MAXima_XXRD-7000

рентгеновский дифрактометрShimadzu

Новая концепция в многофункциональной

рентгеновской дифрактометрии для 21 века

M A X i m a _ X X R D - 7 0 00

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu

Справляется с особо крупными образцами и жидкими образцамиОснащен высокоточным вертикальным q-q гониометромНовая серия рентгеновских дифрактометров XRD-7000 оснащена высокоточным вертикальным q-q

гониометром и способна работать с крупными образцами по сравнению с обычными приборами – до

400мм (Ш) х 550мм (Г) х 400мм (В).

В дополнение к качественному и количественному анализу, серия XRD-7000 осуществляет

количественный расчет остаточного аустенита, количественный анализ объектов окружающей среды,

расчет точных параметров решетки, степень кристалличности, размер кристаллитов и искажений

решетки, определение типа кристаллической решетки, а так же анализ по методу Ритвелда

и др. анализы кристаллической структуры с помощью П/О. Дополнительные приставки позволяют

проводить измерения напряжений, высоко- и низкотемпературные измерения, измерения тонких

пленок. Недавно разработанный R-q столик дает возможность автоматического картирования

крупного образца до 350ммÆ. Система поликапиллярной оптики, обеспечивающая высокую степень

параллельности рентгеновского излучения, расширяет возможности применения.

Высокоточныйвертикальный q-qгониометр

Широкий диапазонопций расширяетсистему

Совместимостьс WINDOWS XPСистема использует стабильнуюО/С WINDOWS XP,обеспечивающую превосходнуюмногозадачность и возможностьработы в сети.Блок управления и программноеобеспечение аналогичны высокозарекомендовавшему П/ОXRD-6000, с дополнениями,обеспечивающими легкостьуправления.

Для достижения цели исследования,дополнительные приставки поизмерению тонких пленок,напряжения или нагрева образца,могут совмещаться с новойсистемой поликапиллярной оптики

Высокоточные вертикальные q-qгониометры, используемые всерии XRD-7000 обеспечиваютминимальный шаг 0.0001º.Модель L - для исследованиякрупных образцов, модель S -для общих целей.Обе модели характеризуютсяизменяемым радиусомгониометра для исследованияразных образцов.

Дизайн повышенной надежностиКорпус имеет такой же механизм блокировки, как у XRD-6000 и был разработан для обеспечения безопасности от воздействиярентгеновского излучения.

Содержание Стр. 04 - Приложения Стр. 08 – Программное обеспечение Стр. 18 - Принадлежности

Стр. 14 - ПриставкиСтр. 06 – Основной блок Стр. 29 - Спецификации

Приложения X-Ray дифрактометрии

Химикаты и катализаторы

ХимикатыЧерные металлы Качественный анализ органических и неорганических

веществ, анализ включений.

КатализаторыСталь Качественный анализ и измерение степени кристалличности,

измерение размера кристаллов для проверки конечного продукта.Качественный анализ стального листа, измерение остаточногоаустенита и остаточного напряжения, анализ трения ииспытание материалов на истирание, измерение Fe-O пленок инитридных слоев, оценка покрытия и текстуры.

ЧугунКачественный анализ осадков и добавок в чугуне.

Сталь с обработанной поверхностьюОценка характеристик участков с обработаннойповерхностью, контроль качества, измерениеостаточного напряжения.

Цветные металлы

Медь и ЦинкКачественный анализ сплавов, измерение ориентации фольги,оценка текстуры, качественный анализ участков спокрытием.

АлюминийКачественный анализ Al и Al сплавов, оксидов и нитридов,оценка текстуры в листовых материалах.

Другие металлыКачественный анализ металлических сплавов, оксидов инитридов, оценка характеристик участков с обработаннойповерхностью, измерение остаточного напряжения. Модель S, вертикальный q-q гониометр

Машиностроение,автомобилестроение,кораблестроение

КерамикаМашиностроениеКачественный анализ инструментальных сталей, анализповерхности обработанных деталей, анализ аустенитныхслоев, качественный анализ поверхностного покрытия,измерение остаточного напряжения.

Фарфор и керамикаКачественный анализ сырья, оценка конечного продукта, анализкристаллической структуры при нагревании(кристаллографическая система, размер кристалла, параметрыячейки).Автомобиле- и кораблестроение

Качественный анализ деталей конструкций, количественныйанализ аустенита, измерение остаточного напряжения.Качественный анализ катализаторов выхлопных газов.

