QPHY-DDR3...

QPHY-DDR3

オペレーターズ・マニュアル

Revision A – August, 2014

Relating to the following release versions:

Software Version Rev. 7.4.

Script

DDR3.irt

Style Sheet Rev. 1.2

922537 Rev A

2

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本書に記載の情報は、以前のすべての版に優先します。仕様は予告なく変更することがあります。

922537 RevA

August, 2014

QPHY-DDR3 オペレーターズ・マニュアル

922537 Rev A 3

目次

はじめに ....................................................................................................................................................... 6

QualiPHY について ................................................................................................................................. 6

QPHY-DDR3 概要 .................................................................................................................................... 6

テストに必要な機器 ................................................................................................................................. 6

セットアップ ................................................................................................................................................ 7

デュアル・モニタの設定 .......................................................................................................................... 7

リモートコントロールの設定 ................................................................................................................... 7

QualiPHY の使用 ........................................................................................................................................ 8

ソフトウェアへのアクセス ...................................................................................................................... 8

General Setup .......................................................................................................................................... 8

QualiPHY のテスト手順 ........................................................................................................................ 11

オシロスコープと DUTを接続します。接続方法は QPHY-DDR3 試験構成の章をご覧ください。 ..... 11

QualiPHY のカスタマイズ .................................................................................................................... 15

QPHY-DDR3 による試験 ........................................................................................................................... 19

試験の準備 .............................................................................................................................................. 19

プローブのデスキュー ............................................................................................................................ 19

Read(R)および Write(W)バースト要件 ................................................................................................. 22

測定開始前の信号チェック .................................................................................................................... 23

QPHY-DDR3 試験構成 ........................................................................................................................... 24

Clock Tests ............................................................................................................................................. 27

tCK(avg), Average Clock Period ....................................................................................................... 27

tCK(abs), Absolute Clock Period ...................................................................................................... 27

tCH(avg), Average High Pulse Width ............................................................................................... 27

tCL(avg), Average Low Pulse Width ................................................................................................ 27

tCH(abs), Absolute High Pulse Width.............................................................................................. 27

tCL(abs), Absolute Low Pulse Width ............................................................................................... 27

tJIT(duty), Half Period Jitter ........................................................................................................... 27

tJIT(per), Clock Period Jitter ........................................................................................................... 27

tJIT(cc), Cycle to Cycle Period Jitter ............................................................................................... 28

tERR(n Per), Cumulative Error ....................................................................................................... 31

Eye Diagram – DQ and DQS Eyes ....................................................................................................... 34

Write Bursts (Inputs) – CK as Timing Reference ........................................................................... 34

Write Bursts (Inputs) – DQS as Timing Reference ......................................................................... 35

Read Bursts (Outputs) – CK as Timing Reference ......................................................................... 36

Read Bursts (Outputs) – DQS as Timing Reference ....................................................................... 37

Electrical Tests on Write Bursts .......................................................................................................... 39

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4

SlewR/SlewF, Input Slew Rate ......................................................................................................... 39

VIH(ac)/VIL(ac), Differential AC input logic high/low .................................................................... 41

Time Above AC-Level (tDVAC and tVAC) ........................................................................................ 43

AC Over/Undershoot ......................................................................................................................... 45

VSWING(MAX), Input Signal Maximum Peak to Peak Swing ..................................................... 49

VSEH(ac)min/VSEL(ac)max, Single-ended AC high/low level ....................................................... 50

VIX(ac), AC Differential Input Cross Point Voltage ....................................................................... 52

Electrical Tests on Read Bursts ........................................................................................................... 54

VOH(ac)/VOL(ac), Differential AC output logic high/low ............................................................... 54

SRQ, Output Slew Rate .................................................................................................................... 56

VSWING, Output Signal Maximum Peak to Peak Swing .............................................................. 58

Electrical Tests on Supply Signals ....................................................................................................... 60

Vref(DC) .............................................................................................................................................. 60

Timing Tests on Write Bursts ............................................................................................................... 62

tDQSS, CK to DQS Skew .................................................................................................................. 62

tDQSH/tDQSL, DQS Input High/Low Pulse Width ........................................................................ 64

tDIPW, DQ Input Pulse Width ......................................................................................................... 66

tDSS/tDSH, DQS to CK Setup/Hold Time ....................................................................................... 68

tDS(base)/tDH(base), DQ to DQS Setup/Hold Time ....................................................................... 70

tWPRE/tWPST, Write Pre/Postamble Time .................................................................................... 72

tIS(base)/tIH(base), ADD and CTRL Setup/Hold Time .................................................................. 74

tIPW, Control and Address Input Pulse Width for Each Input ...................................................... 76

Timing Tests on Read Bursts ............................................................................................................... 77

tDQSQ, DQS to DQ Skew ................................................................................................................. 77

tQSH/tQSL, DQS Output High/Low Time ....................................................................................... 79

tQH, DQ Output Hold Time .............................................................................................................. 81

tDQSCK, CK to DQS Skew ............................................................................................................... 83

tHZ/tLZ, High/Low Impedance Time ............................................................................................... 85

tRPRE/tRPST, Read Preamble ......................................................................................................... 87

QPHY-DDR3 変数 .................................................................................................................................. 89

QPHY-DDR3 Limit Sets ....................................................................................................................... 97

Appendix A: File name conventions for saved waveforms ..................................................................... 98

Appendix B: Common Warning Messages .............................................................................................. 99

Appendix C: Error Messages .................................................................................................................. 101


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このマニュアルについて

このマニュアルはあなたがオシロスコープの使用方法－特に QualiPHY をご使用になる Teledyne

LeCroy 製オシロスコープ－について慣れており、すでに QPHY-DDR3 オプションをご購入されている

と仮定しています。いくつかの画面キャプチャは異なるオシロスコープ・モデルでキャプチャされてい

るかもしれませんが、一般的な概念の説明を意図しています。お使いのオシロスコープの画面と異なる

かもしれませんが、機能は同じですのでご安心ください。

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6

はじめに

QualiPHY について

QualiPHY は対応する規格団体によって発行された公式ドキュメントに従ってデバイスの物理層の開

発・評価を行う際に役立つ高度に自動化されたテスト・ソフトウェアです。カスタマイズした変数や規

格値を用いた内部規格としてのコンプライアンス・テストも実施することが可能です。

QualiPHY は、共通のユーザインターフェイスを介して設定および各規格ごとに個別のテストの制御を

可能にする”フレームワーク”アプリケーションから構成されています。機能は次のとおりです。

ユーザにより定義可能なテスト・リミット : その後別の機器で測定した場合でも、デバイスが十分

余裕をもってパスする様にするためにリミット値を厳しく変更することが出来ます。

XML 形式による結果生成を含む柔軟なテスト結果レポート : 被測定デバイスの特定項目に関連す

る情報を抽出したり、デバイス特性のバラツキを理解する事が出来ます。

QPHY-DDR3 概要

QPHY-DDR3 は JEDEC 規格 No. JESD79-3F(DDR3)および JESD79-3-1A.01. 補遺(DDR3L)に沿って

リアルタイム･オシロスコープで行われる全ての DDR の試験を実行する自動テストパッケージです。

このソフトウェアは、 Teledyne LeCroy の SDA/DDA/WavePro 725/735/740/760Z 、

SDA/DDA/WaveMaster 8Zi , LabMaster9Zi-A, 10Zi の全てのシリーズで実行することができます。

DDR3 の各スピードグレードと最小推奨帯域については以下の表を参照してください。

DDR3 推奨帯域

DDR3(1600MT/s 以下) 6GHz

DDR3(1866MT/s 以上) 8GHz

DDR3L(全スピード・グレード) 8GHz

テストに必要な機器

QualiPHY ソフトウェアをインストールし、QPHY-DDR3 キーコードをアクティベートした

Teledyne LeCroy 製リアルタイム・オシロスコープ

ディエンベットを行う場合は VirtualProbe オプションが必要です。

帯域要件を満たす最低で3本の差動プローブ(いくつかの測定セットアップでは4本必要になります)


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セットアップ

デュアル・モニタの設定

QualiPHY のご利用にはデュアル・モニタ(拡張ディスプレイ設定)の使用がお勧めです。これによりオシ

ロスコープの LCD ディスプレイには波形と計測結果を表示し、外部モニタには QualiPHY アプリケー

ションとテスト結果レポートを表示できます。

デュアル・モニタの設定方法はオシロスコープのオペレーターズ・マニュアルと基本操作マニュアルを

ご覧ください。

リモートコントロールの設定

QualiPHY ソフトウェアはオシロスコープ上で動作させることの他にリモート PC 上で動作させること

も出来るようになっています。この為、QualiPHY からオシロスコープを制御するには LAN 接続の設定

を必要とします。オシロスコープ上で QualiPHY を動作させる場合も Remote 設定で TCP/IP を選択し

てください。

オシロスコープのリモート設定

1. メニューバーから Utilities Utilities Setup...を選択します。

2. 画面下の設定ダイアログで Remote タブを開き、Control From のセクションで TCP/IP を選択しま

す。

なおオシロスコープ上で QualiPHY ソフトウェアを動作させる場合は

ネットワーク・ケーブルの接続は必要ありません。

IP アドレスは、ループバックアドレスを使用しますのでここで設定を行う必要はありません。

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8

QualiPHY の使用

この章では QualiPHY のユーザ・インタフェースと一般的な操作についての概要を解説します。

QPHY-DDR3 についての詳細な情報は QPHY-DDR3 による試験の章をご参照ください。

ソフトウェアへのアクセス

オシロスコープ画面のメニューバーから Analysis>QualiPHY を選択します。

QualiPHY フレームワーク・ダイアログは全般的な設定から個別のコンプライアンス・テストの動作に

いたるソフトウェア全体の流れを示しています。左から右に向かって、各サブ・ダイアログにて必要と

なる設定を行ってゆきます。

QualiPHY フレームワーク・ダイアログとシリアル規格選択メニュー

サブ・ダイアログは各手順に関連する設定項目毎にタブ分けされています。これらは以降のセクション

にて詳しく説明します。

もし Pause on Failure にチェックが入っている場合ね、QualiPHY はテスト項目が Fail した場合に、再

計測を行うかどうかを訊ねるメッセージを表示します。

フレームワーク・ダイアログの Exit ボタンは QualiPHY アプリケーションを終了します。

General Setup

最初のサブ・ダイアログでは一般的なシステム設定を行います。ここでの設定は変更するまで、規格に

関係なく有効となります。

Connection タブ

通常はオシロスコープ上で QualiPHY を動作させます。この場合 IP Address of the oscilloscope の設定

が 127.0.0.1 になっていることを確認します。


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Session Info タブ

テスト結果レポートに付記するテスト・セッションのオプション情報です。以下の情報が追記できます。

オペレータ名, Device Under Test (DUT), 温度(℃), 追加コメント

また、Contnue previous session にチェックを入れてテストを行った場合に結果を追記(Append Results)

するか、置き換え(Replace Results)て最終結果を記載するかの選択をする事が出来ます。

結果レポートを区別するために各セッションのはじめに最低でも DUT 名を入力するようにします。

Start 後に出る Session

Info ウィンドウ

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Report タブ

自動生成レポートに関係する設定です。

Reporting behavior

▢ “Ask to generate a report after tests.” : これはテスト結果の新しいレポートファイル生成時に

確認メッセージを表示する場合に選択します。

▢ “Never generate a report after tests.” : レポート生成をマニュアルで実行する場合に選択し

ます。

▢ “Always generate a report after tests.” : テスト後にレポートを自動生成する場合に選択しま

す。

Default レポート出力タイプ : XML, HTML, もしくは PDF のいずれかを選択します。

Output file name : レポートを保存するフォルダのフルパスを含んで指定します。

Allow style sheet selection in Report Generatorにチェックを入れて、レポート生成時(XLMおよびHTML

出力時のみ)にカスタムの .xslt を適用することも可能です。

Report Generator は Report タブと同じ内容を各レポート生成時毎に設定できる Report Generator ダイ

アログを開きます。

Report Generator ボタンを押したときに表

示されるウィンドウ

Advanced タブ

このタブは X-Replay Mode ダイアログを開きます。X-Replay Mode を参照してください。

About タブ

インストールされている QualiPHY のバージョン等の情報です。


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QualiPHY のテスト手順

General Setup を設定し終わったら、テスト・セッションを開始するステップに入ります。

テスト・セッションの設定

オシロスコープと DUTを接続します。接続方法は QPHY-DDR3 試験構成の章をご覧ください。

1. QualiPHY ソフトウェアを開き、フレームワーク・ダイアログを表示します。

2. 他のシリアル規格のオプションもアクティベートされている場合、Standard をクリックしてテスト

を行う規格を選択します。前回測定を行った規格がデフォルトとして表示されています。

3. Configuration ボタンをクリックします。

4. ポップアップ・メニューから、実施する試験構成を選択します。ここに表示される試験構成の詳細

は QPHY-DDR3 試験構成の章をご参照ください。

Note: 他のシリアル規格がダイアログに表示される場合でも、オプション・キーコードがアクティベ

ートされていない場合、テストは実施できません。

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ここで、画面にある鍵マークの付いた工場出荷時の定義済み試験構成をコピーし、設定を変更してカス

