한 응답을 발생시켜야 한다.

■ 리더에서의 ISO 18000-6 Type C 관련 프로토콜 표준적합성시험은 필수 시험대상이다.

■ ISO/IEC 18000-6 Type C 표준 명령 및 응답은 다음과 같다.

◦ Select command

Comm-and Target Action Mem

BankPointe

r Length Mask Truncate CRC-16

# of bits 4 3 3 2 EBV 8 Variable 1 16

Description

1010 000: Inventoried (S0) 001: Inventoried (S1) 010: Inventoried (S2) 011: Inventoried (S3) 100: SL 101: RFU 110: RFU 111: RFU

See ‘Tag response to Action’

table

00: RFU01: UII 10: TID11: User

StartingMask

address

Mask length (bits)

Mask value

0: Disable truncation

1: Enable truncation

-

- Tag response to ‘Action’ parameter

Action Matching Non-Matching

000 assert SL or inventoried → A deassert SL or inventoried → B

001 assert SL or inventoried → A do nothing

010 do nothing deassert SL or inventoried → B

011 negate SL or (A → B, B → A) do nothing

100 deassert SL or inventoried → B assert SL or inventoried → A

101 deassert SL or inventoried → B do nothing

110 do nothing assert SL or inventoried → A

111 do nothing negate SL or (A → B, B → A)

◦ Query command

Comm-and DR M TRext Sel Session Target Q CRC-5

# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0: DR=8 1: DR=64/3

00: M=1 01: M=2 10: M=4 11: M=8

0: No pilot tone 1: Use pilot tone

00: All 01: All 10: ~SL 11: SL

00: S0 01: S1 10: S2 11: S3

0: A 1: B

0–15

◦ Tag reply to a Query command

Response

# of bits 16

description RN16

◦ QueryAdjust command

Command Session UpDn

# of bits 4 2 3

description 1001 00: S0, 01: S1 10: S2, 11: S3

110: Q = Q + 1 000: No change to Q 011: Q = Q – 1

-

- Tag reply to a QueryAdjust command

Response

# of bits 16

Description RN16

◦ QueryRep command

Command Session

# of bits 2 2

description 00 00: S0, 01: S1 10: S2, 11: S3

-

- Tag reply to a QueryRep command

Response

# of bits 16

description RN16

◦ ACK command

Command RN

# of bits 2 16

description 01 Echoed RN16 or handle

-

- Tag reply to a successful ACK command

Response

# of bits 16 to 288

description {PC, UII, CRC-16} OR {000002, truncated UII, CRC-16}

◦ NAK command

Command

# of bits 8

description 11000000

◦ Req_RN command

Command RN CRC-16

# of bits 8 16 16

description 11000001 Prior RN16 or handle

-

- Tag reply to a Req_RN command

RN CRC-16

# of bits 16 16

description New RN16 or handle

◦ Read command

Command MemBank WordPtr WordCount RN CRC-16

# of bits 8 2 EBV 8 16 16

description 11000010 00: Reserved 01: UII 10: TID 11: User

Starting address pointer

Number of words to

read

handle

-

- Tag reply to a successful Read command

Header Memory Words RN CRC-16

# of bits 1 Variable 16 16

description 0 Data handle

◦ Write command

Command MemBank WordPtr Data RN CRC-16

# of bits 8 2 EBV 16 16 16

description 11000011 00: Reserved 01: UII 10: TID 11: User

Address pointer

RN16 ⊗ wordto be written

handle

Tag reply to a successful Write command

Header RN CRC-16

# of bits 1 16 16

description 0 handle

◦ Kill command

Command Password RFU RN CRC-16

# of bits 8 16 3 16 16

description 11000100 (½ kill password) ⊗ RN16 0002 handle

-

- Tag reply to a successful Kill command

Header RN CRC-16

# of bits 1 16 16

description 0 Handle

◦ Lock command

Command Payload RN CRC-16

# of bits 8 20 16 16

description 11000101 Mask and Action Fields handle

Tag reply to a Lock command

Header RN CRC-16

# of bits 1 16 16

description 0 Handle

◦ Access command

Command Password RN CRC-16

# of bits 8 16 16 16

description 11000110 (½ access password) ⊗ RN16 handle

-

- Tag reply to an Access command

RN CRC-16

# of bits 16 16

description handle

◦ Error-code Reply

Header Error Code RN CRC-16

# of bits 1 8 16 16

description 1 Error code handle

2.3.1.2 DUT가 태그인 경우 ■ Reference Tester(표준 Reader 역할 수행)는 시험수행에 필요한 명령과 변수를 설정할 수 있어야 하며, Timing 에 맞게 순차적으로 해당 명령들을 생성하여 송신할 수 있어야 한다.

■ 태그는 시험항목별로 초기에 각 메모리 뱅크 별 데이터와 Session 및 flag 정보가 설정된 상태에서, 시험 항목별로 리더기에서 전송한 명령에 대한 응답을 발생시켜야 한다.

■ 태그 시험의 신뢰성 확보를 위해, 시험수행 기관은 시험 의뢰업체에게 필요한 태그의 수량과 샘플 선정방법을 제시하여야 한다.

2.3.2 ISO 18000-6 Type B

2.3.2.1 DUT가 리더인 경우 ■ 리더는 시험항목별로 시험수행에 필요한 표준 명령과 명령에 대한 변수들을 리더에서 제공하는 표준인터페이스(UART 등)와 테스트모드를 통해, Tester 에서 항목별로 설정된 명령/응답 시나리오로 지정할 수 있어야 한다. 즉, 리더는 시험항목의 수행을 위해, Tester 가 지정한 명령들을 Timing 에 맞게 순차적으로 생성하여 송신할 수 있어야 한다.(리더는 개별 명령을 송신하여 이에 대한 응답을 받은 후, 리더의 명령 송신 Timing 에 맞게 다음 명령 송신절차 수행)

■ Reference Tester(표준 Tag 역할 수행)는 시험항목별로 초기 메모리 정보가 설정된 상태에서, 시험항목별로 리더에서 전송한 명령들에 대한 응답을 발생시켜야 한다.

■ ISO 18000-6 Type B 관련 프로토콜 표준적합성시험은 기능이 구현된 리더만 시험한다.

■ ISO/IEC 18000-6 Type B 표준 명령 및 응답은 다음과 같다.

◦ GROUP_SELECT_EQ command

Command Address Byte_Mask Word_DATA CRC-16

# of bits 8 8 8 64 16


-

- Tag reply to a GROUP_SELECT_EQ command in the case of NO error

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ GROUP_SELECT_NE command


# of bits 8 8 8 64 16


-

- Tag reply to a GROUP_SELECT_NE command in the case of NO error

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ GROUP_SELECT_GT command


# of bits 8 8 8 64 16


-

- Tag reply to a GROUP_SELECT_GT command in the case of NO error

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ GROUP_SELECT_LT command


# of bits 8 8 8 64 16


-

- Tag reply to a GROUP_SELECT_LT command in the case of NO error

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ GROUP_UNSELECT_EQ command


# of bits 8 8 8 64 16


-

- Tag reply to a GROUP_UNSELECT_EQ command in the case of NO error and comparison fails

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ GROUP_UNSELECT_NE command


# of bits 8 8 8 64 16


- Tag reply to a GROUP_UNSELECT_NE command in the case of NO error and comparison fails

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ GROUP_UNSELECT_GT command


# of bits 8 8 8 64 16


-

- Tag reply to a GROUP_UNSELECT_GT command in the case of NO error and comparison fails

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ GROUP_UNSELECT_LT command


# of bits 8 8 8 64 16


-

- Tag reply to a GROUP_UNSELECT_LT command in the case of NO error and comparison fails

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ MULTIPLE_UNSELECT command

Command Address Byte_DATA CRC-16

# of bits 8 8 8 16


-

- Tag reply to a MULTIPLE_UNSELECT command in the case that WRITE_OK is reset or BYTE_DATA is not equal to memory content at ADDRESS

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ GROUP_SELECT_EQ_FLAGS command

Command Byte_Mask Byte_DATA CRC-16

# of bits 8 8 8 16


-

- Tag reply to a GROUP_SELECT_EQ_FLAGS command in the case of NO error

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ GROUP_SELECT_NE_FLAGS command