Цемент и стеклоКачественный и количественный анализ клинкера и цемента(свободная известь, и т.д.), качественный анализ сырья.Качественный анализ и измерение ориентации слоев тонкихпленок сформированных на поверхности стекла.

4

Приложения

Фармацевтическиепрепараты и лечение

Фармацевтические препаратыКачественный анализ сырья, идентификация примесей.Анализ полиморфизма и измерение степеникристалличности, измерение размера кристаллов дляконтроля качества производства фармпрепаратов.Контроль качества готовой продукции и анализкристаллического полиморфизма связанного спатентами.

Электрические иэлектронные материалы

Стоматологические материалыЭлектрические детали

Качественный анализ стоматологическихматериaлов, таких как апатит.

Качественный анализ коррозии и загрязнения на электрических контактах.Измерение напряжения на элементах конструкции, качественный анализдеталей с покрытием.

Электронные компонентыКачественный анализ и измерение ориентации пленок электронныхматериалов. Измерение ориентации подложки кристалла для магнитныхголовок и электронных элементов.

СверхпроводникиАнализ кристаллической структуры сверхпроводящих материалов спомощью метода Ритвелда.

Строительство и сооружение

Качественный/количественный анализ асбестов в строительныхматериалах. Качественный анализ строительных материалов, таких какчерепица и кирпич.

Модель L, вертикальный q-q гониометр

Окружающая среда ипромышленные отходы

Окружающая средаПолезные ископаемые иэнергия Качественный/количественный анализ асбеста в производственной среде.

Качественный анализ пыли.

Промышленные отходыУголь, нефть, природный газКачественный анализ оставшихся компонентов в жидкости для нанесенияпокрытий, бытовой золе, угольной золе и печном шлаке.

Качественный анализ в рамках производства, оценкауглеродных материалов, оценка катализаторов впроцессе перегонки нефти.

Горная порода и минералыКачественный анализ сырья и идентификация включений.Качественный/количественный анализ асбестовыхминералов (совместимых с PRTR методом).

5

Основной блок соответствуетРентгеновский дифрактометр XRD-7000 анализирует кристаллическое строение при нормальныхатмосферных условиях. Данный метод является неразрушающим. Рентгеновское излучение,сфокусированное на образце, установленном по оси спектрометра (гониометра), дифрагируетсяобразцом. Изменения интенсивности дифрагированного рентгеновского излучения измеряется,регистрируется и графически отображается в зависимости от угла вращения образца. Результатпредставляется как дифрактограмма образца. Анализ положения пиков и их интенсивностейпозволяет проводить качественный анализ, определение параметров решетки и/или определениенапряжения образца. Качественный анализ может быть проведен исходя из высоты пика илиплощади пика. Углы пиков и профили могут быть использованы для определения диаметра частици степени кристалличности, а также применяются для проведения точного рентгеноструктурногоанализа.

Дифрагированные X-raysПадающие X-rays (l,Å)

Сталь, цветные металлы, машиностроение, кораблестроение, сварка, автомобилестроение, керамика, цемент, стекло, катализаторы,электрические детали, электронные материалы, магнитные материалы, сверхпроводники, текстильные изделия, бумага и техническаяцеллюлоза, продукты питания, химикаты, пестициды, красители, пигменты, краска и типографская краска, фармпрепараты,стоматологические материалы, биологические материалы, нефть и уголь, электроэнергетика, газ, руда, почва и горная порода, глина,минералы, строительные материалы, окружающая среда, промышленные отходы.

Зашита аппарата от рентгеновского излученияПередняя дверка устанавливается на направляющие ролики, чтобы обеспечить чрезвычайно легкое и плавное открытие дляудобной установки/замены образцов и приставок. Магнитная задвижка гарантирует точное закрытие двери, и в дальнейшемобеспечивает безопасность, механизм блокировки двери автоматически включается, каждый раз, когда излучениегенерируетсяВысоко-прецизионный вертикальный гониометрВысокая скорость (1000°/мин) и высокоточная воспроизводимость угла (0.0002°) обеспечивает быстрое измерение ивысоконадежные данные. q-q гониометр позволяет анализировать образцы в различных состояниях, существеннорасширяя область применения. Механизм двигателя характеризуется независимым приводом двух связанных осей q-2q инезависимым приводом оси 2q и оси q, свободно выбираемым для эффективного анализа тонких пленок и других типованализа.Высоковольтный трансформатор для мощной рентгеновской трубкиВысоковольтный трансформатор поддерживает как 2.2kW рентгеновскую трубку с тонкой фокусировкой, так и 2.7kWрентгеновскую трубку с широкой фокусировкой.

