MgB2超伝導体の...

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MgB 2 超伝導体の ピンニングセンター 鹿児島大学 土井 俊哉 物質・材料研究機構 北口 仁 九州大学 波多 聰,ハリニ・ソシアティ A part of this work is supported by Research Promotion Bureau, Ministry of Education, Culture, Sports, Science and Technology (MEXT), Japan, under the contract No.16-554, 17-213.

Transcript of MgB2超伝導体の...

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MgB2超伝導体の

ピンニングセンター

鹿児島大学 土井俊哉

物質・材料研究機構 北口仁

九州大学 波多聰,ハリニ・ソシアティ

A part of this work is supported by Research Promotion Bureau, Ministry of Education, Culture, Sports, Science and Technology (MEXT), Japan, under the contract No.16-554, 17-213.

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本研究のサマリー

MgB2超伝導体において、

(1) 結晶粒界、特に柱状に成長したMgB2結晶の粒界

(2) Mg欠損組成に起因して結晶内に導入された何らかの欠陥、

即ち、Mg欠損もしくはMgサイトへのB置換

(3) MgO

(4) 層状に挿入したNi層

は有効なピンニングセンターとして働く。

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Sample preparations

Source(B)

Thickness sensor

Lamp heater

Source(Mg)

Substratec-Al2O3

Ultra high vacuum chamber

Gas inletT. P.

Background pressure 1.0 x 10-7 Pa

Substrate Sapphire (0001)

SourceMg : 99.9 %

B : 99.5 %

Substrate temperature 180-240

Evaporation rateMg : 1.0-2.0 nm/sB : 0.3-1.2 nm/s

MgB2 Growth rate 1-2 nm/s

Typical deposition time 5 minutes

Thickness 280-400 nm

Electron beam gun

R. P

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First experiments

A MgB2 thin film preparedwithout substrate spinning.

Mg B

xy

z

+15°-15°

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Columnar grain structureTEM: z-x plane view

15°

Results of TEM observations

x

yz

z

x

y

Boron fluxMagnesium flux

Boronflux

Magnesiumflux

y-z plane

BMg

Columnar grain structure reflecting the direction of boron flux

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Specimen for Jc-θ measurement

z

x

y Specimen (a)

Cut out z

x

y

(b)(a)

zx

y

Specimen (b)

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Effects of substrate spinning (1)In order to cancel (neutralize) the effect of tilted evaporation flux, we prepared another sample with spinning the substrate during the evaporation.

Boron flux

Substrate x

z

Magnesium flux

+15o-15o

3.25 rpm

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0.8

1.0

1.2

1.4

1.6

1.8

2.0

2.2

-30 0 30 60 90 120

Rotation in z-x plane

θ [Magnetic field angle] (deg.)

4.2K(Liq. He), 5T

Normalized Jc vs. rotation angle

z

x

y

Current

zx

y

Current

c軸と磁場のなす角はどちらも15°↓

規格化Jcはどちらも1.7

z

x

y

Current

0.8

1.0

1.2

1.4

1.6

1.8

2.0

2.2

-30 0 30 60 90 120

Prepared with spinning the substrate

θ [Magnetic field angle] (deg.)

4.2K(Liq. He), 5T

0.8

1.0

1.2

1.4

1.6

1.8

2.0

2.2

-30 0 30 60 90 120

Rotation in y-z plane

θ (deg.)

4.2K(Liq. He), 5T

c軸と磁場は,どちらも平行↓

規格化Jcはどちらも2.1

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Summery for the second experiment

MgB2薄膜の磁場中Jcは,磁場が柱状晶に平行に印加された

とき時,最も高くなる。

MgB2において,結晶粒界がピンニングセンターとして

有効に働いている

Current

Magnetic field Magnetic field Magnetic field

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Properties of the MgB2 thin films prepared

at the same substrate temperatures (180, 210 )

with changing the composition.(Mg : B = 1 : 0.9 ~ 1 : 2.6)

Second experiments

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Mg:B=1:2.6

1:2.2

1:1.5

1:2.11:1.8

0

50

100

150

200

250

300

20 25 30 35 40

Res

istiv

ity (μΩ・

cm)

Temperature (K)

Ts=210

Fig. 5 Temperature dependences of the resistivities of the MgB2 thin films prepared at 210 with the composition of Mg:B =1:1.5, 1:1.8, 1:2.1, 1:2.2, 1:2.6.

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48 49 50 51 52 53 54 55 56

Inte

nsity

(a. u

.)

2θ (degrees)

1:1.81:1.5

1:2.21:2.1

1:2.6

Mg:B

(0002) from JCPDS

Fig. 6 X-ray diffraction spectra of the MgB2 thin films prepared at 210with the composition of Mg:B =1:1.5, 1:1.8, 1:2.1, 1:2.2, 1:2.6.