# of bits 8 8 8 16


-

- Tag reply to a GROUP_SELECT_NE_FLAGS command in the case of NO error

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ GROUP_UNSELECT_EQ_FLAGS command


# of bits 8 8 8 16


-

- Tag reply to a GROUP_UNSELECT_EQ_FLAGS command in the case of NO error and comparison fails

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ GROUP_UNSELECT_NE_FLAGS command


# of bits 8 8 8 16


- Tag reply to a GROUP_UNSELECT_NE_FLAGS command in the case of NO error and comparison fails

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ FAIL command

Command CRC-16

# of bits 8 16


-

- Tag reply to a FAIL command in the case that COUNT stays zero

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ SUCCESS command

Command CRC-16

# of bits 8 16


-

- Tag reply to a SUCCESS command in the case that COUNT is zero

ID CRC-16

# of bits 64 16

description

◦ RESEND command

Command CRC-16

# of bits 8 16


-

- Tag reply to a RESEND command in the case that COUNT is zero

ID CRC-16

# of bits 64 16

◦ INITIALIZE command

Command CRC-16

# of bits 8 16


- No Tag reply to a INITIALIZE command

◦ READ command

Command ID Address CRC-16

# of bits 8 64 8 16


-

- Tag reply to a READ command in the case of NO error

WORD_DATA CRC-16

# of bits 64 16

◦ DATA_READ command


# of bits 8 64 8 16


-

- Tag reply to a DATA_READ command in the case of NO error

WORD_DATA CRC-16

# of bits 64 16

◦ READ_VERIFY command


# of bits 8 64 8 16


-

- Tag reply to a READ_VERIFY command in the case of NO error

BYTE_DATA CRC-16

# of bits 64 16

◦ READ_VERIFY_4BYTE command


# of bits 8 64 8 16


-

- Tag reply to a READ_VERIFY_4BYTE command in the case of NO error

BYTE_DATA CRC-16

# of bits 64 16

◦ READ_VARIABLE command

Command ID Address Length CRC-16

# of bits 8 64 8 8 16


-

- Tag reply to a READ_VARIABLE response in the case of NO error

Length* BYTE_DATA CRC-16

# of bits Length*8bits 16

◦ WRITE command

Command ID Address BYTE_DATA CRC-16

# of bits 8 64 8 8 16


-

- Tag reply to a WRITE command in the case of NO error

ACKNOWLEDGE CRC-16

# of bits 8(00000000) 16

-

- Tag reply to a WRITE command in the case of locked memory

ERROR CRC-16

# of bits 8(11111111) 16

◦ WRITE4BYTE command

Command ID Address BYTE_Mask Data CRC-16

# of bits 8 64 8 8 32 16

description

00011011

-

- Tag reply to a WRITE4BYTE command in the case of NO error

ACKNOWLEDGE CRC-16

# of bits 8(00000000) 16

-

- Tag reply to a WRITE4BYTE command in the case of locked memory

ERROR CRC-16

# of bits 8(11111111) 16

◦ WRITE_MULTIPLE command

Command Address Data CRC-16

# of bits 8 8 8 16

description

00001110

-

- No Tag reply to a WRITE_MULTIPLE command

◦ WRITE4BYTE_MULTIPLE command

Command Address Byte_Mask Data CRC-16

# of bits 8 8 8 32 16

description

00011100

-

- No Tag reply to a WRITE_MULTIPLE command

◦ LOCK command


# of bits 8 64 8 16


-

- Tag reply to a LOCK command in the case that locking was possible

ACKNOWLEDGE CRC-16

# of bits 8(00000000) 16

-

- Tag reply to a LOCKRITE command in the case that locking was not possible

ERROR CRC-16

# of bits 8(11111111) 16

◦ QUERY_LOCK command


# of bits 8 64 8 16


-

- Tag reply to a QUERY_LOCK command in the case that address is not locked and WRITE_OK is set

ACKNOWLEDGE_OK CRC-16

# of bits 8(00000001) 16

- Tag reply to a QUERY_LOCK command in the case that address is not locked and WRITE_OK is cleared

ACKNOWLEDGE_NOK CRC-16

# of bits 8(00000000) 16

-

- Tag reply to a QUERY_LOCK command in the case that address is locked and WRITE_OK is set

ERROR_OK CRC-16

# of bits 8(11111111) 16

-

- Tag reply to a QUERY_LOCK command in the case that address is locked and WRITE_OK is cleared

ERROR_NOK CRC-16

# of bits 8(11111110) 16

2.3.2.2 DUT가 태그인 경우

■ Reference Tester(표준 Reader 역할 수행)는 시험수행에 필요한 명령과 변수를 설정할 수 있어야 하며, Timing 에 맞게 순차적으로 해당 명령들을 생성하여 송신할 수 있어야 한다.

■ 태그는 시험항목별로 초기에 각 메모리 뱅크 별 데이터와 Session 및 flag 정보가 설정된 상태에서, 시험 항목별로 리더기에서 전송한 명령에 대한 응답을 발생시켜야 한다.

■ 태그 시험의 신뢰성 확보를 위해, 시험수행 기관은 시험 의뢰업체에게 필요한 태그의 수량과 샘플 선정방법을 제시하여야 한다.

3. 시험 항목

3.1 ISO 18000-6 Type C 프로토콜 표준적합성 시험항목

시험 구분 시험 영역 시험 I D 시 험 명

TC_T_01 Ready Ready (Select 명령에 의한 Inventoried flag

값 변경)

TC_T_02 Reply Acknowledged 상태 천이

TC_T_03 Reply Arbitrate 상태 천이 (T2 시간초과 후)

TC_T_04 Acknowledged Open 상태 천이

TC_T_05 Acknowledged Secured 상태 천이

TC_T_06 Open Secured 상태 천이

TC_T_07 Open Killed 상태 천이

TC_T_08 Secured Killed 상태 천이

상태 천이

TC_T_09 Kill password 초기상태 (kill password = 0)

TC_T_10 UII 길이 수정 후 PC 값 변경

TC_T_11 Kill password/Access password 구현

TC_T_12 UII/USER 메모리 영역 Lock 기능 설정

태그

시험

메모리

관 리

TC_T_13 Kill password/Access password lock 기능 설정

리더 시험 주요기능 TC_R_14 Read 명령 수행

3.2 ISO 18000-6 Type B 프로토콜 표준적합성 시험항목

시험 구분 시험 영역 시험 I D 시 험 명

TC_T_01 Selection 명령에 의한 Ready 상태 ID 상태 (or

Ready 상태) Selection

기능 TC_T_02

Selection 명령에 의한 ID 상태 Ready 상태 (or

ID 상태)

TC_T_03 태그정보 읽기

TC_T_04 태그정보 잠금

태그

시험 Data

Transfer

기능 TC_T_05 태그정보 쓰기

주요 기능 TC_R_06 READ 명령 수행

TC_T_07 FAIL 명령 및 SUCCESS 명령 수행

TC_T_08 RESEND 명령 수행 리더 시험 Multiple Tag

Identification TC_T_09 INITIALIZE 명령 수행

4. ISO 18000-6 Type C 시험절차

4.1 시험 환경 및 조건

4.1.1 시험 환경

o 온도(23˚C+/-5˚C), 정상 동작 전압

4.1.2 시험 조건

o Test Frequencies: 909.65 ~ 913.85 MHz

o Power level: 0 dBm at tag antenna

o Modulation: DSB-ASK

o Bandwidth: 200 KHz

o Tari: 25

o RTcal: 75

o PW: 12.5

o Data Rate(R=>T): 26.7 Kbps

o Modulation depth: 90%

o TRcal: 200

o DR: 8

o M: 1

o Spectrum Analyzer setting: Span (6.5 MHz)

o Demodulation format: ASK/PSK

o BLF: 40KHz

o Data Rate(T=>R): 40 Kbps

sµsµsµ

sµ

4.2 태그 상태 천이

[TC_T_01] SELECT 명령에 의한 SESSION 및 INVENTORIED FLAG 값 변경

TC_T_01

1.1 시 험 명: Select 명령에 의한 Session 및 Inventoried flag 값 변경

1.2 시험목적: Select 명령에 의하여 Session 및 Inventoried flag 값이 변경됨을 확인

1.3 시험진행 상태도

CMD: SelectReply: None

Ready

Power-up & non-Killed

Reply

CMD: Query[Q=0]Reply: RN16

CMD: SelectReply: None

Ready


Reply


1.4 시험절차 흐름도

CW

CW(At least 150 )