Высокоточный q-q гониометр

Основной блок

nl=2d·sinq

Область применения

Структура блока

6

(опция)· Столик для вращения образца

· Противомонохроматор(опия)

Принцип работы

широкому диапазону приложенийРентгеновские трубкиXRD-7000 в стандартном исполнении использует различные типы рентгеновских трубок, включая 2kW тип с нормальной фокусировкой(NF) и 2.7kW тип с широкой фокусировкой (BF), а также опционный 2.2kW тип с длинным тонким фокусом (LFF). При использованииопционного противомонохроматора, все типы образцов, включая Fe образцы, могут быть проанализированы с помощью стандартной Cuрентгеновской трубки

Высокостабильный рентгеновский генераторДлительный опыт Шимадзу в производстве высокопроизводительных рентгеновских генераторов привел к созданиювысокостабильного генератора, который обеспечивает стабильность напряжения и тока на трубке в пределах ±0.01%. Этастабильность сохраняется в процессе колебания источника питания или температуры, обеспечивая высокую надежность данных дажев течение длительных периодов сбора данных.

Система обработки данныхУправление прибором и обработка данных осуществляется через IBM PC/AT, совместимый с ПК, снабженным расширенным П/О,хранящимся на жестком диске, позволяющем проводить высокоскоростные расчеты в дружественной О/С Windows. Совместимость сWindowsXP еще больше повышает стабильность. При наличии цветного принтера (опция), совмещенные дифрактограммы из результатовкачественного анализа, могут быть распечатаны для простого подтверждения индивидуальных пиков.

Схема XRD-7000

Структура блока

7

Обеспечение полной системы анализа

Управление генератором Вкл/Выкл, установка напряжения/тока на трубке Качественный анализПротивомонохроматорICDD база данных PDF2, PDF4PDF2 поисковое программное обеспечение

Настройка оптического пути Настройка гониометра

Измерение Непрерывное, пошаговое сканирование

Поддержка файла Преобразование из формата ASCIIПреобразование из ASCII в данные XRD-7000Преобразование XD-D1 данных в XRD-7000

Количественный анализП/О для количественного расчета остаточного аустенитаСтолик для вращения образцаКоличественный анализ объектов окружающей средыОсновная обработка данных Сглаживание, вычитание фона, разделение

Ka1-Ka2, поиск пика, коррекция системнойошибки, коррекция по внутреннему/внешнемустандарту, управление данными

Обработка пикаРазделение перекрывающихся пиков

Структурный анализВертикальное, горизонтальное изображение,совмещенное изображение (3D), просмотрпоследних данных

Графическое изображениеП/О для точного определения параметров ячейкиМетод Ритвелда

Фазовый анализКачественный анализ Автоматический поискСоздание пользовательскойбазы данных

Размер кристаллов/расчет напряжения ячейкиРасчет кристалличностиПриставка для измерения тонких пленокПриставка для волокнистых соединений

(с П/О для оценки ориентации)Приставка для измерения напряжения

(с П/О для анализа напряжения)Нагревательная приставкаПриставка для микроизмерений

Построение калибровочной кривой,количественный расчет

Количественный анализ

Результаты автоматического поиска и иллюстрация наложения образца тонкой пленки

Стандартное П/О Опции

Система анализа

Программное обеспечение

8

Автоматическое измерение, легкость управления[Полностью автоматическая оптическая система настройки гониометра с автоматическимсохранением результатов настройки]

XRD-7000 позволяет полностью автоматически настраивать оптическую систему гониометра (включая опционные приставки) через экранмонитора. Установка нуля qs и qd осей, установка высокого напряжения детектора, установка параметров базовой линии PHA (анализаторвысоты импульса) и ширины окна проводится автоматически, данные связанные с настройками сохраняются автоматически. Эти функцииудобны для ежедневного технического обслуживания.