タム試験構成を作成することも可能です。詳細は QualiPHY のカスタマイズの章をご参照ください。

5. Close ボタンを押して Edit/View Configuration ダイアログを閉じ、フレームワーク・ダイアログに

戻ります。

テストの開始

1. フレームワーク・ダイアログにて Start ボタンを押してテストを開始します。

テストが開始されると、このボタンは Stop ボタンに切り替わります。テストを途中で止めたい場合にク

リックします。停止したところからテストを再開することも、最初からテストをやり直すことも出来ま

す。

2. ポップアップ・ウィンドウに従って進めます。QualiPHY は各テストにおける DUT 接続図の表示も

行い、規格の仕様書で定められたテストを順を追ってナビゲートします。


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3. 全テスト項目が問題なく完了した場合、フレームワーク・ダイアログのプログレス・バーが全部緑

に変わり、“All tests completed successfully” と表示されます。もし問題が発生した場合、ポップ

アップ・ウィンドウで以下の選択肢が提示されます。

Retry : 問題があって停止した項目からテストを再実行します。

Ignore and Continue : 無視して先に進みます。

Abort : テストをここで終了します。

結果レポートの生成

QualiPHY ソフトウェアはレポート生成を自動化します。フレームワーク・ダイアログから General

Setup > Report タブを開き、レポート生成の初期設定を行います。同様に、テスト実施後にフレームワ

ーク・ダイアログの Report Generator ボタンから手動でレポート生成を行うことも可能です。

Report Generator ボタンを押すと、Report タブでの選択と同様のメニューが出てきます。システムの初

期設定とは別個に、各レポート毎個別に適用されます。これによりレポートファイルを上書きせずに各

テスト・セッション毎にレポートを保存することが出来ます。その他、レポートをカスタム・スタイル・

シート(.xslt)にリンクするオプションや Informative項目の結果をレポートに含めない様にするオプショ

ンがあります。

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テスト・レポートは詳細テスト結果ページへリンクされたサマリーテーブルを含みます。(但しリンクが

有効なのは HTML 形式の場合のみ)

テスト・レポート・サマリーと詳細結果ページ


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レポートはデフォルトでは C:¥Program Files (x86)¥LeCroy¥XReplay に保存されます。

レポートファイルに添付されるロゴは以下のファイルを置き換えることで変更できます。

C:¥Program Files (x86)¥LeCroy¥Xreplay¥StyleSheets¥CustomerLogo.jpg

ロゴ画像ファイルの推奨最大サイズ 72dpi にて 250x100 ピクセル、24bit 1670 万色です。フォルダにあ

る元のファイルと同じ名前、同じフォーマットにします。

QualiPHY のカスタマイズ

画面にある鍵マークの付いた工場出荷時の定義済み試験構成は変更できません。しかし、標準テスト・

試験構成をコピーし、編集することでカスタム試験構成を作成することが可能です。

Setup タブ

Setup タブでは DDR テストを構成するときに重要になる項目を簡単に設定できます。以下の項目が定義

可能です :

1. プロトコルのバージョン－ DDR3 あるいは DDR3L

2. スピード・グレード－リストからあるいはカスタム・スピード・グレードを選択

3. プローブ構成－ QPHY-DDR3 試験構成の章を参照

4. テストするバースト－ Write, Read あるいは Write か Read のみ

試験構成のコピー

1. QualiPHY フレームワークを開き、Standard を選択(DDR3)

2. Edit/View Configuration をクリックし、新しく作る試験構成の元となる試験構成を選択。鍵

マークの付いた工場出荷時の定義済み試験構成もしくは他のカスタムコン試験構成を選択

可能です。

3. Copy をクリックし試験構成の名称と説明を入力。一度カスタム試験設定を定義すると、設

定した名称で Configuration タブに表示されるようになります。

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4. 新しいカスタム試験設定を選択し、以後の手順に従って設定を変更してゆきます。

テスト項目の選択

Test Selector タブにてテストを行う項目をチェックします。各テスト項目は DDR3 規格もしくは DDR3L

補遺によって定義されているものです。項目を選択すると各テストの説明が表示されます。

個々のテストやテスト・グループを繰り返し実施するには loop indefinitely until stop を選択するか、繰

り返し回数を入力します。繰り返し回数を設定する場合には、その前に enable にチェックを入れます。

変数の編集

Variable Setup タブには試験変数のリストがまとめられています。各変数については QPHY-DDR3

Variables の項目を参照してください。

値を編集するには：

1. Variable Setup タブで変数を選択し、Edit Variable をクリックします。(その項目の値をリ

セットするには Reset to Default ボタンを押します)

2. その変数の現在の値がポップアップしてきます。適用したい新しい設定を選択します。

Note: どの試験設定においても設定内容を変更した場合にはダイアログ上の Save ボタンがアクティ

ブになります。もしカスタム試験設定を変更した場合、変更を反映させるためには Save ボタンを押

します。


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テスト・リミットの編集

Limits タブは、その試験構成にて使用される判定値のセットを表示しています。カスタム試験構成にて、

このタブでどんなテスト判定値でも指定することが可能です。

Limits Manager で判定値セットの中の各設定値を見ることができます。デフォルト・セットは規格によ

って規定された判定値に設定されています。

カスタム判定値セットを作成するには：

1. Limits タブにて、Limits Manager ボタンをクリックします。

2. デフォルトのセットが選択されている場合は Copy Set をクリックし、名称を入力します。

3. 編集したい項目をダブル・クリックします。ポップアップ・メニューから新しい値を入力

します。

Note: 他のカスタム試験構成のカスタム・リミット・セットもコピーもしくは編集することが可能で

す。

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18

同様に.csv ファイルから Import Limits ボタンで判定値セットを読み込むことが出来ます。ボタンをクリ

ックしてファイルを指定します。

Tips : 同様に Export Limits ボタンで、現在のリミット値セットから.csv ファイルを作成することが出来

ます。Import するリミット値セットを作成する際，Export したファイルを元に編集する事が出来ます。


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QPHY-DDR3 による試験

試験の準備

テストもしくはデータ捕捉を開始する前に、オシロスコープを最低 20 分ウォーミングアップします。キ

ャリブレーションはソフトウェアから自動的に実施されるため、手動でのキャリブレーションは不要で

す。もしオシロスコープの温度が、そのオシロスコープで規定された温度範囲を超えた場合にも自動的

に実施されます。

プローブのデスキュー

DDR の計測において、適切な信号タイミングをテストするために QPHY-DDR3 を開始する前にプロー

ブを適切にデスキューしておくことが大切です。理想的には、デスキューを行う場合、QualiPHY が動

作して信号を捕捉するのと同じ条件で行うべきです。規格適合テストを行っている時と同じ条件でデス

キューされていることを確認します。デスキュー値を設定すると QPHY はそれを保存し、各テスト前に

その値を呼び出して適用します。

必要な機器

PCF200(D4x0-PS, D6x0-PS, Dxx30-PS プローブ・システム、あるいは WL-PLINK-CASE,

WL-PBUS-CASE に同梱)

Square-Pin(SP)チップ(D4x0, D6x0, Dxx30 に同梱)

50Ω終端

Note: 50Ω終端の代わりに、チャンネル入力に LPA-K-A アダプタをつけ、SMA ケーブルで PCF200

と接続しても構いません。

デスキュー方法

この手順を行う前に、オシロスコープおよびプローブを最低 20 分ウォーミングアップしておく必要があ

ります。

1) PCF200 をオシロスコープの Fast Edge 出力に接続します。PCF200 フィクスチャは２つ

の信号パスをもっています。写真の上側の信号パスは Solder-In(SI)、Quck-Connect(QC)、

リードおよび Adjustable Tip(AT)先端チップに対応します。下側は Square-Pin(SP)リード

922537 Rev A

20

に対応します。プローブ先端の種類に合わせてどちらかを Fast Edge 出力に接続します。

接続の簡略化の為に、SP リードの使用を推奨します。同じ先端リードが使用されるのであ

れば、先端リードの種類が実際の測定時と異なっていても問題ありません。

2) プローブは該当の接続エリアに電気的にはシングルエンドで接続されます。プローブ先端

の正極側を信号トレース（GND プレーンに挟まれた信号ライン）側に、負極側は GND プ

レーン側に接続します。正極側の表示はプローブ先端に＋マークで表示されています。反

射の影響を最小限にするため、信号パスの反対側には 50Ω終端を接続します。あるいは 50

Ω終端が無い場合は SMA ケーブルで PCF200 とオシロスコープの入力を接続しても構い

ません。

3) オシロスコープのトリガ・ソースを”fast edge”に指定し、トリガ・タイプを”edge”にします。

オシロスコープのタイムベースの delay はゼロにします。

全て適切に設定されたならば、オシロスコープの画面は以下の様になるはずです。もし、プローブによ

る伝搬遅延もオシロスコープ内部のチャンネルの伝搬遅延も無ければ 50%トリガ・レベルはオシロスコ

ープのグリッド中央に来るはずです。

チャンネルのデスキュー値は、50%立ち上がりエッジ点が下図に示すように画面中央に来る様に調整し

ます。チャンネル設定ダイアログから、Sinx/x 補間を enable にし、averaging を 50 にします。デスキ

ュー値を調整する為に Deskew エントリをタッチして黄色にハイライトさせます。そして、Adjust コン

トロール・ノブをまわして値を変更します。タイムベースを 10ns/div から始めて、トレースの立ち上が

りエッジの位置を中央に来る様にデスキュー値を調整します。さらにタイムベースを 20ps/div に下げ、

トレースの立ち上がりエッジの 50%点の位置が中央に来る様にデスキュー値を調整します。このプロセ

スを各プローブに対して同じプローブ先端リードを用いて繰り返します。次のプローブに移る前に、

Averaging を 1 に、Sinx/x 補間を off に戻しておきます。


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QualiPHY は動作の最初に各チャンネル設定ダイアログからデスキュー値を読み取って保存し、各測定