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query 1

RN16

Select

Query 2

RN16

CW

CW(At least 150 )

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query 1

RN16

Select

Query 2

RN16

sµ

시험 ID

1.5 관련명령 포멧

Query 1

Command DR M TRext Sel Session Target Q CRC-5

# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

Select

Command Target Action MemBank Pointer Length Mask Truncate CRC-16

# of bits 4 3 3 2 8 8 Variable 1 16

description 1010 010 100 10 00000000 00000011 111 0

Query 2


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 10 1 0000

1.6 시험방법 및 기대반응

① 첫번째 Query 명령(Query 1)을 전송

o Setting: All (Sel: 00), S0 (Session: 00), A (Target: 0)

→ DUT(태그) 응답은 RN16 이어야 함

② Select 명령으로 Session 및 Inventoried flag 값을 변경

o Setting: S2 (Target: 010), B (Action: 100)

→ DUT(태그)는 Select 명령에는 응답하지 않아야 됨

③ 두번째 Query 명령(Query 2)을 전송

o Setting: All (Sel: 00), S2 (Session: 10), B (Target: 1)

→ DUT(태그) 응답은 RN16 이어야 함

[TC_T_02] REPLY => ACKNOWLEDGED

TC_T_02

1.1 시 험 명: Reply → Acknowledged 상태 천이

1.2 시험목적: Valid ACK 명령 전송으로 DUT(태그)의 Reply → Acknowledged 상태 천이가 정상적으

로 처리되는지를 확인


Ready


Reply

Acknowledged

CMD: ACK[valid RN16]Reply: PC, UII, CRC-16


Arbitrate

CMD: ACK[invalid RN16]Reply: None

Ready


Reply

Acknowledged



Arbitrate

CMD: ACK[invalid RN16]Reply: None


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16

ACK (with valid RN16)

PC, UII, CRC-16

CW

ACK (with invalid RN16)

No response

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16

ACK (with valid RN16)

PC, UII, CRC-16

CW

ACK (with invalid RN16)

No response

시험 ID


Query


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16

description 01 Echoed RN16


① Ready → Reply 상태 천이 확인 o Query 명령(Query)에 대한 DUT(태그) 응답은 RN16 이어야 함 o Setting: All (Sel: 00), S0 (Session: 00), A (Target: 0)

② Reply → Acknowledged 상태 천이 확인 o Valid ACK 명령 전송에 대한 DUT(태그) 응답은 PC, UII, CRC-16 이어야 함 o Invalid ACK 명령 전송에 대한 DUT(태그) 응답이 없어야 함

[TC_T_03] REPLY => ARBITRATE (T2 시간초과 후)

TC_T_03

1.1 시 험 명: T2 시간초과로 인한 Reply → Arbitrate 상태 천이

1.2 시험목적: Reply 상태에서 T2 초과시간 동안 송신명령이 없을 때 DUT(태그)의 Reply →

Arbitrate 상태 천이가 정상적으로 처리되는지를 확인


Ready


Reply

CMD: Query[Q=0]Reply: RN16Arbitrate

CMD: None (T2>20.0Tpri)Reply: None

Ready


Reply

CMD: Query[Q=0]Reply: RN16Arbitrate

CMD: None (T2>20.0Tpri)Reply: None


CW

CW (if T2>20.0Tpri)

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16

No response

ACK (with valid RN16 )

CW

CW (if T2>20.0Tpri)

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16

No response


시험 ID


Query


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16



① Ready → Reply 상태 천이 확인

o Query 명령에 대한 DUT(태그) 응답은 RN16 이어야 함

o Setting: All (Sel: 00), S0 (Session: 00), A (Target: 0)

② Reply 상태에서 T2 초과시간 동안 송신명령이 없을 때 DUT(태그)의 Reply → Arbitrate 상태

천이가 정상적으로 처리되는지를 확인

o T2 시간초과 후 Valid ACK 명령에 대한 DUT(태그) 응답은 없어야 함

[TC_T_04] ACKNOWLEDGED => OPEN

TC_T_04

1.1 시 험 명: Acknowledged → Open 상태 천이

1.2 시험목적: DUT(태그)의 Acknowledged → Open 상태 천이가 정상적으로 처리되는지를 확인하고

Open 상태 구현 점검


Ready

Power-up & non-killed

Reply

Acknowledged



Open

CMD: Req_RN [valid RN16] & [access password<>0]

Reply: handle

I.C) Access password of DUT <> 0Ready


Reply

Acknowledged



Open


Reply: handle

Ready


Reply

Acknowledged



Open


Reply: handle

I.C) Access password of DUT <> 0


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN (with valid RN16 )

handle

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16


PC, UII, CRC-16

CW


handle

시험 ID


Query


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16


Req_RN

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16

description 11000001 Prior RN16


① DUT 태그의 access password <> 0 으로 설정하였으므로 Acknowledged 상태에서 valid RN16

을 가진 Req_RN 명령 송신시 태그는 handle 을 반환해야 함

[TC_T_05] ACKNOWLEDGED => SECURED

TC_T_05

1.1 시 험 명: Acknowledged → Secured 상태 천이

1.2 시험목적: DUT(태그)의 Acknowledged → Secured 상태 천이가 정상적으로 처리되는지를 확인하

고 Secured 상태 구현 점검


Ready


Reply

Acknowledged



Secured

CMD: Req_RN [valid RN16] & [access password=0]

Reply: handle

I.C) Access password of DUT = 0

Kill password of DUT is locked

(pwd-read/write=1, permalock=0)Ready


Reply

Acknowledged



Secured


Reply: handle


Kill password of DUT is locked

(pwd-read/write=1, permalock=0)


CW

CW

Reference Tester Query

RN16


PC, UII, CRC-16

CW


handle

Read (with valid handle )

0, data, handle

CW

CW

CW


RN16


PC, UII, CRC-16

CW


handle

Read (with valid handle )

0, data, handle

CW

시험 ID


Query


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16


Req_RN

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Read


# of bits 8 2 8 8 16 5

description 11000010 00 00000000 00000010 handle


① 초기에 DUT 태그를 access password=0 으로 설정하였으므로 Acknowledged 상태에서 valid

RN16 을 가진 Req_RN 명령 송신시 태그는 handle로 응답하여야 함

② Lock Action filed setting: pwd-read/write=1, permalock=0

o Reference Tester가 reserved 메모리 뱅크의 locked kill password를 읽겠다는 Read 명령 전송

시, DUT인 태그는 0, data(32-bits kill password), handle 을 반환해야 됨

[TC_T_06] OPEN => SECURED

TC_T_06

1.1 시 험 명: Open → Secured 상태 천이

1.2 시험목적: DUT(태그)의 Open → Secured 상태 천이가 정상적으로 처리되는지를 확인하고

Secured 상태 구현 점검


Secured

CMD: Access [valid handle] & [valid access password]

Reply: handle

Ready


Reply

Acknowledged



Open


Reply: handle


UII memory bank of DUT is locked

(pwd-write=1, permalock=0)

Secured


Reply: handle

Ready


Reply

Acknowledged



Open


Reply: handle

Ready


Reply

Acknowledged



Open


Reply: handle


UII memory bank of DUT is locked

(pwd-write=1, permalock=0)

시험 ID


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16 (1)

ACK (with valid RN16 (1) )

PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

RN16 (2)

CW

Req_RN 2

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16 (1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

RN16 (2)

CW

Req_RN 2

handleCW

Access 1

RN16 (3)CW

Req_RN 3

handleCW

Access 2

RN16 (4)

CW

Req_RN 4

Write

0, handle, CRC-16

CW

Reference Tester

DUT(Tag)

handleCW

Access 1

RN16 (3)CW

Req_RN 3

handleCW

Access 2

RN16 (4)

CW

Req_RN 4

Write

0, handle, CRC-16

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


Query


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16


Req_RN 1

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Req_RN 2, 3, 4

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Access 1


# of bits 8 16 16 16

description 11000110 Access password [31:16] EXOR RN16 (2) handle

Access 2


# of bits 8 16 16 16


Write


# of bits 8 2 8 16 16 16

description 11000011 01 00000000 RN16 (4) EXOR

word to be written

handle


① Reference Tester 가 Open 상태에서 Access(with valid handle & valid access password) 명령 송출