Экран настройки qs/qd-осей

Многозадачный режим повышает эффективность анализа

Многофункциональность WindowsXP повышает эффективность анализа, позволяя параллельно проводить измерение и обрабатывать данные

Экран обработки данных

Программное обеспечение

Оптическая система настройки

Основная обработка данных

9

Экран настройки PHA(анализатор высоты импульса)

Экран настройки HV (высокого напряжения)

Удобный интерфейс для обработки данных

Цифровые данные измеренные на другом дифрактометре могутбыть преобразованы в файлы, которые можно анализировать спомощью П/О XRD-7000. Данные от дифрактометра XRD-6000могут быть использованы без изменений. Для моделей XD-D1 иXD-610 создано окно конвертации файлов. В случае другихдифракционных данных (ASCII файл), угол 2q и интенсивность могутбыть конвертированы в формат данных XRD-7000. И наоборот,первичные данные могут быть преобразованы в текстовые файлыили файлы, сформированные для проведения анализа по методуРитвелда. Более того, обработанные данные, содержащиеинформацию о пике, так же как исходные данные, могут бытьпреобразованы в текстовый формат, облегчая обработку данных вспециализированном формате.

Функции управления данными, такие как удаление ненужного профиля пика и добавление данных после повторного анализа для того, чтобыполучить суммарный профиль – часть из множества способов, доступных для проведения эффективного анализа данных. Спектральныевычисления сразу отображаются в окне.

Окно спектральных вычислений

Программное обеспечение

Обслуживание файла ~ преобразование формата данных

Окно преобразования файла

Добавление/удаление операций

10

Масштаб изображения может быть свободно изменен нажатием клавиши мышки, поэтому сопоставление данных профиля тонкой пленки илиданные высокотемпературных измерений легко достигается комбинированием 2-х мерного или 3-х изображения. П/О характеризуется такжемножеством других полезных графических функции, таких как отображение интенсивности логарифмического преобразования иавтоматическим выводом результатов в виде трехмерного графика. Каждый тип данных может быть выведен на цветной принтер, так чторазличие между образцами может быть обнаружено сразу.

3-х мерная картина образца тонкой пленки

Результаты, полученные на данном приборе могут быть импортированы в другой программный пакет, такой, к примеру, как word и т.д. Записьданных в удобном формате А4 и вывод их на печать в цвете, делает легко различимым даже самые маленькие дифракционные пики нарентгенограмме. Монохромная печать также возможна, путем простой замены картриджа.

2-х мерная печать образца тонкой пленки

Графическое изображение

Цветной принтер

11

Усиленная система авто поиска[авто поиск, общий количественный анализ в стандартной комплектации]

Детализированные параметры поиска могут быть установлены.Чтобы получить корректные результаты с авто поиском/подбором, должны бытьустановлены параметры поиска, которые соответствуют каждому образцу. XRD-7000позволяет выставлять детальные параметры поиска, такие как выбор файлов,которые будут использоваться в поиске, и три уровня ввода элементов. Более того,XRD-7000 снабжен стандартной функцией по элементным данным, котораяиспользует результаты качественного анализа (элементного анализа) отрентгенофлуоресцентных спектрометров через LAN.

Наличие дополнительной функции поиска для надежнойидентификации малого количества компонентов.Идентификация малого количества компонентов стандартным поиском затруднена,требуется дополнительный поиск после идентификации основных компонентов.XRD-7000 содержит функцию дополнительного поиска, чтобы обеспечить простуюидентификацию небольшого количества компонентов.

Данные результатов различных поисков могут быть отображены.Все результаты поиска могут быть размещены в стандартном виде над исходнымиданными. Также, для простоты сравнения, стандартные имена веществ, химическиеформулы, название руды, индексы Миллера и номера ICDD могут быть отображены укаждого пика. Кроме того, функция простого количественного расчета,использующая соотношение корунда для возможных соединений (отношениеинтенсивности для мощного пика a-Al2O3) включена в оборудование.Если ваша система имеет базу данных PDF 2 или PDF 4, детализированныеданные PDF 2 или PDF 4 для возможных веществ могут быть отображены вотдельном окне.

Собственный файл базы данных пользователя – отличается от подфайлапоставляемого ICDD (Международный центр дифракционных данных) – может бытьсоздан. Выбранные стандартные ICDD данные и данные о вещественезарегистрированном в ICDD могут быть введены в этот файл. Также, данные,полученные в результате измерения на XRD-7000, могут быть внесены в файл базыданных в таком виде, как они есть, т.е. основные образцы пользователя могут бытьзарегистрированы и чтобы обеспечить более широкие возможности длякачественного контроля, сравнение может быть сделано с учетом этих веществ.

* JCPDS (объединенный комитет по стандартам порошковой дифрактометрии)был переименован в ICDD в 1978г.

