Interferometro de Michelson

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Práctica 4 Práctica 4. Interferómetro de Michelson 1.- OBJETIVOS - Estudiar una de las propiedades ondulatorias de la luz, la interferencia. - Aplicar los conocimientos para la medida (interferometría) de longitudes de onda o distancias. 2.- MATERIAL - Interferómetro. - Fuente de luz (láser, lámpara espectral) - Lente de distancia focal corta para expandir el haz. - Dispositivo para realizar vacío y medir presiones. 3.- FUNDAMENTO TEÓRICO Un rayo de luz es una onda electromagnética, de campos E y B variables. Cuando dos rayos de luz se encuentran, los campos se superponen, y en cada punto del espacio el vector E o B será la suma vectorial de los campos de los rayos individuales. Si los dos haces de luz provienen de fuentes distintas, en general no hay relación constante entre los campos de cada haz, de manera que cuando estos se superponen el campo resultante oscila con el tiempo, y el ojo humano percibe una intensidad promedio uniforme. Si los dos haces proceden de la misma fuente, estarán correlacionados en frecuencia y fase. De esta forma, cuando los rayos se superponen (interfieren) se producirá una interferencia constructiva si el estado de fase es el mismo, y se tendrá un máximo en 

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optica

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  • Prctica4

    Prctica4.InterfermetrodeMichelson

    1.OBJETIVOS

    - Estudiarunadelaspropiedadesondulatoriasdelaluz,lainterferencia.

    - Aplicarlosconocimientosparalamedida(interferometra)delongitudesdeondao

    distancias.

    2.MATERIAL

    - Interfermetro.

    - Fuentedeluz(lser,lmparaespectral)

    - Lentededistanciafocalcortapara

    expandirelhaz.

    - Dispositivopararealizarvacoymedir

    presiones.

    3.FUNDAMENTOTERICO

    Unrayodeluzesunaondaelectromagntica,decamposEyBvariables.Cuando

    dosrayosdeluzseencuentran,loscampossesuperponen,yencadapuntodelespacioel

    vectorEoBserlasumavectorialdeloscamposdelosrayosindividuales.

    Silosdoshacesdeluzprovienendefuentesdistintas,engeneralnohayrelacin

    constanteentreloscamposdecadahaz,demaneraquecuandoestossesuperponenel

    camporesultanteoscilaconeltiempo,yelojohumanopercibeunaintensidadpromedio

    uniforme.

    Silosdoshacesprocedendelamismafuente,estarncorrelacionadosenfrecuencia

    y fase. De esta forma, cuando los rayos se superponen (interfieren) se producir una

    interferencia constructivasi el estadodefaseesel mismo, yse tendr unmximoen

  • Figura2

    Prctica4

    intensidad. Si, por el contrario, los campos se encuentran en oposicin de fase, la

    superposicinsupondrlaanulacindelcampototal,yseproduceunmnimo(cero)enla

    intensidad.

    ThomasYoungfueelprimeroendisearunmtodoparaproduciryvisualizarlos

    mximosymnimosdeintensidaddescritosanteriormente.Laluzque,procedentedeuna

    mismafuente,llegaaunapantallatrashaberatravesadodosrendijasestrechasyjuntas,

    forma un patrn regular de bandas brillantes y oscuras. Este patrn de interferencia

    constituy unaevidencia concluyente de la naturaleza ondulatoria de la luz. La doble

    rendijadeYoung eselprimerymssimpleinterfermetro:porunaparte,sielespacio

    entrelasrendijasesconocido,elespaciadoentrelosmximosymnimosinterferenciales

    permitemedirlalongituddeonda.Porotraparte,siseconocelalongituddeonda,se

    puededeterminarelespaciadoentrelasrendijas.

    InterfermetrodeMichelson

    AunqueinicialmenteMichelsondiseesteinterfermetro(1881)paradetectarel

    ter,unavezquefueimposibledemostrarsuexistenciaseutilizasudispositivoparamedir

    longitudes de onda o para,

    conocida la longitud de onda de

    una fuente emisora, medir

    distanciasmuypequeasondices

    derefraccindedistintosmedios.