시, DUT 인 태그는 Secured 상태로 천이되기 전 handle로 응답해야 함

② Lock Action filed setting: pwd-write=1, permalock=0

o Reference Tester가 초기의 locked EPC memory bank 에 새로운 데이터를 쓰겠다는 Write 명

령에, DUT인 태그는 20ms 이내에 0, handle, CRC-16 을 반환해야 됨

o 만일 20ms 이내에 태그응답이 없으면 리더는 태그의 handle을 포함하는 Req_RN 명령을

보내고 다시 Write 명령을 송출할 수 있음

[TC_T_07] OPEN => KILLED

TC_T_07

1.1 시 험 명: Open → Killed 상태 천이

1.2 시험목적: DUT(태그)의 Open → Killed 상태 천이가 정상적으로 처리되는지를 확인하고 Killed

상태 구현 점검


Killed

CMD: Kill [valid handle] & [valid nonzero kill password]

Reply: handle

Ready


Reply

Acknowledged



Open


Reply: handle


Kill password of DUT <> 0

Killed


Reply: handle

Ready


Reply

Acknowledged



Open


Reply: handle



시험 ID


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query 1

RN16 (1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query 1

RN16 (1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

handleCW

Kill 1

RN16 (3) CW

Req_RN 3

CW

Kill 2

CW

Query 2

Reference Tester

DUT(Tag)

handle

No response

handleCW

Kill 1

RN16 (3) CW

Req_RN 3

CW

Kill 2

CW

Query 2

Reference Tester

DUT(Tag)

handle

No response


Query 1


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16


Req_RN 1

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Req_RN 2, 3

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Kill 1


# of bits 8 16 3 16 16

description 11000100 kill password [31:16] EXOR RN16 (2) 000 handle

Tag reply to the Kill 1

Command RN16

# of bits 2 16

description handle

Kill 2


# of bits 8 16 3 16 16

description 11000100 Access password [15:0] EXOR RN16 (3) 000 handle

Tag reply to a successful Kill procedure

Header RN16 CRC-16

# of bits 1 16 16


Query 2


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 10 0 0000


① Reference Tester 가 Open 상태에서 Kill 1 (with valid handle & nonzero kill password) 명령 송출

시, DUT 인 태그는 handle, CRC-16 으로 응답해야 함

② Reference Tester 가 Open 상태에서 Kill 2 (with valid handle & nonzero kill password) 명령 송출

시, DUT 인 태그는 0, handle, CRC-16 으로 응답해야 함

③ Kill 2 명령에 대한 태그 응답 후, Reference Tester는 다시 Query 2 명령을 송출하고 이에 대

한 태그 응답은 1s후에도 없어야 함

[TC_T_08] SECURED => KILLED

TC_T_08

1.1 시 험 명: Secured → Killed 상태 천이

1.2 시험목적: DUT(태그)의 Secured → Killed 상태 천이가 정상적으로 처리되는지를 확인하고

Killed 상태 구현 점검


Killed


Reply: handle

Ready


Reply

Acknowledged


CMD: Query 1 [Q=0]Reply: RN16

Secured

CMD: Req_RN [valid RN16] & [access password = 0]

Reply: handle



Killed


Reply: handle

Ready


Reply

Acknowledged


CMD: Query 1 [Q=0]Reply: RN16

Secured


Reply: handle



시험 ID


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query 1

RN16 (1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query 1

RN16 (1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

handleCW

Kill 1

RN16 (3)CW

Req_RN 3

CW

Kill 2

Query 2

Reference Tester

DUT(Tag)

CW

No response

0, handle

handleCW

Kill 1

RN16 (3)CW

Req_RN 3

CW

Kill 2

Query 2

Reference Tester

DUT(Tag)

CW

No response

0, handle


Query 1, 2


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16


Req_RN 1

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Req_RN 2, 3

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Kill 1


# of bits 8 16 3 16 16



Command RN16

# of bits 2 16

description handle

Kill 2


# of bits 8 16 3 16 16


Tag reply to a successful Kill procedure

Header RN16 CRC-16

# of bits 1 16 16



① Reference Tester 가 Secured 상태에서 Kill 1 (with valid handle & nonzero kill password) 명령 송

출시, DUT 인 태그는 handle, CRC-16 으로 응답해야 함

② Reference Tester 가 Secured 상태에서 Kill 2 (with valid handle & nonzero kill password) 명 송출

시, DUT 인 태그는 0, handle, CRC-16 으로 응답해야 함

③ Kill 2 명령에 대한 태그 응답 후, Reference Tester는 다시 Query 2 명령을 송출하고 이에 대

한 태그 응답은 1s후에도 없어야 함

[TC_T_09] KILL PASSWORD 초기상태 (KILL PASSWORD = 0)

TC_T_09

1.1 시 험 명: Kill password 초기상태 (kill password = 0)

1.2 시험목적: DUT(태그)의 kill password 초기상태가 0 임을 확인


Secured

(Not killed)

CMD: Kill [valid handle] & [kill password = 0]

Reply: Error code

Ready


Reply

Acknowledged


CMD: Query 1[Q=0]Reply: RN16

Secured


Reply: handle

I.C) Access password = 0

Kill password = 0

Reply


Secured

(Not killed)

CMD: Kill [valid handle] & [kill password = 0]

Reply: Error code

Ready


Reply

Acknowledged



Secured


Reply: handle

I.C) Access password = 0

Kill password = 0

Reply


시험 ID


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query 1

RN16 (1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query 1

RN16 (1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

handleCW

Kill 1

RN16 (3) CW

Req_RN 3

CW

Kill 2

CW

Query 2

Reference Tester

DUT(Tag)

Error code

RN16 (4)

handleCW

Kill 1

RN16 (3) CW

Req_RN 3

CW

Kill 2

CW

Query 2

Reference Tester

DUT(Tag)

Error code

RN16 (4)


Query 1, 2


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16


Req_RN 1

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Req_RN 2, 3

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Kill 1


# of bits 8 16 3 16 16



Command RN16

# of bits 2 16

description handle

Kill 2


# of bits 8 16 3 16 16


Tag error reply format

Header Error code RN CRC-16

# of bits 1 8 16 16

description 1 Error code handle

Tag error codes

Error-Code Support Error Code Error-Code Name Error Description

000000002 Other error Catch-all for errors not covered by other codes

000000112 Memory overrun or

unsupported PC value

The specified memory location does not exist or the PC value is not supported by the Tag

000001002 Memory locked The specified memory location is locked and/or permalocked and is either not writeable or not readable.

Error-specific

000010112 Insufficient power The Tag has insufficient power to

perform the memory-write operation

Non-specific 000011112 Non-specific error

The Tag does not support error-specific codes


① DUT(태그)의 초기 kill password = 0 이므로 Secured 상태에서 Killed 상태 천이가 이루어지지

못하고 태그는 Error 응답해야 함 (Error code = 00h or 0Fh 이어야 함)

② Kill 명령 실패 후, 태그는 Secured 상태에 있으므로 Query 명령에 대하여 RN16 을 응답해

야 함

4.3 태그 메모리 관리

[TC_T_10] UII 길이 수정 후 PC 값 변경

TC_T_10

1.1 시 험 명: UII 길이 수정 후 PC 값 변경

1.2 시험목적: Unwritten DUT(태그)의 UII 메모리 뱅크에 데이터를 쓰고 난 후 PC 값이 변경됨을

확인


Ready


Reply

Acknowledged


I.C) Unprogrammed Tag

Length of UII memory bank = 0 word

Access password = 0

CMD: ACK[valid RN16]Reply: PC, CRC-16

Secured


Reply: handle

Reply

Acknowledged

CMD: Query[Q=0]Reply: new RN16


Secured

CMD: Write Reply: 0, handle

Ready


Reply

Acknowledged



Length of UII memory bank = 0 word

Access password = 0

CMD: ACK[valid RN16]Reply: PC, CRC-16

Secured


Reply: handle

Reply

Acknowledged

CMD: Query[Q=0]Reply: new RN16


Secured


시험 ID


DUT(Tag)

CW

CW


RN16(1)

ACK (with valid RN16(1) )

PC, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

Write 1

0, handle

CW

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

DUT(Tag)

CW

CW


RN16(1)