時に呼び戻してその値を適用します。しかし、手動でデフォルト・セットアップを呼び出したり、差動

プローブの AutoZero を行ってしまうとこの値は消えてしまう為、後で値を呼び戻せる様にデスキュー操

作が終了したらパネルセットアップを保存しておくことをお勧めします。

プローブの接続

接続する信号の決定

QPHY-DDR3 でテストを走らせるとき、どの信号ラインをプロービングすべきかは試験項目によって違

ってきます。各テスト構成において、どの信号ラインを使用するか分かりやすくするために、

Configuration タブに出てくる標準試験構成の名称にはプローブ設定を追記してありますが、個別のテス

トでのプローブ設定を見るには Test Selector タブで各項目を選択しハイライトします。

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22

最適なプロービング位置

DDR3 仕様は、DRAM チップの BGA 実装のボール位置で規定されています。この為、より仕様に従っ

た条件で測定するために極力 DRAM に近い場所でプロービングするべきです。これは信号の反射の影響

を最小にすることにもなります。しかしながら、いくつかの状況下では、コントローラ側に出来るだけ

近いところでプロービングした方が意味がある場合もあります。例えば、ユーザがコントローラの設計

者でコントローラの動作特性にのみ興味がある場合です。この様な場合には試験判定値のいくつかは適

切ではないことを覚えておく必要があります。

最も望ましいプロービング・ポイントのひとつはメモリ IC 直下の貫通ビアの基板裏側です。この場合は

一般的に非常によい信号忠実度が得られます。しかしながら、ここにプロービング出来る場合ばかりで

はありません。それ以外では Nexus Technologies 社によって提供される様なインタポーザを使用するこ

とです。どんな場合でも DRAM から等距離のポイントでプロービングするのが大切です。これによりタ

イミング計測において追加のスキューを発生させない事を保証できます。

Read(R)および Write(W)バースト要件

R/W バーストの検知

QPHY-DDR3 は R および W バーストをデータ(DQ)とストローブ(DQS)信号のスキューによって切り分

けます。W バーストにおいては QPHY は DQ と DQS 信号を約 1/4 位相ずれたものと考えます。R バー

ストについては、QPHY は DQ と DQS 信号が同相であると考えます。

R/W バーストの生成

QPHY-DDR3 では最低でも 10 の R バースト、あるいは 10 の W バーストを各捕捉波形に含むことを推

奨しています。しかし、統計的な有効性を高めるために、もっと多くのバーストを強く推奨します。DRAM

とコントローラを制御できるプログラムはオンラインで広く入手可能です。ひとつの例として

Memtest86+ が memtest.org からダウンロード可能です。Memtest を使う場合の推奨は test mode 7

です。このモードではランダムに R と W バースト両方を発生します。また、DUT をシミュレートする

のにユーザ自作のプログラムを使用する事も可能です。


922537 Rev A 23

測定開始前の信号チェック

QPHY-DDR3 を走らせる前に、ユーザは意味のある測定が出来るかどうかを確認するために簡単に波形

をチェックしておくことが必要です。この章では QPHY-DDR3 を走らせる前にオペレータが確認すべき

いつくかの基本的な項目について述べます。

期待されるチャンネル

デフォルトの設定では、QPHY-DDR3 は CH1 にクロック(CK)、CH2 に DQS、CH3 に DQ 信号が表示

されることを想定しています。これは接続図に示される通りです。Channel Index 変数ではそれらのチャ

ンネルを変更することが出来ます。

信号振幅

最良の結果を得るためには信号の振幅がグリッドの 80%にになるようにする事が推奨されます。各信号

の画面上の振幅を調整するには Channel Gain 変数を使います。QPHY-DDR3 を走らせる前に最適ゲイン

に設定することで最良の結果を得ることが出来ます。

クロック周波数

オシロスコープの frequency 計測パラメータを使用することで、ユーザは DDR システムが動作している

トランスファ・レートを確認できます。(トランスファ・レート=Frequency * 2) この確認は試験判定値

の選択にも必要です。同時に目視による簡易チェックを行い、反射によるエッジの段差が生じていない

ことを確認することも必要です。

922537 Rev A

24

R/Wバースト存在の確認

オペレータは、そのデバイスが必要となるバーストを出力しているかどうかを確認する簡単なチェック

を行う必要があります。一般的に、R バースト中の DQ と DQS は同相、W バースト中の DQ と DQS は

1/4 サイクルずれていなければなりません。またさらに、R および W バーストがあるかどうかの判別に

振幅差をみることもひとつの方法です。R バーストは、W バーストよりも振幅が大きくなります。もし

メモリチップとコントローラの距離が離れている場合は、メモリ側でプロービングしているのであれば

その差は目視でわかるぐらいになります。

Idleレベルのチェック

QPHY-DDR3 を走らせる前に、オペレータは信号の Idle レベルを簡単に確認しておく必要があります。

もし、信号の Idle レベルがずれている場合は、R/W バーストの検出や電気的、タイミング計測に影響が

あります。DQS の Idle レベルは約 0mV、DQ は約 VDD/2（DDR3 の場合 750mV）である必要があり

ます。

QPHY-DDR3 試験構成

試験構成には変数の設定、判定値のセットおよびテスト項目の選択が含まれます。各変数やそのデフォ

ルト値についての詳細は QPHY-DDR3変数の章を参照してください。

Clock tests DDR3-1333 (1 probe)

この試験構成は全てのクロックのテストを行います。差動クロックに接続された 1 つのプローブが必要

です。全ての変数はデフォルト設定になっています。テスト判定値は DDR3-1333 が選択されています。

CKdiff-DQse-DQSdiff 1333 Write Burst (3 probes)


922537 Rev A 25

この試験構成は 3 プローブが必要となる全ての Write バーストのテストを行います。プローブは差動ク

ロック、差動ストローブ、およびシングルエンドのデータに接続する必要があります。全ての変数はそ

れらのデフォルト値に設定されています。テスト判定値は DDR3-1333 に設定されています。

CKdiff-DQse-DQSdiff 1333 Read Burst (3 probes)

この試験構成は 3 プローブが必要となる全ての Read バーストのテストを行います。プローブは差動クロ

ック、差動ストローブ、およびシングルエンドのデータに接続する必要があります。全ての変数はそれ

らのデフォルト値に設定されています。テスト判定値は DDR3-1333 に設定されています。

Eye Diagram (3 probes)

この試験構成は Read および Write バースト両方に対して Eye ダイアグラム・テストを行います。プロ

ーブは差動クロック、差動ストローブ、およびシングルエンドのデータに接続する必要があります。全

ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています。テスト判定値は DDR3-1333 に設定されています。

Eye Diagram with CS Enabled (4 probes)

この試験構成は Read および Write バースト両方に対して Eye ダイアグラム・テストを行います。プロ

ーブは差動クロック、差動ストローブ、およびシングルエンドのデータ、チップ・セレクトに接続する

必要があります。”Use Chip Select”が Yes に設定されている以外は全ての変数はそれらのデフォルト値

に設定されています。テスト判定値は DDR3-1333 に設定されています。

CKDiff-DQse-DQS-ADD/CTRLse (4 probes)

この試験構成は Address/Control テストを行います。プローブは差動クロック、差動ストローブ、および

シングルエンドのデータ、シングルエンドの Address/Control 信号に接続する必要があります。全ての

変数はそれらのデフォルト値に設定されています。テスト判定値は DDR3-1333 に設定されています。

Pre/Postamble tests (3 probes)

この試験構成では Preamble および Postamble のテストを Read および Write 両バーストに対して行い

ます。プローブは差動クロック、差動ストローブ、およびシングルエンドのデータに接続する必要があ

ります。全ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています。テスト判定値は DDR3-1333 に設定さ

れています。

Demo of All Tests

この試験構成は D:¥Waveforms¥DDR3 フォルダに置かれた保存された波形を使用し、全てのテストを行

います。”Use Stored Waveforms”が Yes、”Use Stored Trace for Speed Grade”が Yes になっている

以外全ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています。テスト判定値は DDR3-1333 に設定されて

います。

922537 Rev A

26

QPHY-DDR3 試験の表記

これらは標準の DDR3コンプライアンス・テストに関するものです。各 QPHY-DDR3試験構成は異なる入力

信号とプローブ構成を用いたテストのグループを繰り返します。プローブ構成は以下の通りです：

1. CK(diff) －差動クロック

2. CK(diff)-DQS(diff)-DQ(single ended) －差動クロック、差動ストローブ、およびシン

グルエンド・データ

3. CK(diff)-DQS(diff)-DQ(single ended)-ADD,CTRL(s.e.) －差動クロック、差動ストロー

ブ、シングルエンド・データ、およびシングルエンド・アドレス/コントロール

4. CK(diff)-DQS_t-DQ(single ended)-DQS_c －差動クロック、シングルエンド・ストロー

ブ(true)、シングルエンド・データ、シングルエンド・ストローブ(compliment)

5. CK_t-DQS(diff)-DQ(single ended)-CK_c －シングルエンド・クロック(true)、差動スト

ローブ、シングルエンド・データ、シングルエンド・クロック(complient)

6. VREF(single ended) －シングルエンド VREF

以降の表記では試験が実施できるプローブ構成はその番号で表します。


922537 Rev A 27

Clock Tests

この試験構成ではプローブ構成１を使用して実施します。

tCK(avg), Average Clock Period

tCK(avg)は連続した 200サイクルのクロック周期を計測して平均したクロックとして定義します。クロ

ックの周期は立ち上がりエッジから立ち上がりエッジまでを計算します.

tCK(abs), Absolute Clock Period

tCK(abs)はある立ち上がりエッジからその次の連続した立ち上がりエッジまでを計測したものとして絶

対的なクロック周期として定義します。

tCH(avg), Average High Pulse Width

tCH(avg)は Hi側パルス幅の平均として定義され、連続的した 200サイクルの Hi側パルス幅を使い計算

します。

tCL(avg), Average Low Pulse Width

tCL(avg) は Low側パルス幅の平均として定義され、連続的した 200サイクルの Low側パルス幅を使い計

算します。

tCH(abs), Absolute High Pulse Width

tCH(abs)はある立ち上がりエッジから続く立ち下りエッジまでを計測した瞬間的な Hi側パルス幅として

定義されます。

tCL(abs), Absolute Low Pulse Width

tCL(abs)はある立ち下がりエッジから続く立ち上がりエッジまでを計測した瞬間的な Low側パルス幅と

して定義されます。

tJIT(duty), Half Period Jitter

tJIT(duty)は連続した 200 サイクルを通して累積した一連の tCH jitter や tCL jitter として定義され

ます。tCH jitterは tCH(avg)から各 tCHを引いた値の最大偏差。tCL jitter は tCL(avg)から各 tCLを

引いた値の最大偏差。

tJIT(duty) = Min/max of {tJIT(CH), tJIT(CL)}

ここで、tJIT(CH) = {tCHi - tCH(avg) ; i=1 to 200} および tJIT(CL) = {tCLi - tCL(avg) ; i=1 to

200}

tJIT(per), Clock Period Jitter

tJIT(per)は tCK(avg)から各 tCKの偏差を計算し、その最大値として定義されます。

tJIT(per) = Min/max of {tCKi - tCK(avg) ; i = 1 to 200}

922537 Rev A

28

tJIT(cc), Cycle to Cycle Period Jitter

tJIT(cc)は隣り合うクロック間での周期の差として定義されます。

tJIT(cc) = Max of |{tCKi +1 - tCKi}|

tCK, tCH, tCL, tJIT(duty), tJIT(per),および tJIT(cc)テスト完了後のオシロスコープの画面は以下に

なります。

この画面に表示されているもの：

Z1は差動クロック信号のズーム・トレース


922537 Rev A 29

tCK, tCH, tCL および tJIT(duty)の結果

オシロ画面上の Measureセクションにおいて：

tCK rise(P1)は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジのみから Vref(0mV)にて計測され

た周期。Measure 値の統計表示テーブルにおける平均値が結果レポート中の tCK(avg),rise

の計測値に相当。最小値が tCK(abs),rise,min に相当します。最大値は tCK(abs),rise,max に

相当します。

tCK fall(P2)は Z1(差動クロック信号)の立ち下がりエッジのみから Vref(0mV)にて計測され

た周期。Measure 値の統計表示テーブルにおける平均値が結果レポート中の tCK(avg),fall

の計測値に相当。最小値が tCK(abs),fall,min に相当します。最大値は tCK(abs),fall,max に

相当します。

tCH(P3)は Z1(差動クロック信号)の Hiパルスのみから Vref(0mV)にて計測されたパルス幅。

Measure値の統計表示の平均値が tCH(avg)に相当し、結果レポート中には mtCK(avg)の単位

で記載されます。最小値は tCH(avg),min に相当し、結果レポート中には mtCK(avg)の単位

で記載されます。

922537 Rev A

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tCL(P4)は Z1(差動クロック信号)の Lowパルスのみから Vref(0mV)にて計測されたパルス幅。

Measure値の統計表示の平均値は tCL(avg)に相当し、結果レポート中に mtCK(avg)を単位と

して記載されます。最小値は tCL(abs),min に相当し、結果レポート中に mtCK(avg)を単位

として記載されます。

tJIT(CH)(P5)は全ての tCHの値から P3(tCH(avg))の平均値を差し引いた値。統計表示の最

小値は tJIT(CH),min に相当し、最大値は tJIT(CH),max に相当します。

tJIT(CL)(P6)は全ての tCLの値から P4(tCL(avg))の平均値を差し引いた値。統計表示の最小

値は tJIT(CL),min に相当し、最大値は tJIT(CL),max に相当します。

tJIT(per)rise(P7)は全ての tCK riseの値から P1(tCK(avg),rise)の平均値を差し引いた値。

統計表示の最小値は tJIT(per)rise,min に相当し、最大値は tJIT(per)rise,max に相当します。

tJIT(per)fall(P8)は全ての tCK fallの値から P2(tCK(avg),fall)の平均値を差し引いた値。

統計表示の最大値は tJIT(per)fall,min に相当し、最大値は tJIT(per)fall,max に相当します。

tJIT(cc)rise(P9)は２つの連続したクロック周期の差を立ち上がりエッジのみから求めます。

全ての連続した２クロック周期の絶対最大偏差は tJIT(cc)rise に相当します。

tJIT(cc)fall(P10) は２つの連続したクロック周期の差を立ち下がりエッジのみから求めま

す。全ての連続した２クロック周期の絶対最大偏差は tJIT(cc)fall に相当します。

tJIT(duty)min(P11)は tCH/tCLクロック周期の最小値と tCH/tCL の平均値の差の最小値。こ

れは tJIT(duty),min に相当します。

tJIT(duty)max(P12)は tCH/tCLクロック周期の最小値と tCH/tCL の平均値の差の最大値。こ

れは tJIT(duty),max に相当します。


922537 Rev A 31

tERR(n Per), Cumulative Error

tERR は tCK(avg)からｎ倍の連続したサイクルに渡る累積エラーとして定義されます。

12 の異なるテストがあります：

tERR(2per), tERR (3per), tERR (4per), tERR (5per), tERR(6per), tERR (7per), tERR (8per),

tERR (9per), tERR (10per), tERR (11per), tERR (12per), tERR (13-50per)

Note : tERR(2per), tERR (3per), tERR (4per), and tERR (5per) についてのみ以下で解説します。全

ての tERR(n per)テストの設定はみなどれも同じです。

tERR(2per), tERR(3per), tERR(4per)および tERR(5per)テストの完了後のオシロスコープ画面は以下に

なります。


Z1は差動クロック信号のズーム・トレース

922537 Rev A

32

tERR(2per), tERR (3per), tERR (4per), and tERR (5per) の結果

オシロ画面上の Measureセクションにおいて：

tCK rise(P1)は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジのみから Vref(0mV)にて計測され

