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IC Tester
VTrucco 2015
Testador deCircuitos Integrados
Victor Trucco 2015http://www.victortrucco.com
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IC Tester
VTrucco 2015
CARACTERÍSTICAS
1 - Display de LCD
2 - Soquete Z.I.F.
3 - LED
4 - Botões de navegação
5 - Botão de seleção
6 - Chave liga-desliga
7 - Entrada de fonte de
alimentação
1
6 7
2
3
4 45
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FONTE DE ALIMENTAÇÃO
Plug P4
Positivo nopino central
A fonte a ser utilizada deve serregulada de 12 Volts com pelomenos 1 Ampere de corrente.O encaixe deve ser padrão "P4"tendo o positivo no pinocentral.
Para manter a portabilidade oequ ipamen to pode se roperado com uma bateriainterna de 9V, a "quadradinha"como alguns chamam.
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USO
Se você está utilizando sem uma fonte de alimentação, use achave liga-desliga (6) para utilizar o equipamento. Com umafonte, basta encaixar no conector (7), não sendo necessárioligar a chave.
Após 2 segundos de auto-teste, o equipamento está prontopara uso.
Não coloque qualquer componente no soquete z.i.f.antes de ligar o equipamento!
apagado
O LED (3) indica quando um CI pode ser inserido. Somentecoloque um componente para teste quando o LED estiver
. O mesmo é válido para testes de vários CIs emsequencia, troque o componente por outro apenas com o LEDapagado.
IC Tester
VTrucco 2015
Select type
TTL 74XX (3)
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Testando memórias estáticas - SRAM
SR
AM
Select type
Salvo indicação contrária, coloque a memória estática em teste como semi-circulo para cima, alinhando a base da memoria, na base dosoquete z.i.f., conforme indicado na ilustração acima.
(Imagem do CI apenas ilustrativa. Ele vai variar em tamanho enúmero de pinos, de acordo com o componente sendo testado)
Com os botões de navegação (4) escolha o tipo de memória aser testado. Consulte a tabela no fim do manual para saber osmodelos suportados.
Select type
SRAM 6116
Select type
SRAM 2102
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SR
AM
Select type
Nestes dois casos a memória precisa ser alinhada pelo terceiro pinodo soquete z.i.f., conforme a ilustração acima.
ATENÇÃO: as memórias SRAM 2114 e 5101 requerem umalinhamento diferente. Repare que ambas tem a indicação donúmero "3" no display ao lado do seu nome.
Select type
SRAM 2114 (3)
Select type
SRAM 5101 (3)
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Com a memória corretamente posicionada, pressione uma vezo botão de seleção (5) para iniciar os testes.
As memórias estáticas são testadas rapidamente em 4 padrõesde teste distintos.
1. teste (preenchimento) - Todas as posições de memória sãopreenchidas com FFh2. teste (limpeza) - Todas as posições são preenchidas com 00H3. teste (1. inversão) - Todas as posições com 55h4. teste (2. inversão) - Todas as posições com AAh5. teste (repetição) - Todos os quatro testes anteriores sãorepetidos uma segunda vez)
Cada passo do teste compreende em um ciclo de escrita e umciclo de leitura, para conferência dos valores escritos em cadaposição de memória e logicamente os componentes que temapenas 1 ou 4 bits tem seus valores de teste ajustados deacordo. No exemplo acima foi levado em conta uma memoriade 8 bits.
Select type
SRAM 6116
SRAM 6116
Testing...
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Após 1 ou 2 segundos temos o resultado no display:
Estando o componente em perfeito estado, temos algo similarao mostrada na ilustração da esquerda, um "OK".
Em caso de falha, poderemos observar a informação doendereço que falhou (XXXX) o que foi escrito (ZZ) e o que foi lido(YY). Desse jeito podemos identificar exatamente onde ocorreuo erro. Se o defeito for por exemplo numa das linhas de dados,já irá falhar em 0000, mas se for numa linha de endereço podefalhar bem à frente, ou até mesmo somente a partir do meio damemória.
Durante todo o teste o LED permanece aceso, com exceção doda SRAM 61512 que tem uma de suas linhas de endereçocompartilhada com o LED. Neste caso específico o LED terá umcomportamente errático, piscando em alguns momentos,porém sempre apagando ao final.