PC, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

Write 1

0, handle

CW

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

Reference Tester

DUT(Tag)

Query 2

RN16 (4)

CW


PC, UII, CRC-16

Write 2

0, handle

CW

CW

Req_RN 3

RN16 (3)

CW

Reference Tester

DUT(Tag)

Query 2

RN16 (4)

CW


PC, UII, CRC-16

Write 2

0, handle

CW

CW

Req_RN 3

RN16 (3)

CW


Query


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16


Req_RN 1

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Req_RN 2, 3

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Write1


# of bits 8 2 8 16 16 16


word to be written

handle

Write2


# of bits 8 2 8 16 16 16


word to be written

handle

Query 2


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 10 0 0000


① 초기에 Unprogrammed DUT(태그)를 사용하므로 Length of UII 메모리 뱅크 = 0 word 이어서

ACK 명령에 대한 DUT(태그) 응답은 PC, CRC-16 이고, 이때 PC 값을 확인함

② Write 명령으로 DUT(태그)의 EPC 메모리 뱅크에 데이터를 쓰고 변경된 처음 5비트의 PC

값을 확인하기 위하여, 다시 Query 2 명령을 보내고 Reply 상태로 천이시킨 후 ACK 명령

을 보내어 DUT(태그) 응답으로 PC, UII, CRC-16 을 받어 변경된 PC 값이 늘어난 2 words

값을 나타내는지 확인함

③ UII 메모리가 mCode를 사용하기 위한 용량을 지원하는지를 확인하기 위하여 ③과 같은 방

법으로 UII에 12words를 쓴 후 PC값의 처음 5비트를 확인함

[TC_T_11] KILL PASSWORD/ACCESS PASSWORD 구현

TC_T_11

1.1 시 험 명: Kill password/Access password 구현

1.2 시험목적: Reference Tester의 Write 명령에 의하여 Reserved 메모리 뱅크에 kill password/access

password 가 정상적으로 쓰여지는지 확인


Ready


Reply

Acknowledged



Access password/Kill password = 0


Secured


Reply: handle

Secured

Secured


CMD: Read [with valid handle]Reply: 0, data, handle

Ready


Reply

Acknowledged



Access password/Kill password = 0


Secured


Reply: handle

Secured

Secured


CMD: Read [with valid handle]Reply: 0, data, handle

시험 ID


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16(1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

Write 1( with valid RN16 (2))

0, handle

CW

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16(1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle


0, handle

CW

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

Reference Tester

DUT(Tag)


0, handle

CW

CW

Req_RN 3

RN16 (3)

Read ( with valid handle)

0, data, handle

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


0, handle

CW

CW

Req_RN 3

RN16 (3)

Read ( with valid handle)

0, data, handle

CW


Query


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16


Req_RN 1

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Req_RN 2, 3

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Write1


# of bits 8 2 8 16 16 16


word to be written

handle

Write2


# of bits 8 2 8 16 16 16


word to be written

handle

Read


# of bits 8 2 8 8 16 5



① Unprogrammed DUT(태그)의 Reserved 메모리 뱅크에 Write 명령으로 kill password/access

password 를 쓴 후 Read 명령(Membank=00) 으로 32bits(= 2 words)가 정상적으로 태그에 쓰

여졌는지 확인

[TC_T_12] UII/USER 메모리 영역 LOCK 기능 설정

TC_T_12

1.1 시 험 명: UII/USER 메모리 영역 Lock 기능 설정

1.2 시험목적: Reference Tester의 Lock 명령에 의하여 UII/USER 메모리 영역의 데이터가 Lock

Action-field 설정에 따라 정상적으로 잠금 상태(locked)가 되는지를 확인


Ready


Reply

Acknowledged


I.C) Kill password <> 0

Access password <> 0


Secured

CMD: Lock 1 [valid handle & lock payload](pwd-write=1, permalock=0)

Reply: 0, handle, CRC-16

Secured

CMD: Write 1Reply: 0, handle, CRC-16

Secured



Secured

CMD: Write 2Reply: 1, Error code, handle ,CRC-16

Secured

CMD: Read 1Reply: 0,Data, handle, CRC-16

Secured


Secured


Reply: handle

Open


Reply: handle

Ready


Reply

Acknowledged





Secured



Secured


Secured



Secured


Secured


Secured


Secured


Reply: handle

Open


Reply: handle

시험 ID


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16(1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

handleCW

Access 1

RN16 (3) CW

Req_RN 3

handle

CW

Access 2

RN16 (4)

CW

Req_RN 4

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16(1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

handleCW

Access 1

RN16 (3) CW

Req_RN 3

handle

CW

Access 2

RN16 (4)

CW

Req_RN 4

Reference Tester

DUT(Tag)


0, handle

CW

CW

Req_RN 5

RN16 (5)

Lock 1 ( with valid RN16 (4))

0, handle

CW


0, Error code, handle

CW

CW

Req_RN 8

RN16 (8)


0, handle

CW

CW

Req_RN 6

RN16 (6)

Read ( with valid RN16 (6))

0, Data, handle

CW

CW

Req_RN 7

RN16 (7)

CW

Req_RN 9

RN16 (9)


0, Data, handle

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


0, handle

CW

CW

Req_RN 5

RN16 (5)


0, handle

CW



CW

CW

Req_RN 8

RN16 (8)


0, handle

CW

CW

Req_RN 6

RN16 (6)


0, Data, handle

CW

CW

Req_RN 7

RN16 (7)

CW

Req_RN 9

RN16 (9)


0, Data, handle

CW


Query


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16


Req_RN 1

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Req_RN 2, 3, 4, 5, 6,7,8,9

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Lock 1


# of bits 8 20 16 16

description 11000101 00001100000000100000 handle

Write 1


# of bits 8 2 8 16 16 16


word to be written

handle

Read 1


# of bits 8 2 8 8 16 5


Lock 2


# of bits 8 20 16 16


Write 2


# of bits 8 2 8 16 16 16


word to be written

handle

Read 2


# of bits 8 2 8 8 16 5



① Lock 1 명령에 의해 태그의 UII의 메모리 영역의 데이터가 정상적으로 Lock 설정이 되었

는지를 확인하기 위해 Write 1 명령을 보낸 후 Read 1 명령을 보내어 쓰기 동작 확인: pwd-

write=1, permalock=0 (Under Secured 상태에서만 Writeable)

② Lock 2 명령에 의해 태그의 UII 메모리 영역의 데이터가 정상적으로 Lock 설정 되었는지

를 확인하기 위해 Write 2 명령을 보낸 후 Error code가 반환됨을 확인: pwd-write=1,

permalock=1 (Under Secured 상태에서도 unwriteable)

③ Read 2 명령을 보내어 UII 메모리 정보 읽기 가능 확인

④ USER 메모리 영역에 대하여도 , , 의 과정을 반복한다.

[TC_T_13] KILL PASSWORD/ACCESS PASSWORD LOCK 기능 설정

TC_T_13

1.1 시 험 명: Kill password/Access password Lock 기능 설정

1.2 시험목적: Reference Tester의 Lock 명령에 의하여 Reserved 메모리 영역의 Kill password/Access

password 가 Lock Action-field 설정에 따라 정상적으로 잠금 상태(locked)가 되는지를

확인


Ready


Reply

Acknowledged





Secured



Secured


Secured



Secured


Secured


Secured

CMD: Read 2Reply: 0, Error code, handle, CRC-16

Secured


Reply: handle

Open


Reply: handle

Ready


Reply

Acknowledged





Secured



Secured


Secured



Secured


Secured


Secured

CMD: Read 2Reply: 0, Error code, handle, CRC-16

Secured


Reply: handle

Open


Reply: handle

시험 ID


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16(1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

handleCW

Access 1

RN16 (3)CW

Req_RN 3

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)Query

RN16(1)


PC, UII, CRC-16

CW

Req_RN 1

handle

CW

Req_RN 2

RN16 (2)

handleCW

Access 1

RN16 (3)CW

Req_RN 3

Reference Tester

DUT(Tag)


0, handle

CW

CW

Req_RN 6

RN16 (6)


0, handle

CW



CW

CW

Req_RN 9

RN16 (9)


0, handle

CW

CW

Req_RN 7

RN16 (7)

Read 1 ( with valid RN16 (7))