た周期。この値は立ち上がりエッジにおける tERRの値の計算に使用されます。

tCK fall(P2)は Z1(差動クロック信号)の立ち下がりエッジのみから Vref(0mV)にて計測され

た周期。この値は立ち下がりエッジにおける tERRの値の計算に使用されます。

tERR(1 per)r(P3)は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジ(正パルス)のみから

Vref(0mV)において計測された TIE計測値。この値はインターバル１（１サイクル）の計測

設定になります。オシロ画面上の表示のみとなり結果レポートには表示されません。

tERR(1 per)fall(P4)は Z1(差動クロック信号)の立ち下がりエッジ(負パルス)のみから

Vref(0mV)において計測された TIE計測値。この値はインターバル１（１サイクル）の計測

設定になります。オシロ画面上の表示のみとなり結果レポートには表示されません。

tERR(2 per)r(P5)は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジ(正パルス)のみから

Vref(0mV)において計測された TIE計測値。この値はインターバル２(２サイクル)の計測設

定になります。Measure値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の

tERR(2per)rise,min の計測値に相当します。最大値が tERR(2per)rise,max に相当します。


Vref(0mV)において計測された TIE計測値。この値はインターバル２(２サイクル)の計測設


tERR(2per)fall,min の計測値に相当します。最大値が tERR(2per)fall,max に相当します。


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tERR(3 per)r(P7) は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジ(正パルス)のみから

Vref(0mV)において計測された TIE計測値。この値はインターバル３(３サイクル)の計測設




Vref(0mV)において計測された TIE計測値。この値はインターバル３(３サイクル)の計測設




Vref(0mV)において計測された TIE計測値。この値はインターバル４(４サイクル)の計測設




Vref(0mV)において計測された TIE計測値。この値はインターバル４(４サイクル)の計測設




Vref(0mV)において計測された TIE計測値。この値はインターバル５(５サイクル)の計測設




Vref(0mV)において計測された TIE計測値。この値はインターバル５(５サイクル)の計測設



922537 Rev A

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Eye Diagram – DQ and DQS Eyes

この試験はプローブ構成２を使用して Writeバースト(input)および Readバースト(output)両方に対し

て実施されます。

これらは捕捉波形中の全バーストを用いて Eyeパターンを描画する補足情報的なテストです。Eyeパター

ンはエッジ・タイミングのリファレンスとして CKもしくは DQSのどちらかを使用して描画することが出

来、さらなるデバックが可能になります。

Write Bursts (Inputs) – CK as Timing Reference

このテストは CK信号を基準として DQと DQS両方の Eyeパターンを描画します。これにより DQSと CKの

間のスキューに対しての詳細がわかります。

CK をタイミング基準とした Writeバースト(input)完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


F6(赤トレース, 下段 Eye)は捕捉信号中の Writeバーストの DQSの Eyeパターン。このテス

トのタイミング基準には CKが使用されています。DQSと CKのスキューは立ち上がりエッジ

と立ち下がりエッジのクロスポイントのグリッド中心(グリット下に△マークのある位置)

からのずれを見ることでわかります。演算トレース名には DQS 信号名に対応したエイリア

ス名がつけられています。Eyeパターン描画に使用されたビット数は F6ディスクリプタ BOX

の下段に表示されています。この場合では 3,855の DQSビットが Eyeパターンに含まれま

す。

F7(青トレース, 上段 Eye)は捕捉信号中の Writeバーストの DQ の Eyeパターン。演算トレ

ース名には DQ信号名に対応したエイリアス名がつけられています。Eyeパターン描画に使

用されたビット数は F7ディスクリプタ BOXの下段に表示されています。この場合では 3,855


922537 Rev A 35

の DQビットが Eyeパターンに含まれます。

Measure セクションにおいて：

tDQDQS(P2)は DQと DQS間のスキュー計測値。この計測は１バースト毎に１回行われるた

め、統計表示テーブルの num値を見ることで捕捉波形にいくつの Writeバーストあったか

がわかります。

freq(F1)は差動クロック信号の周波数計測値。

Write Bursts (Inputs) – DQS as Timing Reference

このテストは DQS信号を基準として DQと DQSの Eye パターン両方を描画します。これにより DQと DQS

間のスキューについての詳細がわかります。

DQS をタイミング基準とした Writeバースト(input)テスト完了後のオシロスコープの画面は以下になり

ます：


F6(赤トレース, 下段 Eye)は捕捉信号中の Writeバーストの DQSの Eyeパターン。このテス

トのタイミング基準には DQSが使用されています。これにより立ち上がりエッジと立ち下

がりエッジのクロスポイントはグリットの中央(グリット下に△マークのある位置)にちょ

うど一致します。演算トレース名には DQS信号名に対応したエイリアス名がつけられてい

ます。Eyeパターン描画に使用されたビット数は F6ディスクリプタ BOXの下段に表示され

ています。この場合では 4,336の DQS ビットが Eyeパターンに含まれます。

F7(青トレース, 上段 Eye)は捕捉信号中の Writeバーストの DQ の Eyeパターン。演算トレ

ース名には DQ信号名に対応したエイリアス名がつけられています。Eyeパターン描画に使

用されたビット数は F7ディスクリプタ BOXの下段に表示されています。この場合では 4,336

922537 Rev A

36




め、統計表示テーブルの num値を見ることで捕捉波形にいくつの Writeバーストあったか

がわかります。


Read Bursts (Outputs) – CK as Timing Reference

このテストは CK信号を基準として DQと DQS両方の Eyeパターンを描画します。これにより DQSと CKの

間のスキューに対しての詳細がわかります。

CK をタイミング基準とした Readバースト(output)完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


F6(赤トレース, 下段 Eye)は捕捉信号中の Readバーストの DQSの Eyeパターン。このテス

トのタイミング基準には CKが使用されています。演算トレース名には DQS信号名に対応し

たエイリアス名がつけられています。Eyeパターン描画に使用されたビット数は F6ディス

クリプタ BOX の下段に表示されています。この場合では 26,521の DQSビットが Eyeパター

ンに含まれます。

F7(青トレース, 上段 Eye)は捕捉信号中の Readバーストの DQ の Eyeパターン。演算トレー

ス名には DQ 信号名に対応したエイリアス名がつけられています。Eyeパターン描画に使用

されたビット数は F7ディスクリプタ BOXの下段に表示されています。この場合では 26,522



922537 Rev A 37



め、統計表示テーブルの num値を見ることで捕捉波形にいくつの Readバーストあったかが

わかります。


Read Bursts (Outputs) – DQS as Timing Reference

このテストは DQS信号を基準として DQと DQSの Eye パターン両方を描画します。これにより DQと DQS

間のスキューについての詳細がわかります。

DQS をタイミング基準とした Readバースト(output)テスト完了後のオシロスコープの画面は以下になり

ます：


F6(赤トレース, 下段 Eye)は捕捉信号中の Readバーストの DQSの Eyeパターン。このテス

トのタイミング基準には DQSが使用されています。これにより立ち上がりエッジと立ち下

がりエッジのクロスポイントは 2グリット目にちょうど一致します。(グリット下に△マー

クのある位置)演算トレース名には DQS信号名に対応したエイリアス名がつけられています。

Eyeパターン描画に使用されたビット数は F6ディスクリプタ BOXの下段に表示されていま

す。この場合では 27,579の DQSビットが Eyeパターンに含まれます。

F7(青トレース, 上段 Eye)は捕捉信号中の Readバーストの DQ の Eyeパターン。演算トレー

ス名には DQ 信号名に対応したエイリアス名がつけられています。Eyeパターン描画に使用

されたビット数は F7ディスクリプタ BOXの下段に表示されています。この場合では 27,580


922537 Rev A

38



め、統計表示テーブルの num値を見ることで捕捉波形にいくつの Readバーストあったかが

わかります。



922537 Rev A 39

Electrical Tests on Write Bursts

これら Electrical試験項目は以下に示されるプローブ構成を使用して Write バースト(input)に対して

実施されます。

SlewR/SlewF, Input Slew Rate

これらの試験はプローブ構成２、３および５を使用して行います。

これら試験の目的は全ての Writeバースト(input)信号のスリューレートの特性評価です。この試験は立

ち上がり(SlewR)および立ち下がり(SlewF)エッジ両方に対して行われます。

シングルエンド信号に対する SlewRは Vrefから VIH(ac)minまで、SlewFは Vrefから

VIL(ac)maxまでを計測します。

差動信号に対する SlewRは VILdiff(ac)maxから VIHdiff(ac)minまで、SlewFは

VIHdiff(ac)min から VILdiff(ac)max までを計測します。

Note : DQに対しての SlewRのみ以下で解説します。SlewFでも VIL(ac)が VIH(ac)の代わりに使

用される以外は計測方法としては同じになります。

SlewRテスト完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@SlewRmin

で表示される SlewR計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS と割

り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号波形は参考表

示になります。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@SlewRmin

で表示される SlewR計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQと

922537 Rev A

40

割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号トレースが

この試験において計測される対象です。

SlewR/SlewF 試験結果


SlewR(P1)は立ち上がりエッジにおける DQのスリューレート計測値。この値は Vrefから

VIH(ac)minまでで計測されます。統計表示テーブル中の最小値は結果レポート中の SlewR

of DQ min に相当します。このテストは規格値の無い Informational onlyのテストになり

ます。

tDQDQS(P2)は DQと DQS間のスキュー計測値。この計測は１バーストにつき１回実施され

るため、この計測値の統計表示テーブルの num値を見ることで Writeバーストがいくつあ

ったかがわかります。

t@SlewRmin(P4)は SlewRが最小値になった位置を示します。これは”最悪ケース結果”の

波形位置をズーム表示するのに使用されます。

slew(Z3)は SlewR の最小値を示し、スリューレート計測マーカを表示するのに使用されます。


922537 Rev A 41

VIH(ac)/VIL(ac), Differential AC input logic high/low

これらの試験項目はプローブ構成２および３で実施されます。

VIH(ac)は Vrefから Vrefの区間の Hiパルスのローカル最大値を計測します。VIL(ac)は Vrefから Vref

の区間の Lowパルスのローカル最小値を計測します。

Note: VIH(ac)minのみ以下で解説します。VIL(ac)max は Lowパルスを使用する以外計測手順は全く同じ

になります。

VIH(ac)試験を完了した後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@VIH(ac)min

で表示される VIH(ac)計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS と

割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号波形は参考

表示になります。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@VIH(ac)min

で表示される VIH(ac)計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQ

と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号トレース

がこの試験において計測される対象です。

VIH(ac)/VIL(ac)試験結果

922537 Rev A

42


VIH(ac)(P1)は Vrefから Vrefの区間の DQのローカル最大値を計測します。統計表示テーブ

ルの最小値が VIH(ac)min 値に相当します。この試験は計測値が Vref + 使用される ACレベ

ルより大きければパスします。

t@VIH(ac)min(P4)は VIH(ac)の最小値が計測された時間位置を示しています。これは”最

悪ケース結果”の波形位置をズーム表示するのに使用されます。

freq(F1)は差動クロック信号の周波数を計測します。


922537 Rev A 43

Time Above AC-Level (tDVAC and tVAC)

これはプローブ構成２で実施される２つの試験からなるグループです。

この試験の目的はリングバックが発生する前に許される時間を確認することです。tDVACは差動入力(DQS

および CK)に対して VIHdiff(ac)を超える時間および VILdiff(ac)を下回る時間を計測します。tVACは入

力に対して VIH(ac)を超える時間および VIL(ac)を下回る時間を計測します。これらの信号は Write バー

ストが検出されたときに計測のみされます。

Note: VIHdiff(ac)に対して計測される DQSの tDVAC のみ以下で解説します。VILdiff(ac)に関する計測手

順はまったく同じになります。tVACは VIHdiff(ac)と VILdiff(ac)ではなく VIH (ac)を超える部分で計

測されます。

tDVAC試験が完了した後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@VACmin

で表示される tDVAC計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS と割

り当てられた信号名および VIHdiff(ac)レベルが表示されています。

tDVAC/tVAC 結果


922537 Rev A

44

tVACvih(P1)は DQSに対し VIHdiff(ac)を超える時間を計測します。VIHdiff(ac)はトレー

ス・ラベル”DQS at VIH(ac)”によって表示されます。統計表示テーブルの最小値が tDVAC

Pos min of DQS に相当します。使用される ACレベルはレポートに記載されます。この試

験は計測値が定義された判定値以上であればパスします。

tDQDQS(P2)は DQと DQS間のスキューを計測します。この計測は１バースト毎に１回おこ

なわれるので、統計表示テーブルの num値を見ることで Write バーストが捕捉波形にいく

つ含まれるかがわかります。

t@tVACmin(P4)は tDVACの最小値の時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”の波

