Source Imaging Goniometer (SIG) 近場光源量測系統
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Source Imaging Goniometer (SIG) 近場光源量測系統. 洪瑞華 教授 中興大學 精密工程研. NCHU, Institute of Precision Engineering. OUTLINES. 設備廠牌 設備規格 儀器原理功能 設備聯絡人與放置地點 服務項目與收費標準. 儀器之廠牌. 廠牌 :RADIANT 型號 :SIG400. 諮詢教授 : 洪瑞華 教授 ｜ TEL:886-4- 22840531ext361 ｜. SIG--- 設備規格. 1.Computer System Specifications. - PowerPoint PPT Presentation
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Source Imaging Goniometer(SIG)近場光源量測系統
NCHU, Institute of Precision Engineering
洪瑞華 教授中興大學 精密工程研
OUTLINES 設備廠牌 設備規格 儀器原理功能 設備聯絡人與放置地點 服務項目與收費標準
儀器之廠牌
廠牌 :RADIANT型號 :SIG400
諮詢教授 : 洪瑞華 教授 ｜ TEL:886-4-22840531ext361 ｜
SIG--- 設備規格Processor: Pentium 4 @ 3.0 GHz or equivalent
Memory (RAM): 1GB or better
Hard Disk Storage: 100GB or better
Interface: Ethernet(1),Serial(1),USB2.0(1)
Operating System: Win XP or Visa
Video Resolution: SXGA(1280X1024) or better
1.Computer System Specifications
Weight(Including stand) Length(cm) Width(cm) Height(cm)
SIG 4001180kg:160kg(not including stand)
70 56 125
2.SIG Physical Specifications
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SIG--- 設備規格Magnification Field of View (mm)
50 mm 0.2X
24 mm 0.4X
12mm 0.82X
7mm 1.4X
4mm 2.5X
2mm 5X
0.5mm 20X
3.SIG 400 Lens Specifications
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The SIG is capable of capturing calibrated color images of a light source from all. As many as 2000 images are captured for each light source.
SIG--- 量測原理方式
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These images, along with the illuminance data and alignment and calibration information, are compressed and stored in database. The data to determine the exact location on the light source from which the light is emanating (near-field distribution),which direction the light is going (angular distribution), the intensity of the light at each angle (far-field distribution) .
SIG---功能
1.Bitmap Tool 5.3D Iso-Plot
2.Cross-Section Tool
6.Chromaticity Chart
3.Histogram Tool
7.Chromaticity List Chart
4.2D Iso-Plot 8.Model Viewer
Analysis Tools:
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SIG--- 功能Analysis :
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諮詢教授 : 洪瑞華 教授 ｜ TEL:886-4-22840531ext361 ｜
SIG--- 收費標準聯絡人：許鳳玲電話： 04-22840500 轉 707地址：402 台中市南區國光路 250 號 精密工程研究所 儀器服務須知- 自收件日開始一週後交件
服務項目 試片 SIG量測
收費標準
1. 營利事業 ( 校外 ) ： 25000元 / 次2. 非營利事業 ( 校外 ) ： 15000 元/ 次3. 校內單位： 10000/ 次( 上述時間包含系統及電腦開關、 sample loading 等，一次量測花費時間約 6hr)
設備建構日期 : 2013年 11月
服務項目 樣品準備須知
服務申請流程
1. 試片的SIZE( 長 度不可超過50mm)2. 試片規格 ( 驅動 電流、 CIE 座標、 照度 Lux)
試片各角度量測分析
填寫請表 申請 填寫約表 使用
精密所網頁下載設備申請書，填寫資料並完成簽章後交付洪瑞華教授
諮詢教授 : 洪瑞華 教授 ｜ TEL:886-4-22840531ext361 ｜