0, Data, handle

CW

CW

Req_RN 8

RN16 (8)

CW

Req_RN 10

RN16 (10)



CW

handle

CW

Access 2

RN16 (4)

CW

Req_RN 4

RN16 (5)

CW

Req_RN 5

Reference Tester

DUT(Tag)


0, handle

CW

CW

Req_RN 6

RN16 (6)


0, handle

CW



CW

CW

Req_RN 9

RN16 (9)


0, handle

CW

CW

Req_RN 7

RN16 (7)


0, Data, handle

CW

CW

Req_RN 8

RN16 (8)

CW

Req_RN 10

RN16 (10)



CW

handle

CW

Access 2

RN16 (4)

CW

Req_RN 4

RN16 (5)

CW

Req_RN 5


Query


# of bits 4 1 2 1 2 2 1 4 5

description 1000 0 00 0 00 00 0 0000

ACK

Command RN16

# of bits 2 16


Req_RN 1

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Req_RN 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10

Command RN16 CRC-16

# of bits 8 16 16


Access 1


# of bits 8 16 16 16


Access 2


# of bits 8 16 16 16


Lock 1


# of bits 8 20 16 16


Write 1


# of bits 8 2 8 16 16 16


word to be written

handle

Read 1


# of bits 8 2 8 8 16 5


Lock 2


# of bits 8 20 16 16


Write 2


# of bits 8 2 8 16 16 16


word to be written

handle

Read 2


# of bits 8 2 8 8 16 5



① Lock 1 명령에 의해 태그의 Reserved 메모리 영역의 Kill password 가 정상적으로 Lock 설

정이 되었는지를 확인하기 위해 Write 1 명령을 보낸 후 Read 1 명령을 확인: pwd-write=1,

permalock=0 (Under Secured 상태에서만 writeable and readable)

② Lock 2 명령에 의해 태그의 Reserved 메모리 영역의 Kill password 가 정상적으로 Lock 설

정 되었는지를 확인하기 위해 Write 2 명령을 보낸 후 Error code가 반환됨을 확인: pwd-

write=1, permalock=1 (Under Secured 상태에서도 unwriteable and unreadable)

③ Read 2 명령을 보내어 역시 Error code가 반환됨을 확인 (Under Secured 상태에서도

unwriteable and unreadable)

④ Access password 에 대하여도 , , 의 과정을 반복한다.

4.4 리더 주요 기능

[TC_R_14] 데이터읽기

TC_R_14

1.1 시 험 명: 데이터 읽기

1.2 시험목적: 시험대상장비인 리더가 읽기(Read) 명령에 의하여 Reference Tester인 태그의 각 메모

리 뱅크의 데이터 또는 Password 를 정상적으로 읽어오는지를 확인

1.3 시험진행 순서도

START

Print “Error”

Send Read

Wait for {02,Data,handle,crc-16}

within T1

CRC Error or Timeout?

Y

N

END

I.C) Access password <> 0STARTSTART

Print “Error”Print “Error”

Send Read

Wait for {02,Data,handle,crc-16}

within T1

CRC Error or Timeout?

Y

N

ENDEND

I.C) Access password <> 0


① 초기에 기준장비인 태그의 Reserved 메모리 영역 또는 User 메모리 영역에 임의의 데이터

를 쓰고 Lock 기능을 설정함

② 시험대상 장비인 리더는 Read 명령을 보내고 태그의 각 메모리 영역에 쓰여져 있던 데이

터 또는 Password (Access password/Kill password) 를 정상적으로 읽어오는지를 확인

5. ISO 18000-6 Type B 시험 절차

시험 ID

5.1 시험 환경 및 조건

5.1.1 시험 환경

o 온도(23˚C+/-5˚C), 정상 동작 전압

5.1.2 시험 조건

5.2 SELECTION 기능

[TC_T_01] SELECTION 명령에 의한 READY 상태 => ID 상태 (or READY 상태)

TC_T_01

1.1 시 험 명: Selection 명령에 의한 Ready 상태 => ID 상태 (or Ready 상태)

1.2 시험목적: Tester로부터 송출된 각각의 Selection 명령에 따라, DUT(태그)가 Ready 상태에서 ID

상태 (or Ready 상태)로 적합하게 상태천이를 하는지 점검


Select

READY I D

Select

READY I D

1.4 관련명령 및 시험조건

Tester(명령 송신) DUT(Tag)

명령 파라미터 조건 Action/다음상태

Memory contents = WORD_DATA UID 반환/ID GROUP_SELECT_EQ Memory contents ≠ WORD_DATA No reply/Ready Memory contents = WORD_DATA No reply/Ready

GROUP_SELECT_NE Memory contents ≠ WORD_DATA UID반환/ID

Memory contents > WORD_DATA UID 반환/ID GROUP_SELECT_GT Memory contents ≤ WORD_DATA No reply/Ready

Memory contents < WORD_DATA UID 반환/ID GROUP_SELECT_LT

Memory contents ≥ WORD_DATA No reply/Ready

FLAGS = BYTE_DATA UID 반환/ID GROUP_SELECT_EQ_FALGS FLAGS ≠ BYTE_DATA No reply/Ready

FLAGS = BYTE_DATA No reply/Ready GROUP_SELECT_NQ_FLGS

FLAGS ≠ BYTE_DATA UID 반환/ID

[표1] Ready 상태에서 Selection 명령에 의한 상태 천이

시험 ID

1. 5 시험절차 흐름도

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)

No Reply

Ready

Ready

UID(64bits)

GROUP_SELECT_EQ,NE,GT,LT,EQ_FLAGS,NQ_FLAGS (comparison success)

GROUP_SELECT_EQ,NE,GT,LT,EQ_FLAGS,NQ_FLAGS (comparison fail)

ID

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)

No Reply

Ready

Ready

UID(64bits)


GROUP_SELECT_EQ,NE,GT,LT,EQ_FLAGS,NQ_FLAGS (comparison fail)

ID

1.6 시험절차 및 기대반응

① DUT(태그)는 Power-on 시 Ready 상태에 있게 되고, Tester는 태그 메모리 정보(64 bits)와

FLAGS(8 bits) 정보를 미리 알고 있음

② 메모리 정보와 WORD_DATA가 SELECT 명령의 비교 조건을 만족시킬 때, Ready 상태의

DUT(태그)는 8-byte UID를 반환하고 ID 상태로 천이됨을 확인

③ 메모리 정보와 WORD_DATA가 SELECT 명령의 비교 조건을 만족시키지 못할 때, Ready

상태의 DUT(태그)는 아무런 응답도 하지 않고 Ready 상태로 있음을 확인

④ FLAGS 정보와 BYTE_DATA가 SELECT 명령의 비교 조건을 만족시킬 때, READY 상태의

DUT(태그)는 8-byte UID를 반환하고 ID 상태로 천이됨을 확인

⑤ FLAGS 정보와 BYTE_DATA가 SELECT 명령의 비교 조건을 만족시키지 못할 때, Ready 상

태의 DUT(태그)는 아무런 응답도 하지 않고 Ready 상태로 있음을 확인

[TC_T_02] SELECTION 명령에 의한 ID 상태 => READY 상태 (or ID 상태)

TC_T_02

1.1 시 험 명: Selection 명령에 의한 ID 상태 => Ready 상태 (or ID 상태)

1.2 시험목적: Tester로부터 송출된 각각의 Selection 명령에 따라, DUT(태그)가 ID 상태에서 Ready

상태 (or ID 상태)로 적합하게 상태천이를 하는지 점검


READY I D

Unselect

READY I D

Unselect

1.4 관련명령 및 시험조건

Tester(명령 송신) DUT(Tag)

명령 파라미터 조건 Action/다음상태

Memory contents = WORD_DATA No reply/Ready GROUP_UNSELECT_EQ

Memory contents ≠ WORD_DATA UID 반환/ID

Memory contents = WORD_DATA UID반환/ID GROUP_UNSELECT_NE Memory contents ≠ WORD_DATA No reply/Ready Memory contents > WORD_DATA No reply/Ready