形位置をズーム表示するのに使用されます。



922537 Rev A 45

AC Over/Undershoot

これはプローブ構成２、３、４および５を使用し、DQ, DQS, CKおよび ADDに対して実施される４つの項

目からなる試験グループです。

この試験の目的は Writeバースト中の DQ, DQS,および CKに対して VDDQを超えるオーバーシュートおよ

び VSSQを下回るアンダーシュートを評価することです。ピーク振幅および面積が試験されます。

Note: DQに対するオーバーシュートのみ以下で解説します。DQS, CKおよび ADDに対しての計測手順は全

く同じです。同様にアンダーシュートに対する計測手順は VDDQの代わりに VSSQを使用する以外は全く

同一です。

Peak Amplitude

Overshoot Peak Amplitude 試験を完了した後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@PeakMax

で表示される Overshoot Peak Amplitude計測における“最悪ケース結果”の位置をズーム

しています。DQSと割り当てられた信号名がトレース上に表示されています。この信号波形

は参考表示になります。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@PeakMax

で表示される Overshoot Peak Amplitude計測値における“最悪ケース結果”の位置をズー

ムしています。DQと割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。

この信号トレースがこの試験において計測される対象です。

922537 Rev A

46

Overshoot/Undershoot 結果


OvershootPeak(P1)は各DQパルスにおいてVDDQを超えるオーバーシュートのピーク振幅を

計測します。VDDQレベルはグリット上に一点鎖線カーソルで、ピーク振幅レベルはもう一

つのカーソルで表示されます。ピーク振幅は遷移～1UI後のみの区間で計測されます。もし

ピーク値が VDDQ を超えることが無い場合は負の計測値を返します。統計表示テーブルにお

ける最大値は結果レポート中の DQ Overshoot peak amplitude Max に相当します。この試

験は計測値が 400mV以下でパスします。

t@PeakMax(P3)は Overshoot Peakの最大値の時間位置を示します。これは”最悪ケース

結果”の波形位置をズーム表示するのに使用されます。


922537 Rev A 47

Area

Overshoot Area 試験を完了した後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@AreaMax

で表示される Overshoot Area計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。

DQSと割り当てられた信号名がトレース上に表示されています。この信号波形は参考表示に

なります。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@AreaMax

で表示される Overshoot Area計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしていま

す。DQと割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号ト

レースがこの試験において計測される対象です。

922537 Rev A

48

Overshoot/Undershoot 結果


OvershootArea(P1)は各 DQパルスにおいて VDDQを超えるオーバーシュートの面積を計測し

ます。VDDQレベルはグリット上にカーソルで表示されます。オーバーシュート面積は遷移

～1UI後のみの区間で計測されます。統計値表示テーブルにおける最大値が DQ Overshoot

area Max に相当します。この試験は計測値が規定された判定値以下でパスします。

t@AreaMax(P3)は Overshoot Areaの最大値の時間位置を示します。これは”最悪ケース結

果”の波形位置をズーム表示するのに使用されます。


922537 Rev A 49

VSWING(MAX), Input Signal Maximum Peak to Peak Swing

この試験はプローブ構成３を使用して実施されます。

この試験の目的は ADD/CTRL 信号の Peak to Peakの最大スイング値を評価することです。

VSWING 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z1はプローブ・デスキュー適用後の CK信号、すなわち F1のズームトレース。t@VSWINGma

で表示される VSWING計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。CK と割

り当てられた信号名がトレース上に表示されています。この信号波形は参考表示になりま

す。

Z4はプローブ・デスキュー適用後の ADD信号、すなわち F4のズームトレース。t@VSWINGma

で表示される VSWING計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。ADD



VSWING 試験結果


VSWING(P1)は ADD/CTRLパルスに対して peak to peakスイングを計測します。これは

VIH(ac)と VIL(ac)の差を求めます。統計表示テーブルの最大値が結果レポート中の

VSWING Max に相当します。この試験は判定値の無い Informational onlyの項目で、DDR2

からの古い方式で計測されます。

t@VSWINGma(P3)は VSWINGの最大値の時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”

の波形位置をズーム表示するのに使用されます。

922537 Rev A

50


VSEH(ac)min/VSEL(ac)max, Single-ended AC high/low level

この試験はプローブ構成４および５で実施します。

VSEH(ac)は Vrefから Vref の区間の Hiパルスのローカル最大値および VIL(ac)は Vrefから Vrefの区間

の Lowパルスのローカル最大値を計測します。これはシングルエンド信号に対する VIH(ac)/VIL(ac)と同

等です。

Note: VSEH(ac)minのみ以下で解説します。VSEL(ac)の計測手順は Lowパルスを使用する以外は全く同じ

です。

VSEH(ac)試験完了後のオシロスコープの画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS_t信号、すなわち F2のズームトレース。t@Vsehacmin

で表示される VSEH(ac)計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS_t

と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています。この信号トレースがこの試験

において計測される対象です。

Z4はプローブ・デスキュー適用後の DQS_c信号、すなわち F4のズームトレース。t@Vsehacmin

で表示される VSEH(ac)計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS_c

と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号波形は参

考表示になります。


922537 Rev A 51

VSEH/VSEL(ac)試験結果


VSEH(ac)(P1)は Vrefから Vrefの区間の DQS_tのローカル最小値を計測します。統計表示

テーブルの最小値は結果レポート中の VSEH(ac) Min DQS_t に相当します。この試験は計

測値が Vref + 使用される ACレベルよりも大きい場合にパスします。

t@Vsehacmin(P4)は VSEH(ac)の最小値の時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”



922537 Rev A

52

VIX(ac), AC Differential Input Cross Point Voltage

この試験はプローブ構成４および５を使用して実施されます。

この試験の目的は差動入力のクロスポイント電圧の評価です。VIX(ac)は差動入力信号がどの電圧で交差

するかを計測します。VIX(ac)の代表値は送信デバイスの約 0.5 × VDDQと想定されています。最大値と

最小値の両方が計測されます。

VIX(ac)試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS_t信号、すなわち F2 のズームトレース。

t@VIX(ac)maxで表示される VIX(ac)計測における“最悪ケース結果”の位置をズームして

います。DQS_tと割り当てられた信号名がトレース上に表示されています。

Z4はプローブ・デスキュー適用後の DQS_c信号、すなわち F4 のズームトレース。

t@VIX(ac)maxで表示される VIX(ac)計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームし

ています。DQS_c と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。

VIX(ac)試験結果


VIX (ac)(P1)は DQS_tと DQS_cが交わる点の電圧値を計測します。統計表示テーブルの最大

値は結果レポート中の VIX(ac) max に相当します。

tDQDQS(P2)は DQと DQSのスキューを計測します。この計測は１バースト毎に１回行われ


922537 Rev A 53

るので、統計表示テーブル中の num値を見ることで捕捉波形中にいくつの Writeバースト

があるかがわかります。

t@VIX(ac)min(P3)は VIX(ac)が最大値となる時間位置を示します。これは”最悪ケース結



922537 Rev A

54

Electrical Tests on Read Bursts

これらの電気試験は以下に示されるプローブ構成で Readバースト(output)に対して実施されます。

VOH(ac)/VOL(ac), Differential AC output logic high/low

これらの試験はプローブ構成２を使用して実施されます。

VOH(ac)は Vrefから Vref間の Hiパルスのローカル最大値と最小値を計測します。VOL(ac)は Vrefから

Vref間の Lowパルスのローカル最大値と最小値を計測します。

Note: VOH(ac)のみ以下で解説します。VOL(ac)の計測手順は Lowパルスを用いること以外は全く同じにな

ります。

VOH(ac)試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@VOH(ac)max

で表示される VOH(ac)計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS と

割り当てられた信号名がトレース上に表示されています。この信号波形は参考表示になり

ます。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@VOH(ac)max

で表示される VOH(ac)計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQ




922537 Rev A 55

VOH(ac)/VOL(ac)試験結果


VOH (ac)(P1)は Vrefから Vrefの区間の DQのローカル最小値を計測します。統計表示テー

ブルの最大値は結果レポート中の VOH(ac) max に相当します。この試験は判定値の無い

Informational Only の項目になります。

t@VOH(ac)max(P4)は VOH(ac)が最大値となる時間位置を示します。これは”最悪ケース結



922537 Rev A

56

SRQ, Output Slew Rate

この試験はプローブ構成２で実施されます。

この試験の目的は捕捉波形中の全ての Read バースト(output)における DQ と DQS のスリューレートを

評価することです。この試験は立ち上がりエッジ(SRQ)および立ち下がりエッジ(SRF)両方に対して実施

され、最小値と最大値が計測されます。

Note: DQ の立ち上がりエッジにおけるスリューレートのみ以下で解説します。立ち下がりエッジにおけ

る計測手順はVOL(ac)からVOH(ac)で求める代わりにVOH(ac)からVOL(ac)で求める以外は全く同じで

す。DQS に対する計測方法も同様に全く同じになります。

SRQ 計測完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@SRQ Rmin

で表示される SRQ R計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQSと割

り当てられた信号名がトレース上に表示されています。この信号波形は参考表示になりま

す。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@SRQ Rmin

で表示される SRQ R計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQと

割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号トレースが



922537 Rev A 57

SRQ 結果


SRQ R(P1)は立ち上がりエッジからの DQのスリューレートを計測します。立ち上がりエッ

ジからのスリューレートは VOL(ac)から VOH(ac)までを計測して行われます。統計表示テー

ブルの最小値は結果レポート中の SRQ R of DQ min に相当します。

tDQDQS(P2)は DQと DQS間のスキュー値を計測します。この計測は１バースト毎に１回行

われるので、統計表示テーブル中の num値を見ることで捕捉波形中にいくつの Readバース

トがあるかがわかります。

t@SRQ Rmin(P4)は SRQ Rが最小値となる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”


P5:slew(Z3)は SRQ Rの最小値を示し、スリューレート計測マーカの表示に使用されます。


922537 Rev A

58

VSWING, Output Signal Maximum Peak to Peak Swing

この試験はプローブ構成２を使用して実施されます。

この試験の目的は全てのReadバースト中のDQとDQSの peak to peakスイングを評価することです。

VSWING 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@VSWING

で表示される VSWING計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS と

割り当てられた信号名がトレース上に表示されています。この信号波形は参考表示になり

ます。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@VSWINGで

表示される VSWING計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQ と割

り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号トレースがこ

の試験において計測される対象です。

VSWING 試験結果


VSWING(P1)は DQパルスに対して peak to peakスイングを計測します。これは VOH(ac)

と VOL(ac)の差を求めます。統計表示テーブルの最大値が結果レポート中の VSWING Max

of DQ に相当します。この試験は判定値の無い Informational only の項目で、DDR2からの

古い方式で計測されます。


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t@VSWING(P3)は VSWINGの最大値の時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”の波



922537 Rev A

60

Electrical Tests on Supply Signals

この電気試験はプローブ構成６を使用して実施されます。

Vref(DC)

この試験の目的は Vref 信号におけるノイズと Vref レベルを評価することです。

Vref(DC)レベルは捕捉期間にわたっての Vref の線型平均になります。この平均値は 0.49*VDD と

0.51*VDD の間であることが期待されます。さらに、Vref の Vref(DC)からの最大偏差は VDD の±1%ま

でとなっています。

Vref 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


F3は Vref信号を捕捉した C3のズームトレース。max, minおよび meanの位置にラベルが

表示されています。

Vref 結果


mean(F3)は捕捉期間にわたっての Vref信号の平均値を計測します。この値は Vref(DC)値

であり、0.49*VDDと 0.51*VDDの間であればパスします。

max(F3)は Vref信号の最大値を計測します。これは結果レポート中の Vref Max に相当しま


922537 Rev A 61

す。Vref(DC)からの偏差が VDDの 1%未満のあればパスとなります。

min(F3)は Vref信号の最小値を計測します。これは結果レポート中の Vref Min に相当しま

す。Vref(DC)からの偏差が VDDの 1%未満であればパスとなります。

922537 Rev A

62

Timing Tests on Write Bursts

これらの試験は以下に示されたプローブ構成を使用し、Write バースト(input)に対して実施されます。

tDQSS, CK to DQS Skew


この試験の目的はWriteバースト中のCKに関係したDQS立ち上がりエッジのタイミングマージンを評

価することです。この試験は Vref レベルにおける CK 立ち上がりエッジと Vref レベルにおける最近接の

DQS 立ち上がりエッジの時間差を計測します。この試験は Read バーストにおける tDQSCK と非常によ

く似ています。

tDQSS 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z1はプローブ・デスキュー適用後の CK信号、すなわち F1のズームトレース。t@DQSSmax