SRAM 6116
Testing...OK!
ERROR in XXXX
read YY was ZZ
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Testando memórias dinâmicas- DRAM
DR
AM
Select type
Posicione a memória com o semi-circulo para cima, alinhando abase com a base do soquete z.i.f., conforme indicado na ilustraçãoacima. No caso das memórias dinâmicas, todas são alinhadassempre pela base.
Com os botões de navegação (4) escolha o tipo de memória aser testado. Consulte a tabela no fim do manual para saber osmodelos suportados.
Select type
DRAM 4164
Select type
DRAM 4027
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Com a memória corretamente posicionada, pressione uma vezo botão de seleção (5) para iniciar os testes.
As memórias dinâmicas são um pouco mais complexas de seremtestadas que as estáticas e o teste é substancialmente maisdemorado. Será de cerca de 10 segundos para as menores, atéalguns minutos para as de grande capacidade.
Aqui, temos os seguintes testes:
1. teste (matriz) - Todas os pinos são checados para conferir setodas as linhas e colunas estão respondendo.2. teste (preenchimento) - Todas as posições de memória sãopreenchidas com FFh3. teste (limpeza) - Todas as posições são preenchidas com 00H4. teste (1. inversão) - Todas as posições com 55h5. teste (2. inversão) - Todas as posições com AAh6. teste (repetição) - Todos os quatro testes anteriores sãorepetidos uma segunda vez)
Novamente, cada passo do teste compreende em um ciclo deescrita e um ciclo de leitura, e os valores são ajustados deacordo com a quantidade de bits do componente.
Select type
DRAM 4164
DRAM 4164
Pass: 1..
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Após o término do teste, temos as seguintes possibilidades deresultado:
Na nossa primeira análise de resultado, no quadro superior àesquerda, temos um "OK", indicando que o componente estáem perfeito estado.
Na segunda ilustração, no alto à direita, temos a informaçãoque escrevemos o valor VV e foi lido ZZ na posição de memóriaindicado pela matriz em linha XX, coluna YY, o que significa quea memória está defeituosa.
Nos dois resultados de baixo, temos uma falha da matriz, antesmesmo de começarmos os testes de escrita. Na esquerda, temosa informação que a matriz falhou em XX, indicando falta decomunicação entre o pino e a matriz, enquanto que nailustração da direita temos a informação de um curto em duaslinhas da matriz. Ambos os casos desqualificam a memória,indicando defeito no componente.
DRAM 4164
Pass: 1..2..OK
read VV was ZZ
at XX YY - BAD!
Matrix failed
at XX 00
Matrix Corrupted
XX 00 to YY 00
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Memórias Dinâmicas com três voltagens
Isso é necessário porque uma seleção equivocada desses testespode danificar o componente no soquete. Um segundo toque nobotão de seleção (5) executa o teste.
tenha certeza que o componente no soquete realmentesuporta as três voltagens antes de confirmar o teste!
Uma segunda observação quanto à este teste: esse tipo dememória tem um grande consumo de corrente e a bateria interna,mesmo testando outros componentes normalmente, pode nãofornecer a corrente necessária após algum tempo de uso (bateria àmeia-vida). Na dúvida, prefira sempre testar essas memóriasusando uma fonte de alimentação conectada no Testador deCircuito Integrados no conector apropriado (7).
ATENÇÃO:
Algumas memórias dinâmicas constam na tabela decomponentes suportados como Isso quer dizerque elas trabalham com +12V e -5V, além do tradicional +5Vdos outros componentes.
Um desses testes ao ser selecionado, pede uma confirmação.
"três voltagens".
WARNING!!!
DO YOU CONFIRM?
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Testando CIs de lógica - TTL e CMOS
Todos os circuitos integrados de lógica TTL ou CMOS sãoposicionados a partir do pino 3 do soquete z.i.f, com o semi-circulopara cima. Observe a ilustração acima.
Com os botões de navegação (4) escolha o tipo de circuitointegrado de lógica a ser testado. Consulte a tabela no fim domanual para saber quais são suportados.