GROUP_UNSELECT_GT Memory contents ≤ WORD_DATA UID 반환/ID

Memory contents < WORD_DATA No reply/Ready GROUP_UNSELECT_LT

Memory contents ≥ WORD_DATA UID 반환/ID

FLAGS = BYTE_DATA No reply/Ready GROUP_UNSELECT_EQ_FALGS FLAGS ≠ BYTE_DATA UID 반환/ID

FLAGS = BYTE_DATA UID 반환/ID GROUP_UNSELECT_NQ_FLGS FLAGS ≠ BYTE_DATA No reply/Ready

[표2] ID 상태에서 Selection 명령에 의한 상태 천이

시험 ID


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)

GROUP_SELECT_EQ (comparison success)

UID(64bits)

Ready

ID

GROUP_UNSELECT_EQ,NE,GT,LT,EQ_FLAGS,NQ_FLAGS (comparison fail)

UID(64bits)

CW

GROUP_UNSELECT_EQ,NE,GT,LT,EQ_FLAGS,NQ_FLAGS (comparison success)

No Reply

ID

Ready

CW


UID(64bits)

ID

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

GROUP_UNSELECT_EQ,NE,GT,LT,EQ_FLAGS,NQ_FLAGS (comparison fail)

UID(64bits)

CW

GROUP_UNSELECT_EQ,NE,GT,LT,EQ_FLAGS,NQ_FLAGS (comparison success)

No Reply

ID

Ready

CW


UID(64bits)

ID


① Tester는 태그 메모리 정보(64 bits)와 FLAGS(8 bits) 정보를 미리 알고 있음

② ID 상태의 태그는 비교조건을 만족시키는 SELECT 명령을 받았을 때, UID를 반환하고 ID

상태를 유지함을 확인

③ 메모리 정보와 WORD_DATA가 UNSELECT 명령의 비교 조건을 만족시키지 못할 때, ID

상태의 DUT(태그)는 8-byte UID를 반환하고 ID 상태로 있음을 확인

④ 메모리 정보와 WORD_DATA가 UNSELECT 명령의 비교 조건을 만족시킬 때, ID 상태의

DUT(태그)는 아무런 응답도 하지 않고 Ready 상태로 천이됨을 확인

⑤ FLAGS 정보와 BYTE_DATA가 UNSELECT 명령의 비교 조건을 만족시킬 때, ID 상태의

DUT(태그) 아무런 응답도 하지 않고 Ready 상태로 천이됨을 확인

⑥ FLAGS 정보와 BYTE_DATA가 UNSELECT 명령의 비교 조건을 만족시키지 못할 때, ID 상

태의 DUT(태그)는 8-byte UID를 반환하고 ID 상태로 있음을 확인

5.3 DATA TRANSFER 기능

[TC_T_03] 태그정보 읽기

TC_T_03

1.1 시 험 명: 태그정보 읽기

1.2 시험목적: Tester로부터 송출된 각각의 읽기(Read) 명령에 따라, DUT(태그)에 기록된 데이터가

정상적으로 응답할 수 있는지 점검


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

CW

DATA_READ(ID, Address#1)

WORD_DATA 1(64bits)

READ(ID, Address#2)

WORD_DATA 2(64bits)

READ_FLAGS(ID)

BYTE_DATA(8bits)

CW

READ_VARIABLE(ID, Address#, Length)

Length*BYTE_DATE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

CW


WORD_DATA 1(64bits)

READ(ID, Address#2)

WORD_DATA 2(64bits)

READ_FLAGS(ID)

BYTE_DATA(8bits)

CW


Length*BYTE_DATE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

시험 ID


① DUT(태그)는 FLAGS, Address #1, Address #2 에 정보를 미리 가지고 Tester는 태그 메모리 정

보(64 bits)와 FLAGS(8 bits) 정보를 미리 알고 있음

② Tester에서 DATA_READ, READ, READ_VARIABLE, READ_FLAGS 명령을 송출하고 이에 대

한 DUT(태그) 응답이 적절한지 확인

③ Tester가 DATA_READ 명령을 송출한 후, 이에 대한 응답으로 DUT(태그)의 Address #1에서

시작하는 64bits WORD_DATA 가 발생하는지 확인

④ Tester가 READ 명령을 송출한 후, 이에 대한 응답으로 DUT(태그)의 Address #2에서 시작하

는 64bits WORD_DATA 가 발생하는지 확인

⑤ Tester가 DATA_FLAGS 명령을 송출한 후, 이에 대한 응답으로 DUT(태그)로부터8bits

BYTE_DATA 가 발생하는지 확인

⑥ Tester에서 Address #와 Length를 설정한 상태로 READ_VARIABLE 명령을 송출한 후, 이에

대한 응답으로 DUT(태그)의 Address #에서 Length*BYTE_DATA 가 발생하는지 확인

[TC_T_04] 태그정보 잠금

TC_T_04

1.1 시 험 명: 태그정보 잠금

1.2 시험목적: Tester에서 잠금 명령을 송출한 후, DUT(태그)의 데이터가 정상적으로 잠금(Locked)

되었는지 점검.


o 메모리 Lockable 상태와 Unlockable 2가지 조건에서 시험

가. 메모리 Lockable

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

CW


WORD_DATA(64bits)

LOCK(ID, Address#1)

ACKNOWLEDGE(8bits)

QUERY_LOCK(ID, Address#1)

ERROR_OK(FFh)

Byte at Address #1 is marked as lockable (not locked)

Byte at Address #1 is locked and WRITE_OK is set

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

CW


WORD_DATA(64bits)

LOCK(ID, Address#1)

ACKNOWLEDGE(8bits)


ERROR_OK(FFh)



시험 ID

나. 메모리 Unlockable

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

CW


WORD_DATA(64bits)

LOCK(ID, Address#1)

ACKNOWLEDGE(8bits)


ERROR_NOK(FEh)



CW

LOCK(ID, Address#1)

ERROR(FFh)

Byte at Address #1 is not lockable(Locking is no longer possible because it has already locked and WRITE_OK cleared)

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

CW


WORD_DATA(64bits)

LOCK(ID, Address#1)

ACKNOWLEDGE(8bits)


ERROR_NOK(FEh)



CW

LOCK(ID, Address#1)

ERROR(FFh)

Byte at Address #1 is not lockable(Locking is no longer possible because it has already locked and WRITE_OK cleared)


가. 메모리 Lockable

① DUT(태그)의 Address #1 byte를 Locking 시키기 위해 Tester에서 LOCK 명령을 송출하고,

이에 대한 응답으로 DUT(태그)로부터 ACKNOWLEDGE 응답이 발생하는지 확인

② DUT(태그)가 정상적으로 Locked 되었는지를 확인하기 위하여 Tester에서

QUERY_LOCK 명령을 송출하고, 이에 대한 응답으로 DUT(태그)가 ERROR_OK를 발

생시키는지 확인

나. 메모리 Unlockable

① DUT(태그)의 Address #1 byte를 Locking 시키기 위해 Tester에서 LOCK 명령을 송출하고,

이에 대한 응답으로 DUT(태그)로부터 ACKNOWLEDGE 응답이 발생하는지 확인

② Tester는 DUT(태그)의 Address #1 byte를 Locking 시키기 위해 LOCK 명령을 다시 송출

하고, 이에 대한 응답이 ERROR 인지를 확인

③ DUT(태그)의 Address #1 byte의 locking 상태를 확인하기 위해 Tester에서 QUERY_LOCK

명령을 송출하고, 이에 대한 DUT(태그) 응답이 ERROR_NOK 임을 확인

[TC_T_05] 태그정보 쓰기

TC_T_05

1.1 시 험 명: 태그정보 쓰기

1.2 시험목적: Tester로부터 송출된 각각의 쓰기(Write) 명령에 따라, DUT(태그)에 데이터가 정상적

으로 쓰여지는지 점검


o 태그 메모리 Locked 상태와 Unlocked 상태에서 시험

가. Unlocked 메모리

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

CW

WRITE(ID, Address#1, BYTE_MASK)

READ1 (ID, Address#1)

CW

WRITE4BYTE(ID, Address#2, BYTE_MASK, Data)

ACKNOWLEDGE(8bits)

WORD_DATA(64bits)

ACKNOWLEDGE(8bits)


WORD_DATA(64bits)

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

CW



CW


ACKNOWLEDGE(8bits)

WORD_DATA(64bits)

ACKNOWLEDGE(8bits)


WORD_DATA(64bits)

시험 ID

나. .Unlocked 메모리

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

CW



CW


WORD_DATA(64bits)


WORD_DATA(64bits)

ERROR(FFh)