で表示される tDQSS計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。計測さ

れたエッジの Vrefの位置にトレース名が表示されています。

Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F2のズームトレース。t@DQSSmax

で表示される tDQSS計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQSと

割り当てられた信号名が画面上の計測されたエッジの Vrefの位置に表示されています。

tDQSS 結果



922537 Rev A 63

tDQSS(P1)は CKと DQS間のスキューを計測します。このスキュー値は Vrefにおける CKの

立ち上がりエッジと最近接の Vref における DQSの立ち上がりエッジの時間を計測します。

基本的に２つのトレースラベルの間隔を計測します。統計表示テーブルの最大値は結果レ

ポート中の tDQSS max に相当し、mtCK(avg)を単位として記載されます。

tDQDQS(P2)は DQと DQS間のスキューを計測します。この計測は１バースト毎に１回行わ

れるので、統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Writeバース


t@tDQSSmax(P3)は tDQSS が最大値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”



922537 Rev A

64

tDQSH/tDQSL, DQS Input High/Low Pulse Width


これらの試験は Writeバースト中の各 DQS遷移に対して Hi(tDQSH)および Low(tDQSL)のパルス幅を計測

します。tDQSH/tDQSLの最大値、最小値とも計測されます。この試験は Readバーストにおける tQSHおよ

び tQSLと非常によく似ています。

Note: tDQSHについてのみ以下で解説します。tDQSL の計測手順は DQSに対して立ち上がりエッジから立

ち下がりエッジの計測を行う代わりに立ち下がりエッジから立ち上がりエッジで行う事以外は全く同様

です。

tDQSH試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@tDQSHmin

で表示される tDQSH計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQSと


tDQSH/tDQSL 結果


922537 Rev A 65


tDQSH(P1)は DQSの Hi区間の時間を計測します。この Hi区間の時間は DQSが立ち上がり

エッジで Vrefをよぎってから、次ぎに立ち下がりエッジで Vrefをよぎる時間を計測する

事で決定されます。統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tDQSH min に相当し、

mtCK(avg)を単位として記載されます。




t@tDQSHmin(P4)は tDQSHが最小値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”



922537 Rev A

66

tDIPW, DQ Input Pulse Width


この試験は Write バースト中の DQ 信号のパルス幅を計測します。Hi および Low 両パルスの最小値が

計測されます。

tDIPW 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@tDIPWmin

で表示される tDIPW計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。計測さ

れたエッジの Vrefの位置にトレース名 DQが表示されています。

tDIPW 結果


tDIPWHigh(P1)は DQの Hi区間の時間を計測します。この Hi 区間の時間は DQSが立ち上が

りエッジで Vref をよぎってから(画面中央)、次ぎに立ち下がりエッジで Vrefをよぎる(ト

レース・ラベルが表示されている箇所)時間を計測する事で決定されます。統計表示テーブ

ルの最小値は結果レポート中の tDIPW High min に相当し、ps を単位として記載されます。





922537 Rev A 67

t@tDIPWmin(P4)は tDIPWが最小値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”



922537 Rev A

68

tDSS/tDSH, DQS to CK Setup/Hold Time


この試験の目的は Write バースト中の DQS 立ち下がりエッジと CK 立ち上がりエッジのホールド・タイ

ムを評価することです。tDSS および tDSH 両方に対して最小値が計測されます。

Note: tDSS のみ以下で解説します。tDSH の計測手順はセットアップ・タイムではなくホールド・タイ

ムを計測する以外は同様です。

tDSS 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z1はプローブ・デスキュー適用後の CK信号、すなわち F1のズームトレース。t@DSSmaxで

表示される tDSS 計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。計測された

エッジの Vrefの位置にトレース名が表示されています。

Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@DSSmax

で表示される tDSS計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS と


tDSS/tDSH 結果


tDSS(P1)は DQSが立ち下がりエッジで Vrefをよぎってから CKが立ち上がりエッジで Vref

をよぎるまでのセットアップ・タイムを計測します。基本的に２つのトレース・ラベルの


922537 Rev A 69

間の時間を計測します。統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tDSS min に相当し、





t@tDSSmin(P4)は tDSSが最小値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”の



922537 Rev A

70

tDS(base)/tDH(base), DQ to DQS Setup/Hold Time


この試験の目的は、Write バースト中の DQ と DQS 間のセットアップとホールド・タイムを評価するこ

とです。tDS(base)および tDH(base)両方に対して最小値が計測されます。

ベース値はセットアップ/ホールド・タイムからディレーティング(デルタ)ファクタを差し引いたものに

等しくなります。ディレーティング・ファクタは信号の計測されたスリューレートに対して判定値の補

正を提供し、計測されたスリューレートと AC レベルに依存します。

Note: tDS のみ以下で解説します。tDH に対する計測手順はセットアップ・タイムの代わりにホールド・

タイムを使用する以外は全く同様です。

tDS 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@DSminで

表示される tDS計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。計測された

エッジの Vrefの位置にトレース名 DQS が表示されています。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@DSminで

表示される tDS計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。トレース・

ラベルには”DQ”の信号名が割り振られ、VIH/VIL(ac)とディレーティング適用後の位置に

配置されます。


922537 Rev A 71

tDS/tDH 結果


tDS(base)(P1)は判定値と比較される値としてベース・セットアップ・タイムを計測します。

ベース・セットアップ・タイムはトータル・セットアップ・タイムからディレーティング

（デルタ）・ファクタを差し引いたものに等しくなります。立ち上がりエッジにおいてトー

タル・セットアップ・タイムは VIH(ac)minをよぎる DQの時間と Vrefをよぎる DQSの時間

間隔で計測され、立ち下がりエッジにおいては VIL(ac)maxをよぎる DQの時間と Vref をよ

ぎる DQSの時間間隔で計測されます。ディレーティング値(P6)は計測値から差し引かれま

す。基本的に”DQS at Vref”と”DQ derated”のトレースラベル間の時間を計測します。

統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tDS(base)min に相当し、psを単位として記

載されます。




t@tDSmin(P4)は tDSが最小値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”の波


tDSdelta@min(P5)は tDS最小値におけるディレーティング値を示します。この値は計測さ

れた DQ(P7)と DQS(P8)のスリューレートの値をテーブルから読みこんで来て計算されます。

tDSdelta(P6)は全体波形に渡って計算されたディレーティング値を示します。この値は計測

された DQ(P7)および DQS(P8)のスリューレート値をベースにしています。

DQ Slew(P7)は最小 tDS値における DQスリューレートを計測します。立ち上がりエッジに

おけるスリューレートは Vrefと VIH(ac)minの間を計測し、立ち下がりエッジにおけるス

リューレートは Vrefと VIL(ac)maxの間を計測します。

DQS Slew(P8)は tDS最小値における DQSスリューレートを計測します。立ち上がりエッジ

におけるスリューレートは Vrefと VIH(ac)min の間を計測し、立ち下がりエッジにおける

スリューレートは Vrefと VIL(ac)maxの間を計測します。

922537 Rev A

72

tWPRE/tWPST, Write Pre/Postamble Time

これらの試験はプローブ構成２を使用して実施されます。

この試験の目的は捕捉波形における全ての Write バースト中のプリアンブルおよびポストアンブルの時

間を評価することです。tWPRE はプリアンブルが開始した(DQS が idle から動き始めた)時点とプリア

ンブルが終了した時点（DQS が Vref に達した）の間のタイミングを計測します。tWPST はポストアン

ブルが開始した (DQS が Vref に達した)時点からポストアンブルが終了した(DQS が idle に戻った)時点

の間のタイミングを計測します。それら両方の試験は信号の形によって影響を受け誤差となる可能性が

ある信号開始時点の決定に補間アルゴリズムを使用します。

Note: tWPRE のみ以下で解説します。TWPRE と tWPST の違いはプリアンブルの測定か、ポストアン

ブルの測定かだけです。

tWPRE 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@WPREmin

で表示される tWPRE計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。補間ア

ルゴリズムにより決定された、デバイスが idleから動いた時点と Vrefに戻った時点の位

置にトレース名 DQSが表示されています。この信号トレースがこの試験において計測され

る対象です。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@WPREmin

で表示される tWPRE計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。”DQ”

の信号名が割り振らたトレース・ラベルが配置されます。この信号波形は参考表示になり

ます。


922537 Rev A 73

tWPRE/tWPST 結果


tWPRE(P1)は DQSが idleから動きはじめてから最初に Vref を立ち上がりエッジでよぎる

までの時間を計測します。この、idleレベルから逸脱した時間は補間によって決定された

位置にトレース・ラベルで表示されます。基本的に２つのトレース・ラベル間の時間を計

測します。統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の tWPRE min に相当し、





t@tWPREmin(P4)は tWPRE が最小値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”


922537 Rev A

74

tIS(base)/tIH(base), ADD and CTRL Setup/Hold Time

この試験はプローブ構成３を使用して実施されます。

この試験の目的は Write バースト中の ADD/CTRL 信号と CK 間のセットアップおよびホールド・タイム

を評価することです。tIS(base)および tIH(base)両方の最小値が計測されます。

ベース値はセットアップ/ホールド・タイムからディレーティング(デルタ)ファクタを差し引いたものに

等しくなります。ディレーティング・ファクタは信号の計測されたスリューレートに対して判定値の補

正を提供し、計測されたスリューレートと AC レベルに依存します。

Note: tIS のみ以下で解説します。tIH に対する計測手順はセットアップ・タイムの代わりにホールド・

タイムを使用する以外は全く同様です。

tIS 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z1はプローブ・デスキュー適用後の CK信号、すなわち F1のズームトレース。t@ISminで

表示される tIS計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。計測された

エッジの Vrefの位置にトレース名 CK が表示されています。

Z4はプローブ・デスキュー適用後の ADD/CTRL 信号、すなわち F4のズームトレース。t@ISmin

で表示される tIS計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。トレー

ス・ラベルには”ADD/CTRL”の信号名が割り振られ、VIH/VIL(ac)とディレーティング適用

後の位置に配置されます。

tIS/tIH 結果


922537 Rev A 75


tIS(base)(P1)は判定値と比較される値としてベース・セットアップ・タイムを計測します。

ベース・セットアップ・タイムはトータル・セットアップ・タイムからディレーティング

（デルタ）・ファクタを差し引いたものに等しくなります。立ち上がりエッジにおいてトー

タル・セットアップ・タイムは VIH(ac)minをよぎる ADD/CTRL の時間と Vrefをよぎる CK

の時間間隔で計測され、立ち下がりエッジにおいては VIL(ac)max をよぎる ADD/CTRLの時

間と Vrefをよぎる CKの時間間隔で計測されます。ディレーティング値(P6)は計測値から

差し引かれます。基本的に”CK at Vref”と”ADD/CTRL derated”のトレースラベル間の

時間を計測します。統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tIS(base)min に相当し、

psを単位として記載されます。




t@tISmin(P4)は tISが最小値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”の波


tISdelta@min(P5)は tIS最小値におけるディレーティング値を示します。この値は計測さ

れた ADD/CTRL(P7)と CK(P8)のスリューレートの値をテーブルから読みこんで来て計算され

ます。

tISdelta(P6)は全体波形に渡って計算されたディレーティング値を示します。この値は計測

された ADD/CTRL(P7)および CK(P8)のスリューレート値をベースにしています。

AD/CTLSlew(P7)は最小 tIS値における ADD/CTRLスリューレートを計測します。立ち上が

りエッジにおけるスリューレートは Vrefと VIH(ac)minの間を計測し、立ち下がりエッジ

におけるスリューレートは Vrefと VIL(ac)max の間を計測します。

CKSlew(P8)は tIS最小値における CK スリューレートを計測します。立ち上がりエッジに

おけるスリューレートは Vrefと VIH(ac)minの間を計測し、立ち下がりエッジにおけるス

リューレートは Vrefと VIL(ac)maxの間を計測します。

922537 Rev A

76

tIPW, Control and Address Input Pulse Width for Each Input

この試験は Write バースト中における ADD/CTRL 信号のパルス幅を計測します。Hi および Low パルス

両方に対しての最小値が計測されます。

tIPW 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z4はプローブ・デスキュー適用後の ADD/CTRL信号、すなわち F4のズームトレース。

t@tIPWminで表示される tIPW計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。

計測されたエッジの Vrefの位置にトレース名”ADD/CTRL”が表示されています。

tDIPW 結果


tIPWHigh(P1)は ADD/CTRLの Hi区間の時間を計測します。この Hi区間の時間は ADD/CTRL

が立ち上がりエッジで Vrefをよぎってから(画面中央)、次ぎに立ち下がりエッジで Vref

をよぎる(トレース・ラベルが表示されている箇所)時間を計測する事で決定されます。統

計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tIPW High min に相当し、psを単位として記

載されます。




t@tIPWmin(P4)は tIPWが最小値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”の



922537 Rev A 77

Timing Tests on Read Bursts

これらタイミング試験は以下に示すプローブ構成を使用して Read バースト(input)に対して実施されま

す。

tDQSQ, DQS to DQ Skew


この試験の目的は最新の有効な DQ 遷移を評価することです。この試験は Read バーストにおける全ての

DQ 遷移に対して DQS が Vref をよぎる位置と DQ が Vref をよぎる位置間の最大スキュー値を計測しま

す。

tDQDQS 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@DQSQmax

で表示される tDQSQ計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。”DQS”