    La figura 1 muestra un

    esquema:

    Unrayoprocedentedellseresdesdoblado

    EF

    EM

    ES

    Figura1

  • Prctica4

    medianteunespejosemitransparente ES(espejoquereflejasloel50%delaluzque

    incidesobrel,dejandopasarelotro50%).UnodelosrayossereflejaenelespejofijoEF,

    yelotroenelespejomvilEM.Ambosrayosvuelvenajuntarseenlapantalla.Sobrela

    pantalla vemos la superposicin o interferencia de los dos haces de luz, cuyas fases

    (estadosdeoscilacindeloscampos),estnaltamentecorrelacionadasporprocederdela

    mismafuente. Siconunalenteabrimoselhazjustoantesdeserdesdoblado,sepodr

    observarenpantallaelmodelodeinterferenciaformadoporanillosalternativamenteclaros

    yoscuros.Eselpatrndeinterferenciaquesemuestraenlafigura2:

    Cmosehaformado?Inicialmentelosdoshacesdesdobladosestabanenfase.La

    diferenciadefasequehayaentreelloscuandoseencuentrendenuevoenunmismopunto

    delespaciodependerdeladiferenciadecaminoquehayanrecorrido.SiEFyEMestna

    lamismodistanciadelespejosemitransparente,elcaminorecorridoporambosrayosesel

    mismo,yportantollegarnenfasealapantalla,ylainterferenciaencualquierpuntoser

    mximaomnimaperoconstanteeneltiempo,loquenospermiteobservarelpatrnde

    interferencia.

    MoviendoelespejoEMcambiaremosestasituacin.SiladistanciaESEMsevara

    en un cuarto de longitud de onda, los haces en pantalla estarn en oposicin de fase

    (desfasados180).EstoesdebidoaqueelhazquevadeESaEMrecorreesadistanciados

    veces,porloqueladiferenciadecaminorecorridoporlosdoshacesesdemedialongitud

    deonda:enlapantallalasposicionesdelosmximosymnimosestarnintercambiadas.

    SisevaraahoraladistanciadeESaEMenmedialongituddeonda,denuevolos

    hacesestarnenfaseenlapantalla.Elmodelodeinterferenciavolveraaserahoracomo

    inicialmente.

    De esta forma, moviendo EM tendremos un modelo de interferencia que va

    variandoalvariarlaposicindelespejo,yquevolverasercomoinicialmentecadavez

    queelespejosemuevaunmltiplodelasemilongituddeondadelaluzutilizada.

    Portanto,moviendoEMunadistanciadmycontandom,elnmerodevecesqueel

  • Figura3

    Prctica4

    patrndeinterferenciavuelveasercomoinicialmente,sepuedecalcularlalongitudde

    ondadelaluzutilizada:

    =2dmm (1)

    Silalongituddeondaesconocida, sepuedeusarelmismoprocedimientopara

    medirunadistanciadm.

    4.MTODOEXPERIMENTAL

    Lafigura3muestraunesquemadelinterfermetrodeMichelson.

    Losespejosdisponendetornillos deajuste parafacilitar el alineamiento delos

    haces. El movimiento del espejo mvil EM se controla y mide con un tornillo

    micromtrico,delquecadadivisincorrespondeaunamicra(106m)dedesplazamientode

    EM.

    Alineamientodelinterfermetro

    1.Colocarellseryelinterfermetroaunos1020cm,sobreunasuperficieplana,y

    colocarunapantallafrentealespejoEF,segnelesquemadelafigura4.Conectarellser.

    EF

  • Prctica4

    2.AflojarlostornillosdeESygirarloparaquenotapeelhaz,comoseveenlafigura.A

    continuacinaflojarlostornillosdeEMyrotarloligeramentehastacolocarloenincidencia

    normal: el haz tiene que ser reflejado de nuevohacia la apertura de salida del lser,

    pudiendonocoincidirexactamenteconelorificiodesalida,perosdebeestarsobrela

    mismavertical.FijarentonceslaposicindeEM.

    3.GirardenuevoESparaquesusuperficieformeunngulodeunos45conelhazlser

    (figura5).Aparecerndosconjuntosdepuntosenlapantalla,ysedebeajustarelESpara

    quelasdosseriesdepuntosestnlomsprximasposible.FijarelES.

    Figura5

    4.AjustarelngulodeEFparaquelasdosseriesdepuntoscoincidanenpantalla.