ERROR(FFh)

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

CW



CW


WORD_DATA(64bits)


WORD_DATA(64bits)

ERROR(FFh)

ERROR(FFh)


가. Under unlocked 메모리

① 처음에 DUT(태그) 메모리를 Unlocked 상태로 시험

② Address #1 메모리 갱신을 위해 Tester에서 WRITE 명령을 송출한 후, 이에 대한 응답으

로 DUT(태그)가 ACKNOWLEDGE를 반환함을 확인

③ 메모리 갱신을 확인하기 위해 Tester에서 READ 명령을 송출한 후 DUT(태그) 응답을

확인

④ Address #2 메모리 갱신을 위해 Tester에서 WRTE4BYTE 명령을 송출한 후, 이에 대한

응답으로 DUT(태그)가 ACKNOWLEDGE를 반환함을 확인

⑤ 메모리 갱신을 확인하기 위해 Tester에서 READ 명령을 송출한 후 DUT(태그) 의

Address #4부터 4 bytes 응답을 확인

나. Under locked 메모리

① 처음에 DUT(태그) 메모리를 Unlocked 상태로 시험

② Address #1 메모리 갱신을 위해 Tester에서 WRITE 명령을 송출한 후, 이에 대한 응답으

로 DUT(태그)가 ERROR를 반환함을 확인

③ 메모리 갱신을 확인하기 위해 Tester에서 READ 명령을 송출한 후 DUT(태그)의

Address #1 정보가 갱신되지 않음을 확인

④ Address #2 메모리 갱신을 위해 Tester에서 WRTE4BYTE 명령을 송출한 후, 이에 대한

응답으로 DUT(태그)가 ERROR를 반환함을 확인

⑤ 메모리 갱신을 확인하기 위해 Tester에서 READ 명령을 송출한 후 DUT(태그) 의

Address #4부터 4 bytes 정보가 갱신되지 않음을 확인

5.4 리더 주요 기능

[TC_T_06] READ 명령 수행

TC_T_06

1.1 시 험 명: Read 명령 수행

1.2 시험목적: DUT(리더)가 읽기(Read) 명령에 의하여 Reference Tester인 태그의 메모리에서 데이터

를 정상적으로 읽어오는지를 확인


CW

CW

Reference Tester

DUT(Reader)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

CW


WORD_DATA 1(64bits)

READ(ID, Address#2)

WORD_DATA 2(64bits)

READ_FLAGS(ID)

BYTE_DATA(8bits)

CW


Length*BYTE_DATE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

CW

CW

Reference Tester

DUT(Reader)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

CW


WORD_DATA 1(64bits)

READ(ID, Address#2)

WORD_DATA 2(64bits)

READ_FLAGS(ID)

BYTE_DATA(8bits)

CW


Length*BYTE_DATE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

시험 ID


① Tester는 FLAGS, Address #1, Address #2 에 정보를 미리 가지고 있고 Lock 기능을 설정함

② DUT(리더)에서 DATA_READ 명령을 송출한 후, 이에 대한 응답으로 Tester의 Address #1에

서 시작하는 64bits WORD_DATA 가 발생하는지 확인

③ DUT(리더)에서 READ 명령을 송출한 후, 이에 대한 응답으로 Tester의 Address #2에서 시작

하는 64bits WORD_DATA 가 발생하는지 확인

④ DUT(리더)에서 DATA_FLAGS 명령을 송출한 후, 이에 대한 응답으로 Tester로부터 8bits

BYTE_DATA 가 발생하는지 확인

⑤ DUT(리더)에서 Address #와 Length를 설정한 상태로 READ_VARIABLE 명령을 송출한 후,

이에 대한 응답으로 Tester의 Address #에서 Length*BYTE_DATA 가 발생하는지 확인

5.5 복수 태그 인식

[TC_T_07] FAIL 명령 및 SUCCESS 명령 수행

TC_T_07

1.1 시 험 명: Fail 명령 및 SUCCESS 명령 수행

1.2 시험목적: 리더는 Fail 명령과 Success 명령을 사용함으로써 순차적으로 복수 태그 인식이 가

능함을 확인


CW

CW

Reference

TesterDUT(Reader)


복수개의 UID(64bits)

Ready

CW

CW

FAIL


1개의 UID(64bits)

DATA_READ 1

WORD_DATA 1(64bits)

CW

SUCCESS 1


FAIL

CW

CW

1개의 UID(64bits)

DATA_READ 2

WORD_DATA 2(64bits)

SUCCESS 2

FAIL

CW

SUCCESS N-1

1개의 UID(64bits)

CW

DATA_READ N

WORD_DATA N(64bits)

1개의 ID 응답할때까지 FAIL

명령 반복

Collision detected

CW

CW

Reference

TesterDUT(Reader)



Ready

CW

CW

FAIL


1개의 UID(64bits)

DATA_READ 1

WORD_DATA 1(64bits)

CW

SUCCESS 1


FAIL

CW

CW

1개의 UID(64bits)

DATA_READ 2

WORD_DATA 2(64bits)

SUCCESS 2

FAIL

CW

SUCCESS N-1

1개의 UID(64bits)

CW

DATA_READ N

WORD_DATA N(64bits)

1개의 ID 응답할때까지 FAIL

명령 반복

Collision detected

시험 ID


① Tester는 복수개의 태그를 설정

② 리더에서 GROUP_SELECT_EQ(with BYTE_MASK=00h) 명령을 송신함. 이때 Tester는 N개

태그들의 COUNT를 0으로 설정하여 복수개의 태그들이 UID를 응답하게 함

③ DUT(리더)는 Collision을 감지하고 하나의 태그만이 인식될 때까지 FAIL 명령을 송출함.

DUT(리더)는 UID를 반환한 태그에게 DATA_READ 명령을 보내어 UII 정보를 확인함

④ 첫번째 태그의 UII 정보 확인 후, DUT(리더)는 SUCCESS 명령을 보내어 나머지 태그들의

UID 응답을 다시 확인함. ③과 동일하게 복수개의 태그 응답시 FAIL 명령을 반복 사용함

⑤ 위의 ③, ④ 과정을 반복하여 N번째 태그까지 인식하여 메모리 정보를 확인함

[TC_T_08] RESEND 명령 수행

TC_T_08

1.1 시 험 명: Resend 명령 수행

1.2 시험목적: DUT(리더)는 인식된 태그가 Error가 포함된 UID를 반환할 때, RESEND 명령을 송출

하여 UID를 다시 요구함을 확인


CW

Reference Tester

DUT(Reader)


UID(64bits with error)

Ready

ID

CW

RESEND

UID(64bits) ID

CW

Reference Tester

DUT(Reader)


UID(64bits with error)

Ready

ID

CW

RESEND

UID(64bits) ID


① Tester는 GROUP_SELECT_EQ 명령에 대하여, Error가 포함된 UID로 응답함

② DUT(리더)는 Error가 포함된 UID를 응답할 때, RESEND 명령을 송출할 수 있어야 함

③ DUT(리더)의 RESEND 명령에 대해, ID 상태의 Tester는 COUNT 값이 0일 때 UID를 반환함

시험 ID

[TC_T_09] INITIALIZE 명령 수행

TC_T_09

1.1 시 험 명: Initialize 명령 수행

1.2 시험목적: DUT(태그)는 Tester로부터 INITIALIZE 명령을 받으면 READY 상태로 천이되고

Data_Exchange_Status_Bit 가 reset됨을 확인


CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

CW


WORD_DATA 1(64bits)

INITIALIZE

READ_FLAGS(ID)

BYTE_DATA(8bits)

Ready

CW

CW

Reference Tester

DUT(Tag)


UID(64bits)

Ready

ID

CW

DATA_EXCHANGE

DATA_EXCHANGE

CW


WORD_DATA 1(64bits)

INITIALIZE

READ_FLAGS(ID)

BYTE_DATA(8bits)

Ready


① DUT(태그)는 DATA_EXCHANGE 상태에서 Tester로부터 INITIALIZE 명령을 받으면, 어떤

응답도 하지 않음을 확인

② INITIALIZE 명령을 받은 DUT(태그)의 Data_Exchange_Status_Bit가 Reset됨을 확인하기 위하

여, Tester는 READ_FLAGS 명령을 송출하여 FLAGS 정보를 읽어 확인

시험 ID