Программное обеспечение

Идентификация может быть выполнена эффективно на экране

Окно введения параметров поиска

Окно результата поиска

Окно создания базы данных пользователя

Специализированная база данных пользователя может быть создана

12

Количественное определение[удовлетворяет вашим целям]

Калибровочные кривые могут быть построены по интенсивности, интегральной интенсивности, отношению интенсивностей.Расчеты интенсивности и интегральной интенсивности используются для метода внутреннего стандарта и метода стандартных добавок.

Экран калибровочной кривой по интегральной интенсивности

Метод внутреннего стандарта и метод двух интенсивностей доступны для удовлетворения большинства запросов приложений. Более того,можно выбрать до 5-ти пиков для количественного определения и до 10-ти введенных значений могут быть рассчитаны одновременно.

Окно результатов количественного определения интегральной интенсивности

Примечание) количественное определение остаточного аустенита и объектов окружающей среды - опции

Программное обеспечение

Калибровочные кривые

Количественный анализ

13

Ассортимент приставокКачественный анализ

ПротивомонохроматорКачественный анализ (идентификация) наиболее общий анализ, проводимый с помощьюрентгеновских дифрактометров. Противомонохроматор, эта приставка, которая повышаетточность качественного анализа. Благодаря противомонохроматору получаемые данныеимеют хорошее соотношение сигнал/шум. Комбинация Cu рентгеновской трубки имонохроматора Cu трубки может вырезать флуоресцентное рентгеновское излучение отMn, Fe, Co, и Ni образцов и применяется для широкого диапазона образцов.

Измерение тонких пленокПриставка для тонких пленок

Эта приставка эффективна для измерения образцов с субмикронной толщиной.Мало-угловая дифрактометрия ограничивает проникновение в подложку подающегорентгеновского излучения, добиваясь высокочувствительного рентгеновского анализатолько поверхностного слоя. В дополнение, проводя измерения при меняющемся углепадения рентгеновского излучения, может быть приблизительно определена толщинапленки, за счет детектирования угла при котором появляется дифрагированноеизлучение от подложки. Столик для образца включает механизм вращения, чтопозволяет измерять ориентацию слоя тонкой пленки.

Количественный анализСтолик с вращающимся образцом/столик для измерения объектов окружающей среды

Эта приставка помогает проводить точный количественный анализ за счет эффективного поглощения рентгеновского излучения,дифрагированного от образца, и устранения возможных ориентационных эффектов благодаря вращению образца.Столик для измерения объектов окружающей среды также применяется для количественного анализа несвязанного кремния иасбеста в производственной среде, соответствуя закону измерения производственной среды.

Столик для измерения объектов окружающей средыСтолик с вращающимся образцом

Приставки

14

Измерение нагреваемого образца

Нагревательная приставкаНагревательная приставка позволяет анализировать образцы при различныхтемпературах. Чтобы соответствовать анализируемому образцу итемпературному диапазону, имеются разные версии такой приставки для низко-,средне-, и высокотемпературного диапазона.

Измерение напряжения

Приставка измерения напряженияИзмерение напряжения с помощью рентгеновского излучения являетсянеразрушающим методом и позволяет измерять остаточные напряжения, делая методшироко используемым для оценки качества и контроля качества механическихдеталей. Приставка позволяет проводить измерение, как на изгиб, так и на сжатие, чтодает возможность измерить напряжение во взаимно перпендикулярных направленияхв одном положении. Метод бокового приложения нагрузки позволяет проводитьизмерения в образце при сжатии.

Измерение на малых участках

Приставка для микро измеренияПриставка для микро измерений используется для исследования мельчайшихучастков образца. Приставка содержит маленькую щель для контроля падающегорентгеновского излучения, столик для установки позиции анализа и микроскоп с CCDкамерой для определения области измерения. Определение области измеренияявляется очень простым. Функция оцифровки видеоизображения позволяетсохранить фотографию области измерения вместе с полученными данными.

Автоматический анализ

Автосамплер на 5 образцовЭтот столик автоматически меняет образцы для измерения. До пяти образцов можетбыть установлено для полностью автоматического качественного анализа илидругих измерений.

15

Столик для крупногабаритного образца (R-q столик)Вмещает образцы диаметром до 350мм.Крупные образцы, диаметром до 350мм и толщиной до 190мм могут быть установлены на R-qстолике. Любая точка на образце может быть выбрана для измерения.Задание диапазона измерения позволяет получать полностью автоматическое картированиерезультатов измерения (напряжение, количественный анализ и т.д.)