と割り振られたトレース名が Vref位置に表示されます。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@DQSQmax

で表示される tDQSQ計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。”DQ”

と割り振らたトレース名 Vref位置に表示されます。

tDQSQ 結果


tDQSQ(P1)は各 DQ遷移に対して DQSが Vrefをよぎる位置から DQが Vrefをよぎる位置ま

での時間を計測します。基本的に２つのトレース・ラベル間の時間を計測します。統計表

922537 Rev A

78

示テーブルにおける最大値が結果レポート中の tDQSQ Max に相当し、psを単位として記

載されます。


れるので、統計表示テーブル中の num 値を見ることで捕捉波形中にいくつの Readバースト


t@tDQSQmax(P3)は tDQSQが最大値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”




922537 Rev A 79

tQSH/tQSL, DQS Output High/Low Time


これらの試験は Readバースト中の各 DQS遷移に対して Hi(tQSH)および Low(tQSL)のパルス幅を計測しま

す。tQSH/tQSLの最大値、最小値とも計測されます。この試験は Writeバーストにおける tDQSHおよび

tDQSLと非常によく似ています。

Note: tQSLについてのみ以下で解説します。tQSHの計測手順は DQSに対して立ち下がりエッジから立ち

上がりエッジの計測を行う代わりに立ち上がりエッジから立ち下がりエッジで行う事以外は全く同様で

す。

tQSL試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@tQSLmin

で表示される tQSL計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS と


tQSH/tQSL 結果


tQSL(P1)は DQSの Low区間の時間を計測します。この Low区間の時間は DQSが立ち下がり

エッジで Vrefをよぎってから、次ぎに立ち上がりエッジで Vrefをよぎる時間を計測する

922537 Rev A

80

事で決定されます。統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tQSL min に相当し、





t@tQSLmin(P4)は tQSLが最小値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”の




922537 Rev A 81

tQH, DQ Output Hold Time


この試験の目的は最初の有効でない DQ 遷移を評価することです。この試験は DQS が Vref をよぎって

から次に Vref をよぎるまでの最小時間を計測します。

tQH 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@tQHmax

で表示される tQH計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。”DQS”と

割り振られたトレース名が Vref位置に表示されます。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@tQHmaxで

表示される tQH計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。”DQ”と

割り振らたトレース名 Vref位置に表示されます。

tQH 結果


tQH(P1)は DQS のホールド・タイムを計測します。ホールド・タイムは DQSが Vrefをよぎ

ってから、次に Vrefをよぎる時間の間隔を計測する事で決定されます。基本的に２つのマ

ーカ位置の間隔を計測します。統計表示テーブルの最小値は結果レポート中の tQH min に

相当し、mtCK(avg)を単位として記載されます。


922537 Rev A

82



t@tQHmin(P4)は tQHが最小値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”の波




922537 Rev A 83

tDQSCK, CK to DQS Skew


この試験の目的は Read バースト中の CK に関係した DQS 立ち上がりエッジのタイミングマージンを評

価することです。この試験は Vref レベルにおける CK 立ち上がりエッジと Vref レベルにおける最近接の

DQS 立ち上がりエッジの時間差を計測します。この試験は Write バーストにおける tDQSS と非常によ

く似ています。

tDQSS 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z1はプローブ・デスキュー適用後の CK信号、すなわち F1のズームトレース。t@DQSCKmax

で表示される tDQSCK計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。計測さ

れたエッジの Vrefの位置にトレース名が表示されています。

Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F2のズームトレース。t@DQSCKmax

で表示される tDQSCK計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。”DQS”

と割り当てられた信号名が画面上の計測されたエッジの Vref の位置に表示されています。

tDQSCK 結果


tDQSCK(P1)は CKと DQS間のスキューを計測します。このスキュー値は Vrefにおける CK

の立ち上がりエッジと最近接の Vrefにおける DQSの立ち上がりエッジの時間を計測します。

922537 Rev A

84

基本的に２つのトレースラベルの間隔を計測します。統計表示テーブルの最大値は結果レ

ポート中の tDQSCK max に相当し、mtCK(avg)を単位として記載されます。




t@tDQSCKmax(P3)は tDQSCKが最大値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結




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tHZ/tLZ, High/Low Impedance Time


この試験の目的は Hi および Low インピーダンス・タイムを評価することです。これらの試験はデバイ

スがドライブを停止した時点(tHZ)もしくはドライブを開始した時点(tLZ)と CK が Vref をよぎる時点の

時間を計測します。tHZ は最大値のみ、tLZ は最小値と最大値両方を計測します。これらの試験は DQ

および DQS 両方に対して実施されます。どちらの試験とも、波形の形によって影響をうけ誤差を生じる

可能性のある信号開始ポイントを決定するのに補間アルゴリズムを使用します。

Note: tLZ(DQ)のみ以下で解説します。tLZ と tHZ の違いはドライブ開始かドライブ停止かの違いのみに

なります。tLZ は CK エッジから DQ/DQS がドライブ開始するまでの時間を計測します。tHZ は CK エ

ッジから DQ/DQS がドライブを停止するまでの時間を計測します。この計測手順は DQS に対するもの

と同様です。

tLZ(DQ)試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z1はプローブ・デスキュー適用後の CK信号、すなわち F1のズームトレース。t@LZmaxで

表示される tLZ計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。計測された

エッジの Vrefの位置にトレース名が表示されています。

Z3はプローブ・デスキュー適用後の DQ信号、すなわち F3のズームトレース。t@LZmaxで

表示される tLZ計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。”DQ”と

割り当てられた信号名がドライブ停止した位置に表示されています。この信号トレースが


922537 Rev A

86

tHZ/tLZ 結果


tLZ(P1)は CK から DQがドライブを開始するまでの時間を計測します。この時間位置は補間

アルゴリズムによって決定された場所にトレースラベルで表示されます。基本的に２つの

トレースラベルの間隔を計測します。統計表示テーブルの最大値は結果レポート中の tLZ

max に相当します。判定値は任意のクロック・ジッタを考慮してディレーティングされま

す。




t@tLZmax(P3)は tLZが最大値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”の波




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tRPRE/tRPST, Read Preamble


この試験の目的は捕捉波形中の Read バーストにおけるプリアンブルおよびポストアンブルの時間を評

価することです。tRPRE はプリアンブルが開始して(DQS が idle から動き出して)からプリアンブルが終

了する(DQS が Vref に戻る)までの時間を計測します。tRPST はポストアンブルが開始して(DQS が Vref)

からポストアンブルが終了する(DQS が idle に戻る)までの時間を計測します。それら両試験は波形の形

によって影響をうけ誤差を生じる信号開始時点の決定に補間アルゴリズムを使用します。

Note: tRPRE のみ以下で解説します。tRPRE と tRPST の違いはプリアンブルを測定するかポストアン

ブルを測定するかの違いのみです。

tRPRE 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります：


Z2はプローブ・デスキュー適用後の DQS信号、すなわち F2のズームトレース。t@RPREmin

で表示される tRPRE計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。補間

アルゴリズムにより決定された、デバイスが idleから動いた時点と Vrefに戻った時点の

位置にトレース名”DQS”が表示されています。

tRPRE/tRPST 結果


tRPRE(P1)は DQSが idleから動きはじめてから最初に Vrefを立ち上がりエッジでよぎる

までの時間を計測します。この、idleレベルから逸脱した時間は補間によって決定された

位置にトレース・ラベルで表示されます。基本的に２つのトレース・ラベル間の時間を計

測します。統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の tRPRE min に相当し、

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t@tRPREmin(P4)は tWPREが最小値をとる時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”




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QPHY-DDR3 変数

Custom Speed Grade in MT/s

この変数は使用するカスタム・スピード・グレードを定義することを可能にします。このスピード・グ

レードはオシロスコープのタイムベースおよびサンプリング・レートを設定するのに使用されます。詳

細は Clock Period Per Screen Division の項目をご覧ください。この変数のデフォルト値は 0 です。デフ

ォルト値では QPHY は選択された判定値セットからスピードグレードを読み込みます。

Waveform Path

この変数は波形の保存や読み出し先のオシロスコープ上のパス名を指定します。When Use Stored

Waveforms が No になっている場合、捕捉された波形は試験開始時に、この指定されたパスの中の DUT

名とセッション番号がつけられた名称のサブフォルダに保存されます。保存波形データのファイル名の

規則の詳細については、Appendix Aを参照してください。When Use Stored WaveformsがYesの場合は、

QPHY はこの指定されたパスの中の DUT 名とセッション番号がつけられた名称のサブフォルダに保存

された波形を呼び出します。この変数のデフォルト値は D:¥Waveforms¥DDR3 です。

Script Execution Settings

Enable Prompt before Signal Acquisition

True に設定された場合、波形捕捉を開始する前にメッセージが表示されます。これによりユーザは波形

捕捉前に Read/Write バーストを発生させたり、トリガ条件を手動で変更したり出来ます。この変数のデ

フォルト値は False です。

Silent Mode

この変数を Yes に設定した場合、QPHY は何もメッセージを出すこと無く動作します。この変数のデフ

ォルト値は No です。

Stop On Test

この変数を Yes に設定した場合、スクリプトは各試験毎に毎回停止し、その試験結果を見てから先に進

めるようになります。スクリプトが停止した時点でオシロスコープの設定を変更して波形をさらに詳細

にデバックして調べることも出来ます。デバック終了後、ボタンをクリックすればシームレスに試験は

継続します。この変数のデフォルト値は No です。

Use Chip Select

この変数を Yes にした場合、マルチ-ランク・システムにおいて、正しく Read および Write バーストを

識別出来るようにチップ・セレクト信号を使用するようになります。チップ・セレクト・ラインは Overall

Read Latency と Overall Write Latency 変数と共に適切な Read および Write バーストを正しく識別す

るのに使用されます。この変数を使用するには CS に接続されたもう一本のプローブが必要です。この変

数のデフォルト値は No です。

922537 Rev A

90

Signal Names

これらの変数を使用すると試験レポートとスクリーンショットに現れる信号名をユーザ定義する事が出

来ます。

DQ Signal Name

この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる DQ 信号の名称をユーザ定義出来ます。デフォ

ルト信号名は DQ0 です。

DQS Signal Name

この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる DQS 信号の名称をユーザ定義出来ます。デフォ

ルト信号名は DQS0 です。

DQS_t Signal Name

この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる DQS_t 信号の名称をユーザ定義出来ます。デフ

ォルト信号名は DQS0_t です。

DQS_c Signal Name

この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる DQS_t 信号の名称をユーザ定義出来ます。デフ

ォルト信号名は DQS0_c です。

ADD/CTRL Signal Name

この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる ADD/CTRL 信号の名称をユーザ定義出来ます。

デフォルト信号名は A0 です。

CK_t Signal Name

この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる CK_t 信号の名称をユーザ定義出来ます。デフォ

ルト信号名は CK0_t です。

CK_c Signal Name

この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる CK_c 信号の名称をユーザ定義出来ます。デフ

ォルト信号名は CK0_c です。

Chip Select Signal Name

この変数で試験レポートとスクリーンショットに現れる CS 信号の名称をユーザ定義出来ます。デフォル

ト信号名は CS0#です。


922537 Rev A 91

Virtual Probe Setup

これらの変数は Virtual Probe 機能を使用したい場合に設定する必要があります。

Virtual Probe Control

この変数で VirtualProbing をイネーブルにし、どの試験グループに適用するかを定義します。ユーザは

Readバースト、Writeバーストあるいはその両方、いづれにVirtual Probeを適用するか選択します。Virtual

Probe 機能を使用するには Virtual Probe オプションがオシロスコープに入っていなければなりません。

この変数のデフォルト値は Off です。

Virtual Probe Tool Selection

この変数では Virtual Probe をイネーブルにした際に Virtual Probe at Receiver(VP@Rcvr)もしくは

Virtual Probe どちらを使用するかを選択します。この変数のデフォルト値は VP@Rcvr です。

VP at Receiver Path

この変数は Virtual Probe at Receiver の設定ファイルを保存/読み込みするオシロスコープ上のパスを指

定します。

VP@Rcvr setup file name

これらの変数は各信号(Dqse, DQSdiff, あるいは Ckdiff)に対する VP@Rcvr 設定ファイルの名称を定義

します。

VirtualProbe Path

この変数は Virtual Probe 設定ファイルを保存/ 読み込みするオシロスコープ上のパスを指定します。

VirtualProbe setup file name

この変数は試験する全ての信号に対して使用される VirtualProbe 設定ファイルの名称を定義します。

Demo Settings

これらの変数は、保存波形を使用して QPHY を走らせたい場合に設定する必要があります。

Use Stored Waveforms

この変数を Yes に設定すると、以前保存した波形を使用して QPHY を走らせることが出来ます。

Waveform Path で指定された場所から波形を読み出して使用します。この変数のデフォルト値は No です。

Recalled Waveform File Index (5 digits)