Select type
TTL 74XX (3)
Select type
CMOS 45XX (3)
TT
L
Select type
(3)
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Após pressionar o botão de seleção (5), temos o resultado doteste:
No primeiro caso, o CI está defeituoso ou não consta na tabelade componentes suportados (verifique a lista nas últimaspáginas deste manual).
Nesta ilustração, vemos que ele encontrou uma possibilidadepara o CI no soquete. O teste é feito por "Tabelas Verdade", ondetodas as entradas são alimentadas e verificamos os padrões dasaída. Caso haja uma igualdade o nome do CI é informado.
Vários CIs de lógica geram um mesmo padrão de "TabelaVerdade" e não temos como distinguir um de outro, nesse caso.Por exemplo, o 7400 gera exatamente o mesmo que um 7403,então a cada toque do botão de seleção (5), um novo padrão étestado. Se temos um 7400 em bom estado no soquete, aprimeira seleção irá mostrar 7400 - OK no display, um segundotoque irá para 7403 - OK e assim passando por todas aspossibilidades, até mostrar novamente o 7400 - OK no display.
. Apesar dastabelas-verdade serem iguais em alguns casos, ofuncionamento é diferente e dificilmente um componentepoderá ser usado no lugar de outro num reparo.
Isso não quer dizer que os CIs são compatíveis
Bad or
not supported!
74132
FOUND OK
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Os circuitos integrados da família 74 são amplamente utilizados até hoje em váriosequipamentos. Além da série padrão, sem letras (exemplo 7400), muitas outrasséries podem ser testadas. A lista abaixo, apesar de só indicar a série padrão, serveperfeitamente para qualquer outra série suportada.
Séries suportadas
LISTA - TTL 74
74007401740274037404740574067407740874097410741174127413741474157416741774187419742074217422742374247425742674277428743074317432
74337434743574377438743974407442744374447445744674477448744974507451745274537454745574587460746174627464746574707474748574867495
7410774109741127411374114741167412374125741267412874131741327413374134741357413674137741387413974140741457414774148741497415074151741527415374154741557415674157
7415874160741617416274163741647416574166741687417074173741747417574180741817418274183741907419174192741937419474195742377423874240742417424274243742447424574246
7424774248742497425174253742577425874259742607426574266742737427874279742807428374290742927429374294742957429874299743237434874351743527435374354743567436374364
7436574366743677436874373743747437574377743787438674390743937439974425744267444574465744667446774468744907451874519745207452174522745337453474540745417456374564
74573745747457574576745777458074589745957459774620746217462274623746387463974640746417464274643746447464574646746707468874689744020
74L74S74LS74AS74ALS74F74C
74FC74H74HC74HCT74AC74ACT74AHC
TTLs
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LISTA - CMOS 40
LISTA - CMOS 45
40004001400240064007400840094010401140124013401440154016401740184019402040214022402340244025402640274028402940304031
40324033403440354038404040414042404340444048404940504051405240534055405640604063406640674068406940704071407240734075
40764077407840814082408540864093409440954096409740994010140106401094014740160401614016240163401744017540192401934019440257
450145024503450445064508451045114512451445154518
45194520452945324543455345554556457245844585
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MEMÓRIAS DRAM
MEMÓRIAS SRAM
TMS4027 (4K x 1 bit) (3 voltagens)4116 (16K x 1 bit) (3 voltagens)4164 (64K x 1 bit)41256 (256K x 1 bit)4416 (16K x 4 bit)4464 (64K x 4 bit)44256 (256K x 4 bit)4516 (16K x 1 bit)4517 (16K x 1 bit)5290 (16K x 1 bit) (3 voltagens)
As memórias estáticas existem de vários fabricantes e numerações diferentes.Mesmo que não estejam listada aqui, confira o datasheet do fabricante porque ascaracterísticas podem se encaixar em alguma das citadas abaixo.
2102 (1K x 1 bit)2114 (1K x 4 bits)5101 (256 bytes x 4 bits)6116 (2K x 8 bits) (outros nomes: 5116 e 8416)6264 (8K x 8 bits) (outro nome: 65764)62256 (32K x 8bits)61512 (64K x 8 bits)