SATIMO - StarLab...2...

8
紧凑便携式的天线测量系统 StarLab

Transcript of SATIMO - StarLab...2...

紧凑便携式的天线测量系统

StarLab

2

StarLab是在实验室和空间有限、成本是关键、一个便携式系统的灵活性是必需的生产环境中测量天线图案的终极工具。

技术 • 近场 / 球形• 近场 / 圆柱形

测量功能• 增益• 方向性• 波束宽度• 交叉极化分辩率• 旁瓣电平• 3D腔体反射率• 在任何极化的腔体反射率(直线或圆弧)• 天线效率• TRP、TIS、EIRP和EIS

频段• StarLab 6 GHz:650 MHz 到 6 GHz• StarLab 18 GHz:650 MHz 到 18 GHz

被测设备(DUT)的最大尺寸 • 45 cm(球形设置)• 2.7 m x 45 cm(圆柱设置)• 用户可定制尺寸

被测设备的最大重量• 10 kg(聚苯乙烯泡沫塑料天线杆)• 15 kg(连重型被测设备天线杆)

典型波动范围• 650 MHz - 6 GHz:70 dB• 6 GHz - 18 GHz:60 dB

过采样• 旋转拱

软件

测量控制、数据采集和后期处理■ SatEnv■ SPM

近场/远场变换■ SatMap SatCyl

空中有源测试(OTA)套件 SAM SMM

先进的后期处理 SatMap背投模块 圆柱形背投模块 Insight SatSIM

设备 ■ 备有探头阵列、被测天线定位器、橡胶减震器和照明的拱■ 控制装置■ 电源和控制装置■ 发射和接收放大器■ 仪表架■ 不间断电源 矢量网络分析仪

附加组件 屏蔽电波暗室(OTA空中有源测试)* 基站天线或线性阵列天线测量用的线性扫描仪 (圆柱测试)

空中有源测试(OTA)设备 无线电通信仪 有源切换装置 传输切换装置 输入/输出交换端口 WiFi无线网络测试

配件 ■ 参考号角天线■ 个人电脑 重型被测设备杆 笔记本电脑支援介面 手部和头部幻体 参考天线(套偶极子、环路、线性阵列天线)

服务 ■ 安装■ 训练■ 保修 保修期后服务计划

*更多信息,请参见MVG-EMC系统目录的详细信息 包含 选配 标配

系统配置

主要特色

一个具有成本效益和节省空间的便携式解 决方案

适用于• 天线测量• 线阵天线测量• 空中有源测试(OTA)

+

3

StarLab使用一个有源切换装置来在近场无源测量和空中有源测试(OTA)之间进行切换。对于近场无源测量,一个矢量网络分析仪会被用作射频源/接收器。控制装置驱动两个定位马达和探头阵列进行电子扫描。空中有源测试(OTA)以无线电通信仪来进行。

放大器根据频带要求放大发送和接收信道上的信号。传输切换装置用于在通过被测天线的发射和由被测天线接收之间做切换。电源和控制装置提供电源和驱动射频单元。

1

3

2

矢量网络分析仪

数据采集以及计算机处理

控制 装置

无线电通信仪

有源切换装置

电源和控制装置

发射放大器

传输切换装置

接收放大器

系统概述

4

标准的系统组件

StarLab的过采样在StarLab系统,过采样通过在抬高的拱形件的机械转动来进行。过采样能力集成于系统本身的机械结构(无需额外的测角器)。

拱• 两 个 探 头 的 选 择 可 以 交 错

(DP400-6000、DP6000-18000)