QPHY はファイルに付加された 5 桁のインデックスを使用して保存ファイルを読み出します。この変数

のデフォルト値は 00000 です。

922537 Rev A

92

Define format used to set trace names

この変数は QPHY が波形保存/読み込みする方法を定義します。LeCroy が指定されている場合、信号名

から割り振られたフォーマットに従った名称でファイルは自動的に保存/読み込みされます。もし、Dialog

が選択された場合、保存/読み込みの際にユーザはポップアップウィンドウにてファイル名を入力します。

この変数のデフォルト値は LeCroy です。

Use Stored Trace for Speed Grade

このオプションを設定すると、QPHY は実行中に一回だけクロック周波数(これは選択されたスピードグ

レードの確認に使用されます)の計測をするようになります。この変数のデフォルト値は No です。


922537 Rev A 93

Advanced Settings

これらの変数は QualiPHY スクリプトを介してより複雑な制御を行う上級者向け設定です。

Clock Period Per Screen Division

この変数では DUT スピードグレード MT/s と Max. Number of Samples Per Clock Period で指定された

値を用いて水平軸１目盛あたり何クロック・サイクルを捕捉するかを規定し、オシロスコープのタイム

ベースおよびサンプリング・レートがそれにより設定されます。この変数のデフォルト値は 3341 クロッ

ク周期です。(これは 667MT/s および１周期あたり 100 サンプル・ポイントの設定で 3.3MS 最大に対し

て 10us/div タイムベース設定になります)

Timebase = [Clock Period Per Screen Division] / ([DUT Speed Grade in MT/s] / 2 * 1e6)

Maximum Samples = [Max. Number Of Samples Per Clock Period] * [Clock Period Per Screen

Division] * 10

Number of Cycles for Clock test

JEDEC 規格はクロックのコンプライアンス・テストにおいて 200 サイクルを規定しています。この変

数ではいずれの正の整数でも指定できます。この変数のデフォルト値は 200 サイクルです。

Max. Number Of Samples Per Clock Period

この変数で指定されたクロック周期あたりのサンプル・ポイント数になるようにオシロスコープのタイ

ムベースとサンプリング・レートを設定します。詳細は Clock Period Per Screen Division の項目を参照

ください。10, 20, 50, 100, 200, 500 あるいは 1000 の中から選択します。この変数のデフォルト値は 100

になります。

Advanced Settings – Standard Levels

SE AC Input Levels for ADD/CMD

この変数は ADD/CMD 信号に対して使用される AC レベルを選択します。Auto に設定されている場合は

AC レベルは以下の表に従って選択されます。この変数のデフォルト値は Auto です。

SE DC Input Levels for ADD/CMD

この変数は ADD/CMD 信号に対して使用される DC レベルを選択します。Auto に設定されている場合は

DC レベルは以下の表に従って選択されます。この変数のデフォルト値は Auto です。

922537 Rev A

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SE AC Input Levels for DQ

この変数は DQ 信号に対して使用される AC レベルを選択します。Auto に設定されている場合は AC レ

ベルは以下の表に従って選択されます。この変数のデフォルト値は Auto です。

SE DC Input Levels for DQ

この変数は DQ 信号に対して使用される DC レベルを選択します。Auto に設定されている場合は DC レ

ベルは以下の表に従って選択されます。この変数のデフォルト値は Auto です。


922537 Rev A 95

Advanced Settings – Custom Levels

Standard or Custom Levels

この変数は Standard あるいは Custom レベルを設定します。Standard は Standard Levels 変数のセクシ

ョンで指定された JEDEC 仕様によって規定されたレベルを使用します。Custom は Custom Levels 変

数のセクションで指定されたVIH/VIL AC/DCレベルを使用します。この変数のデフォルト値はStandard

です。

VDD, VDDQ, VIH(ac), VIH(dc), VIL(ac), VIL(dc), Vref, VSS

これらの変数は各レベルに対して使用されるカスタム値を設定します。各変数の単位は mV です。これ

らの変数は Custom レベルが選択されているときのみ使用されます。

Advanced Settings – Latency Settings

Overall Read Latency

この変数はDDRコマンド(Read)から関連するReadバーストの最初のデータビットまでのDelayを規定

します。この設定はマルチ-ランク・システムにおいて Read および Write バーストを適切に識別するた

めにチップ・セレクトを使用する場合に必要となります。このレイテンシはクロック周期で規定されま

す。この変数のデフォルト値は 5 です。

Overall Write Latency

この変数は DDR コマンド(Read)から関連する Write バーストの最初のデータビットまでの Delay を規

定します。この設定はマルチ-ランク・システムにおいて Read および Write バーストを適切に識別する

ためにチップ・セレクトを使用する場合に必要となります。このレイテンシはクロック周期で規定され

ます。この変数のデフォルト値は 5 です。

Probe Setup - Common Variables

このセクションでは全てのプローブ構成に共通する変数をカバーします。各プローブ構成ごとの変数は

個別プローブ構成のセクションにてカバーされます。

Probe Tip Selection

この変数は使用するプローブ先端の種類を指定します。選択可能なプローブ先端は SI, PT, SMA/SMP, SP,

および HiTemp になります。この変数のデフォルト値は SI です。

Channel Gain

垂直軸スケールを V/div でマニュアル指定出来ます。

Channel Index

入力チャンネルの割り振りをマニュアル指定出来ます。

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Channel Invert

信号の正負反転を設定できます。（＋/－逆にプロービングしてしまった場合に設定します）

Channel Offset

電圧オフセットを V を単位としてマニュアル設定します。

Probe Setup: CKdiff

これらの変数は差動クロック(CK)のみを使用する構成のプローブセットアップを指定します。

CAS Latency, CAS Write Latency, Speed Bin

この変数は JESD79-3F の Table 62-67 で定義された tCK(avg)判定値を定義します。これらの変数は

Speed Bin Parameters Automatic Selection が No に設定されている場合に使用されます。この変数のデ

フォルト値は CAS Latency(CL)が 5、CAS Write Latency(CWL)が 5、および Speed Bin が DDR3-1600H

となります。

Speed Bin Parameters Automatic Selection

この変数を Yes に設定すると QPHY は CL, CWL,および Speed Bin を有効な組み合わせに自動設定しま

す。No とすると QPHY は別途定義された値を使用します。この変数のデフォルト値は Yes です。

Probe Setup: CKdiff-DQSdiff-DQse

これらの変数は差動クロック(CK)、シングルエンド・データ(DQ)、および差動ストローブ(DQS)を使用

するプローブ構成に対するプローブ・セットアップです。

Input Slew Rate

この変数は入力スリューレート試験でテストされる信号の設定をします。DQ, DQS, および CK もしく

はそのうちひとつの信号のみを選択します。この変数のデフォルト値は DQ, DQS, および CK になりま

す。

tDQSCK

この変数は、もし tDQSCK が tCK より小さい場合の設定を行います。この変数のデフォルト設定値は

No です。

Probe Setup: CKdiff-DQSdiff-DQse-ADD/CTRLse

これらの変数は差動クロック(CK)、シングルエンド・データ(DQ)、差動ストローブ(DQS)、およびシン

グルエンド・アドレス(ADD)/コントロール(CTRL)信号を使用する構成に対するプローブ設定をおこない

ます。


922537 Rev A 97

Input Slew Rate

この変数は入力スリューレート試験においてテストされる信号を指定します。ユーザは ADD, DQ, DQS,

および CK もしくはそれら信号のうちひとつを指定します。この変数のデフォルト値は ADD のみです。

QPHY-DDR3 Limit Sets

DDR3-800

このセットは 800MT/s に対する JEDEC JESD79-3F DDR 規格仕様の規格値に相当します。

DDR3-1066


DDR3-1333


DDR3-1600


DDR3-1866


DDR3-2133


DDR3L-800

このセットは 800MT/s に対する JEDEC JESD79-3-1A.01 DDR3L 規格仕様の規格値に相当します。

DDR3L-1066


DDR3L-1333


DDR3L-1600


DDR3L-1866


922537 Rev A

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Appendix A: File name conventions for saved waveforms

QPHY-DDR3 は指定されたファイル名ルールに従って各捕捉波形を保存します。この波形名の定義に従

って、ユーザは以前実施した試験時の波形を呼び戻して再度試験を実施し、テスト結果を再現すること

が出来ます。QPHY-DDR3 を demo モードで動作させる場合、QPHY がどの波形を呼び戻せばいいのか

を知らせるために適切にこの設定を行う必要があります。

ここで標準的な QPHY-DDR3 波形名は以下の様になっています：C2_CKDQ0DQS3_DQS3 _00014.trc

C2 : 信号を捕捉するチャンネルになります。このケースでは C2 を使用しています。Demo

モードで動作させるときはこの部分の指定が Channel Index 変数での指定と合致していな

ければなりません。

指定可能な値： C1, C2, C3, C4

CKDQ0DQS3 :この指定は波形捕捉に使用されるプローブセットアップを示します。Demo

モードで動作させるときはこの部分の指定が試験実施時のプローブ構成に合致していなけ

ればなりません。

指定可能な値：CK (CK diff probe Setup), CKDQxDQSx (CK-DQ-DQS 3 probe setup),

CKDQxDQSxAx (CK-DQ-DQS-Add 4 probe setup), 他

DQS3 : この指定は Signal Name 変数にて設定された、この波形トレースの信号名です。

Demo モードで動作させるときはこの部分の指定が Signal Name 変数での指定に合致して

いなければなりません。

指定可能な値：DQ0-63, DQS0-15, 他

00014 : これはファイル番号です。QPHY は各試験時にひとつずつカウントアップしてフ

ァイル名をつけてゆきます。Demo モードで動作させるときには Recalled Waveform File

Index 変数での指定値に合致していなければなりません。

指定可能な値：任意の 5 桁の数字

ファイル名ルールのまとめ


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Appendix B: Common Warning Messages

Clock Speed Grade

各試験の最初に QPHY はクロック・スピードを計測します。この計測は使用される適切な試験判定値セ

ットを確認するのに使用されます。計測されたスピード・グレードが選択されているスピード・グレー

ドに対して 10%以上異なる場合 Warning メッセージが表示されます。保存波形で試験を走らせようとす

る際に、もし表示されたデータ・レートがゼロであるならば、これは波形が QPHY によって適切に読み

込まれなかったことを示しています。

Clock Speed Grade Warning

解決策

適切な試験判定値セットが選択されているか確認します。またはもし、カスタム・スピード・グレード

が使用されている場合、Custom Speed Grade 変数を確認します。

Read/Write Burst

各捕捉を行った最初に、QPHY は十分な Read もしくは Write バーストが捕捉された波形の中に含まれ

ているかどうかをチェックします。10 の Read もしくは Write バーストが検出されない場合、以下の

warning メッセージが表示されます。10 以下のバーストしか検出されなかった場合、統計的な有効性が

十分に確保されません。

R/W Burst Detection Warning

解決策

デバイスが十分な DQ および DQS 遷移をもっているか確認します。捕捉長あるいはバースト密度は増や

すことが出来ます。捕捉長を増やすには Clock Period Per Screen Division 変数を調整します。

DUT Name

Demoモードで QPHYを走らせている時に、もし DUT名が”Demo”出ない場合に以下のメッセージが表示さ

922537 Rev A

100

れます。保存された波形の含まれているフォルダ名に DUT名があっていなければなりません。

DUT Name Warning

解決策

DUT 名が保存波形の含まれるフォルダ名に一致しているか確認します。確認したら“OK”を押します。


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Appendix C: Error Messages

QualiPHY 動作中に現れることのある以下のメッセージについて解説します。

“Warning, no valid technology package has been found…” このメッセージは QualiPHYアプリケーション

を起動する前にオシロスコープにどの規格のオプションもアクティベートされていない場合に現れます。

もしご購入済みの規格がアクティベートされていない場合はサポートにお問いあわせください。

“No devices connected to the application or device not alive…”、”Failed to communicate with the DSO

application!” このメッセージはリモートPCからQualiPHYを走らせている場合に a)オシロスコープが接

続されていない、もしくは b)オシロスコープがオフラインである場合に現れます。もしくはオシロスコ

ープ上で走らせている場合でもリモートコントロールの設定が TCPIP 接続になっていない場合に現れま

す。リモートコントロールの設定の章をご覧ください。

“This test requires Firmware version x.x.x.x or higher.”使用するオシロスコープのファームウェアをアッ

プデートする必要があります。http://teledynelecroy.com/japan/support/software/default.asp の

オシロスコープ > ファームウェア・アップグレードから各オシロスコープ用最新ファームウェアをダ

ウンロードしてアップデートします。

“An <oscilloscope model> or better is required for <test>.” このオシロスコープでは動作しません。リモ

ートコントロールから使用している場合は他のオシロスコープで使用できるかもしれません。

“This test requires the <name> option.” QualiPHYコンポーネントの他に記載されたオプションの購入と

アクティベートが必要です。

http://teledynelecroy.com/japan/support/software/default.asp

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QPHY-DDR3...

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Transcript of QPHY-DDR3...