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-6 -4 -2 0 2 4 6

Mg:B=1:1.5 (Tc=30 K)1:1.8

1:2.11:2.2

1:2.6 (Tc=24K)

-10

M (T

)15

-15

-5

10

5

0

-20

20

µ0H (T)

Ts : 210

Fig. 7 The magnetization hysteresis curves measured at 4.2 K for the MgB2 thin films prepared at 210 with the composition of Mg:B =1:1.5, 1:1.8, 1:2.1, 1:2.2, 1:2.6. The magnetic fields were applied perpendicular to the film surfaces.

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Mg:B=1:0.91:1.8

1:1.91:2.2

1:2.4

-10

M (T

)15

-15

-5

10

5

0

-20

20

-6 -4 -2 0 2 4 6

Ts=180

µ0H (T)

Fig. 8 The magnetization hysteresis curves measured at 4.2 K for the MgB2 thin films prepared at 180 with the composition of Mg:B =1:0.9, 1:1.8, 1:1.9, 1:2.2, 1:2.4. The magnetic fields were applied perpendicular to the film surfaces.

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Properties of the MgB2 thin films prepared in the existence of O2 gas.

Third experiments

After O2 Gas was introduced, the deposition started.basal pressure < 10-7 Pa

BMg

O2O2 Gas Ts=240

Mg B

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0

20

40

60

80

100

20 25 30 35 40Temperature (K)

Res

istiv

ity (µΩ・cm

)

PO2= 1.3×10-5 Pa

3.5×10-5 Pa

1.0×10-7 Pa

Fig. 9 Temperature dependences of the resistivities of the MgB2 thin films prepared in the different oxygen partial pressure of < 1.0×10-7, 1.3×10-5 and 3.5×10-5 Pa.

Ts : 240

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2

1.0×10-7 Pa

1.3×10-5 Pa

3.5×10-5 Pa

-6 -4 -2 0 4 6µ0H (T)

0

10

20

-10

-20

M(T

)

Fig. 12 The magnetization hysteresis curves measured at 4.2 K for the MgB2 thin films prepared in the different oxygen partial pressure of < 1.0×10-7, 1.3×10-5 and 3.5×10-5 Pa. The magnetic fields were applied perpendicular to the film surfaces.

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Summery for the third experiment

The MgB2 film prepared in the appropriate PO2

have larger ∆M in the M-H curve.

Magnesium oxide may work as pinning centers

in MgB2 thin films

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15nmMgB2

MgB2に Ni層を挿入した膜の作製方法

Al2O3基板

B Mg

同軸型真空アーク蒸着源

シャッター

Al2O3基板

メインシャッター

フィラメントフィラメント

基板加熱

(1) 15nm厚のMgB2層を形成(2) 0.3nm厚のNi層を形成

・・・・・以下,13回繰り返す。

0.3nmNi

200nm

15nmMgB2

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作製した積層薄膜のX線回折測定結果

48 50 52 54 56

2θ[degree]

Intensity[arb. units]

Inte

nsity

[arb

. uni

ts]

2θ [degree]

48 50 52 54 56

MgB2(0002)

MgB2層+B層

MgB2薄膜

MgB2層+Ni層

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作製した薄膜の抵抗率の温度依存性

MgB2層+B層

MgB2層のみ

MgB2層+Ni層

0

50

100

150

200

250

300

20 25 30 35 40

Temperature (K)

Resistivity (μΩ・cm)

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103

104

105

106

0 2 4 6 8 10 12

MgB2/Ni/MgB2

Typical MgB2 EB-film

J c / A

cm-2

B / T

4.2K (Liq. He), B // Film Surface

Ni層を挿入したMgB2薄膜のJcの磁場依存性

連続的に作製したMgB2薄膜

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要素ピン力の磁場依存性

0

1

2

3

0 2 4 6 8 10 12

MgB2/Ni/MgB

2

Typical MgB2 EB-film

F p / G

Nm

-3

B / T

4.2K (Liq. He), B // Film Surface

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The peak position (9T) in the Fp-B relation of the MgB2/Ni alternately layered film corresponds to the flux lattice spacing of 14.1nm. It is very close to the designed Ni-layer spacing of 15nm.

Sapphire substrate

MgB2 layer15 nm thick

Flux line spacing matches Ni layer interval

14 nm

Flux line lattice in a superconductor when the magnetic field of 9T is applied parallel to the film surface

Ni layer0.3 nm thick

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まとめ

(1) MgB2において,結晶粒界は有効なピンニングセンターとして働いている。

(2) Mg欠損組成がもたらす何らかの欠陥は,有効なピンニングセンターとして働いている。この欠陥は,Mgサイトの空孔,もしくはMgサイトへのB置換であると推測できる。

(3) 酸素ガス導入雰囲気で作製したMgB2薄膜中には,結晶粒界以外の等方的なピンニングセンターが存在している。このピンニングセンターは,MgOであると予想される。

(4) MgB2薄膜に挿入したNi層はピンニングセンターとして有効に働いている。