天线• 参考天线(套偶极子、环路

等)可供选择。

MVG天线目录

天线杆

• 根据被测件的重量,提供聚苯乙烯泡沫塑料或超刚性天线杆

• 笔记本电脑介面

StarLab的笔记本电脑测量

用于空中有源测试(OTA)的紧缩型屏蔽室

系统规格*

球形 StarLab 6 GHz 球形 StarLab 18 GHz

测量11个频率的时间** ~ 1 分钟 ~ 1 分钟

典型波动范围 70 dB 0.65 GHz - 6 GHz 70 dB 6 GHz - 18 GHz 60 dB

10 dBi 20 dBi 30 dBi 10 dBi 20 dBi 30 dBi 被测天线 被测天线 被测天线 被测天线 被测天线 被测天线

增益精度峰值

0.65 GHz - 0.8 GHz ± 1.5 dB - - ± 1.5 dB - -

0.8 GHz - 1 GHz ± 1.1 dB - - ± 1.1 dB - -

1 GHz - 6 GHz ± 0.8 dB ± 0.7 dB - ± 0.8 dB ± 0.7 dB -

6 GHz - 18 GHz - - - ± 0.9 dB ± 0.7 dB ± 0.6 dB

增益可重复性峰值 ± 0.3 dB ± 0.3 dB ± 0.3 dB ± 0.3 dB ± 0.3 dB ± 0.3 dB

- 10 dB 旁瓣精度

0.65 GHz - 0.8 GHz ± 1.6 dB - - ± 1.6 dB - -

0.8 GHz - 1 GHz ± 1.1 dB - - ± 1.1 dB - -

1 GHz) - 6 GHz ± 0.9 dB ± 0.6 dB - ± 0.9 dB ± 0.6 dB -

6 GHz) - 16 GHz - - - ± 0.8 dB ± 0.5 dB ± 0.4 dB

16 GHz - 18 GHz - - - ± 1.0 dB ± 0.6 dB ± 0.4 dB

5

系统规格*

球形 StarLab 6 GHz 球形 StarLab 18 GHz

10 dBi 20 dBi 30 dBi 10 dBi 20 dBi 30 dBi 被测天线 被测天线 被测天线 被测天线 被测天线 被测天线

- 20 dB 旁瓣精度

0.65 GHz) - 0.8 GHz ± 4.5 dB - - ± 4.5 dB - -

0.8 GHz) - 1 GHz ± 3.5 dB - - ± 3.5 dB - -

1 GHz - 6 GHz ± 2.7 dB ± 0.9 dB - ± 2.7 dB ± 0.9 dB -

6 GHz - 16 GHz - - - ± 2.4 dB ± 0.8 dB ± 0.5 dB

16 GHz - 18 GHz - - - ± 3.2 dB ± 1.0 dB ± 0.6 dB

- 30 dB 旁瓣精度

0.65 GHz - 0.8 GHz - - - - - -

0.8 GHz - 1 GHz - - - - - -

1 GHz - 6 GHz - ± 2.7 dB - - ± 2.7 dB -

6 GHz - 16 GHz - - - - ± 2.4 dB ± 0.8 dB

16 GHz - 18 GHz - - - - ± 3.2 dB ± 1.0 dB

* 规格乃根据以下假设:• 近场测量球形几何• 在测量过程中的控制温度和湿度• 对辐射模式的规格乃以一个标准化的模式为准• 在电波暗室(消声室)中或在等同条件下的测量• 使用安捷伦(Agilent)PNA(1kHz的中频带宽)

• 所示的参考天线峰值增益的增益误差为±0.3 dB• 被测设备的相位中心与拱心的距离不超过8厘米• 视乎被测设备的负载和方向性,用合适的天线杆执行测量

** 无过采样、没进行平均

系统规格*

圆柱 StarLab 6 GHz

测量时间** 3 min 被测设备

最大尺寸*** 45 cm

可以测量的典型交叉极性电平 少于 -30 dB

增益精度峰值

892 MHz ± 1.0 dB

1880 MHz ± 0.7 dB

峰值增益的可重复性 ± 0.3 dB

-10 dB 旁瓣精度

892 MHz ± 0.8 dB

1880 MHz ± 0.6 dB

-20 dB 旁瓣精度

892 MHz ± 1.1 dB

1880 MHz ± 0.9 dB

波束宽度的精度

892 MHz ± 5%

1880 MHz ± 5%

前后比精度****

892 MHz ± 2.5 dB

1880 MHz ± 2.0 dB

* 规格乃根据以下假设:• 近场测量圆柱几何• 在测量过程中的控制温度和湿度• 对辐射模式的规格乃以一个标准化的模式为准• 使用安捷伦(Agilent)PNA(1kHz的中频带宽), 100 Hz的中频带宽的典型波动范围除外