    5.Ponerlalentede18mmdedistanciafocalalasalidadelhaz(seadhiereconimanes)de

    formaqueelhazabiertoporlalenteincidaenelcentrodeES.Sielalineamientoseha

    realizado correctamente, aparecer en pantalla un patrn de interferencia de anillos

    concntricos(figura2).Sinoseveelcentro,ajustarelalineamientodeEFlentamentepara

    centrarlosanillosinterferenciales.

    EF

    EF

    Figura4

  • Prctica4

    I.Medidadelalongituddeondadelaluz

    Alinearellseryelinterfermetrocomosedescribeanteriormenteparaobservar

    claramenteelpatrndeinterferenciasenpantalla.

    Ajustareltornillomicromtricodeformaqueelbrazoseacasiparaleloalabase

    delinterfermetro,yaqueaslarelacinentrelarotacindeltornilloyelmovimientode

    EMesprcticamentelineal.

    Hacerunamarcaenunfoliosobrelapantalla.Estareferenciadebeestarentredos

    anillos, y si se hace dos o tres anillos lejos del centro ser mas fcil contar los

    desplazamientos.

    Girar el tornillo micromtrico en el sentido contrario a las agujas del reloj

    lentamente,ycontarlosanillosconformevanpasandoporlamarcadereferenciahastaun

    totaldem.Repetiresteprocesoparavariosanillosyanotarladistancia(dm)recorridapor

    elespejoencadacaso(recordarquecadadivisindeltornillomicromtricoesunamicra).

    Resultados:

    1) Representargrficamentelosresultados,distanciadmfrenteanmerodeanillos

    m.

    2) Realizar un ajuste por mnimos cuadrados. La pendiente es la mitad de la

    longituddeondadelafuentelser.Analizarycomentarlosresultados.

    II.Medidadendicederefraccin

    Paraunaluzdefrecuenciadada,lalongituddeondavarasegnlaexpresin:

    =0n (2)

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    siendo 0 la longitud de ondaen el vaco, la longitud en el medio donde se estpropagandolaluzynelndicederefraccindedichomedio.

    Silapresinesbaja,elndicederefraccindeungasvaralinealmenteconla

    presin.Mediremoselndicederefraccindelaireavariaspresiones.Elfundamentode

    estasmedidasesquevariarelndicederefraccinenpartedelcaminoptico,equivalea

    variarlalongituddeondayportantoproduciremosuncambioenlafaserelativadelos

    rayos,cambiandolaposicionesdemximosymnimosenelpatrndeinterferencia.

    - Alinearellseryelinterfermetrocomosedescribeanteriormente.

    - Insertarlacmaradevacoenelorificiodispuestoenlabasedelinterfermetro,enel

    caminodeESaEF.Rotarladeformaqueestperpendicularalrayo(nospodemos

    ayudarobservandolosanillosinterferenciales).

    - Evacuarelairedelacmaradevaco,demaneraqueenelinterior,P0atm.

    - Marcarunpuntodereferenciasobrelapantalla.

    - HacerentrarlentamenteelaireenlacmarahastaunpresinP1,ymientrasircontando

    elnmerodeanillosquepasanporlareferencia.

    - ContinuaraumentandolapresinhastasucesivosvaloresPiycontandolosmianillos

    (deformaacumulativa).NUNCAsedebesobrepasarlapresinatmosfrica.

    Resultados:

    3)ParacadaPi,calcularelndicederefraccinsegn

    ni=mi02d +n0 (3)

    siendon0elndicederefraccindelvaco(n0=1),ydlalongituddelacmaradevaco(d

    =3.0cm).

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    4)RepresentargrficamentenfrenteaP.Realizarelajustedelosdatos.

    5) Consultar en la bibliografa la dependencia del ndice de refraccin con la

    presinycomentarlosresultados.

    NOTA:sehafijadounpunto(P0,n0)=(0,1),siendon0=1unvalortericoyP0=0mm

    Hgunvalorexperimental.Unacausadeerrorsistemticoimportanteeselhechodequeno

    sealcanceunvacoabsolutoenlacmara.Siestoocurre,comentarlaposibleinfluenciaen

    losresultados.

    Prctica 4. Interfermetro de MichelsonInterfermetro de MichelsonI. Medida de la longitud de onda de la luzII. Medida de ndice de refraccin