机械特性

StarLab 外部尺寸 1.82 x 1.08 x 2.00 m (长 x 宽 x 高)

探针阵列的内径 0.9 m

可选的电波暗室(消声室)尺寸 1.92 x 1.97 x 2.08 m

在相同频带的探头之间的角度 22.5°

被测设备的最大重量*

聚苯乙烯泡沫塑料天线杆 10 kg

超刚性天线杆 25 kg

* 中心负载

射频设备特点

探头数目

StarLab 6 GHz 15 + 1 参考信道

StarLab 18 GHz 0.65 到 6 GHz 15 + 1 参考信道 6 到 18 GHz 14 + 1 参考信道

频率范围

StarLab 6 GHz 0.65 GHz 到 6 GHz

StarLab 18 GHz 0.65 GHz 到 18 GHz

• 所示的参考天线峰值增益的增益误差为±0.3 dB• 被测设备的相位中心与拱心的距离不超过15厘米** 3米扫描,没有任何过采样*** 可被测量的最大圆筒直径**** 在±30°锥体中的典型规格

6

被测设备的最大直径(米)

频率 过采样数目 (GHz) x 1 x 2 x 3 x 5 x 10

0.65 0.45 0.45 0.45 0.45 0.45

1 0.45 0.45 0.45 0.45 0.45

2 0.38 0.45 0.45 0.45 0.45

3 0.25 0.45 0.45 0.45 0.45

4 0.19 0.38 0.45 0.45 0.45

5 0.15 0.31 0.45 0.45 0.45

6 0.13 0.25 0.38 0.45 0.45

7 0.11 0.22 0.33 0.45 0.45

8 0.10 0.19 0.29 0.45 0.45

9 0.08 0.17 0.25 0.42 0.45

10 0.08 0.15 0.23 0.38 0.45

11 0.07 0.14 0.21 0.35 0.45

12 0.06 0.13 0.19 0.32 0.45

13 0.06 0.12 0.18 0.29 0.45

14 0.05 0.11 0.16 0.27 0.45

15 0.05 0.10 0.15 0.25 0.45

16 0.05 0.10 0.14 0.24 0.45

17 0.04 0.09 0.13 0.22 0.45

18 0.04 0.08 0.13 0.21 0.42

线性扫描仪选项

通过增加一个线性扫描组件,StarLab从球形近场测量转变成圆柱形近场测量系统,该系统特别适合于条状天线测量(如:基站天线)。除了标准的功能外,此配置允许了波束倾斜的测量。圆柱模式的StarLab可以从视轴测量高达70°的旁瓣(典型值)。

StarLab(线性扫描选项)

StarLab 18 GHz(线性扫描选项)

线性天线测量特性

几何 圆柱标准导

轨长度 6 或 9 米

线性天线最大重量 80 kg

7

空中有源测试 (OTA) 性能测试

StarLab可以同时执行TRP和TIS的测量。用于TIS测量,或如果外部干扰是一个问题,StarLab有配置小型屏蔽室可供选择。屏蔽室内放置StarLab,StarLab消声筒开口的两壁上补以角锥吸波材料。

空中有源测试(OTA)性能测量规格*

按CTIA的规格

TRP精度(自由空间) <± 1.9 dB

TRP精度(通话位置) <± 2.0 dB

TRP重复性 ± 0.3 dB

典型的TRP测量时间** < 2 分钟

TIS精度(自由空间) <± 2.0 dB

TIS 精度(通话位置) <± 2.1 dB

TIS重复性 ± 0.5 dB

典型的TIS测量时间*** 15 分钟 > 60 分钟

CTIA 可比

GSM/WCDMA通讯协定:

基于接收电平的TIS 精度 <± 2.8 dB

基于接收电平的TIS 重复性 <± 1.5 dB

基于接收电平的典型TIS测量时间*** < 6 分钟

CDMA2000通讯协定:

TIS优化精度 <± 2.0 dB

TIS优化重复性 <± 0.5 dB

典型TIS的优化测量时间*** < 11 分钟

* 规格乃根据以下假设:• 在测量过程中的控制温度和湿度• 电波暗室(消声室)中的测量• 被测设备的相位中心与拱心的距离不超过15厘米• 校准以偶极子的增益参考值来完成• 视乎被测设备的负载和方向性,用合适的天线杆执行测量产品规格也依赖于无线通信测试仪和通讯协定

** 一个信道、15度采样、每个探头一次、测量时间取决于通讯协定

** 一个信道、30度采样、每个探头一次、测量时间取决于通讯协定

MV

G 2

014版

权所

有本

数据

表中

的产

品规

格和

说明

如有

变更

,恕

不另

行通

知。

想获得更多详细信息,请联系您当地的销售代表[email protected] www.microwavevision.com/rfsafety

全球布局

MVG超过90%的销售额在法国以外地区得到实现。集团不断扩大业务覆盖面以更好地服务欧洲、 亚洲及美洲。目前我们通过在全球9个国家设立的20个办事处为客户提供支持。

MICROWAVE VISION Headquarters

47, boulevard Saint Michel75005 Paris, FRANCETel: +33 (0)1 75 77 58 50Fax: +33 (0)1 46 33 39 02

MICROWAVE VISION Limited Hong Kong

Suite 702, 7th floor Cyberport 1100 Cyberport RoadPok Fu Lam, HONG KONGTel: +852 2989 6128Fax: +852 2989 6108

MICROWAVE VISION Italy

Via dei Castelli Romani, 5900040 Pomezia (Rome), ITALYTel: +39 06 89 99 53 11Fax: +39 06 89 99 53 24

MVG, Inc.

2105 Barrett Park Dr., Suite 104Kennesaw, GA 30144, USA Tel: +1 678 797 9172Fax: +1 678 797 9173

MICROWAVE VISION Japan

#101 Confort Murashi-Nakahara, 2-10-32, Shimokodanaka,Nakahara-ku, Kawasaki-city211-0041 Kanagawa, JAPANTel: +81 44 948 9301Fax: +81 44 766 2775

SATIMO INDUSTRIES Headquarters

17, avenue de Norvège91140 Villebon Sur Yvette, FRANCETel: +33 (0)1 69 29 02 47Fax : +33 (0)1 69 29 02 27

MICROWAVE VISION Sweden

P.O. Box 35 44121 Alingsas GothenburgSWEDENTel: +46 31 402430Fax: +46 31 402430

ORBIT/FR Headquarters

506 Prudential RoadHorsham, PA 19044, USATel: +1 215 674 5100Fax: +1 215 674 5108

SATIMO Industries, Bretagne

Technopole Brest Iroise, Z.I. du Vernis, 225 rue Pierre Rivoalon, 29200 Brest, FRANCETel: +33 (0)2 98 05 13 34Fax: +33 (0)2 98 05 53 87

ORBIT/FR Israel

1 Gesher Ha-Ets St., P.O. Box 12096, 3877701 Emek Hefer Industrial Park, ISRAELTel: +972 74 713 0130Fax: +972 4 6247375

ORBIT/FR Germany

Johann-Sebastian-Bach-Str. 11Vaterstetten 85591, GERMANYTel: +49 (0)8106 99606 0Fax: +49 (0)8106 99606 77

Advanced Electromagnetics, Inc. (AEMI)

1320 Air Wing Road, San Diego (Otay Mesa), CA92154, USATel: +1 619 449 9492Fax: +1 619 449 1553

Rainford EMC Systems

Haydock Lane, St. Helens, Merseyside WA11 9TN, UNITED KINGDOMTel: +44 (0)1942 296 190

❚ 美国加州的吸波材料生产基地

❚ 以色列生产基地

❚ 法国研发和生产中心