Система автоматического картирования напряженияПосле установки образца, подтвердите позицию измерения, при вращении R-q столика,используя план R-q столика на экране (справа) и выставите начальное значение R и q,конечное значение и шаг.При наличии опционной CCD камеры позиция измерения подтверждается на экране.После установки позиции, просто нажмите пуск, чтобы провести полностью автоматическоекартирование, а также автоматически рассчитать результаты анализа напряжения.Результаты отдельных измерений могут быть наложены друг на друга.

Экран установки R-q столика

Графическое отображениеРезультаты анализа напряжения могут быть проверены на картографическом дисплее(справа). (Доступны разные изображения, включая псевдоцветное изображение и оттенкисерого)

Изображение картирования напряжения

После задания направления R или q на картографическом дисплее, распределениенапряжения в обозначенном направлении может быть отображено в виде ломанной линии(справа).

Примечание: вид и спецификация R-q столика может быть изменена без уведомления.

Отображение распределениянапряжения в R направлении.

Приставки

16

кг/мм

2

R[мм]

Поликапиллярная оптическая системаПринцип поликапиллярной оптической системыТонкие стеклянные поликапилляры, поряда нескольких микрон, собраны в единоецелое в виде направляющих для усиления рентгеновского излучения. Излучениепроходит через каждый капилляр за счет повторяющегося полного внутреннегоотражения и выходит из противоположного конца поликапиллярной системы.Поликапилляры имеют изгиб при котором полное внутренне отражение сохраняется ирентгеновское излучение от источника излучения выходит из поликапиллярного блока,как параллельный пучок с большим телесным углом.

Схематическая диаграммаполикапиллярной оптической системы

Особенности поликапиллярной оптической системыПо сравнению с обычной системой фокусировки луча и стандартной системой спараллельным пучком, поликапиллярная система более эффективно используетизлучение от рентгеновской трубки, обеспечивая большую интенсивностьдифракционного рентгеновского излучения. Смещение образца в оптической системеБрегга-Брентано может привести к смещению его из фокуса, что повлечет кзначительному смещению дифракционного угла и существенному падениюдифракционной интенсивности. В противоположность этому, смещение на несколькомиллиметров в поликапиллярной системе не влияет на дифракционный угол инезначительно снижает интенсивность дифракции. По этому, неточная установкаверхней и нижней поверхности образца или неровной поверхности образца неприведет к угловому смещению и возможно точное измерение. Поликапиллярнаясистема также позволяет анализировать искривленные поверхности и объекты,которые невозможно изучать с помощью обычной оптической системы.

Конфигурация поликапиллярной оптическойсистемы с параллельным пучком

Конфигурация оптической системы Брегга-Брентано

Измерение образца с помощью поликапиллярной оптической системыЭтот пример показывает измерения лекарственного сырья ацетаминофена итаблеток в процессе приготовления. Таблетки могут быть напрямуюпроанализированы для оценки степени кристалличности и кристаллическогополиморфизма. XRD-7000 способен выполнить точные, высоко чувствительныеизмерения на неровных или искривленных поверхностях, на подобии таблетки.

Таблетка ацетаминофена

Приставки

17

Входящий угол 4.1º

Источник излучения

Несколько десятковтысяч капилляров

Угол расхождения на выходе

Размер пучкана выходе, 8х8мм

0.22ºугол4.1º

Оптическая система с параллельным пучком Кристаллический монохроматор

Поликапилляр

Источник излучения

Образец

Щель для

параллельного пучка

Детектор

Отклоняющая щель Изогнутый кристаллический монохроматор

Входящая щель

Щель для предотвращения

Образецрассеяния

описание применение P/NПротивомонохроматор СМ-3121 Cu X-ray трубка 215-22360-02Противомонохроматор СМ-3131 Co X-ray трубка 215-22360-03Противомонохроматор СМ-3141 Fe X-ray трубка 215-22360-04Противомонохроматор СМ-3151 Cr X-ray трубка 215-22360-05

ICDD PDF2 P/N для ВУЗов P/N для др. пользователей

Единичная лицензия 1 239-50002-12 239-50002-11

ICDD PDF4/Органика P/Nдля ВУЗов P/N др. пользователей

Однократная лицензия(новая, лицензия на 1г.) 239-50015-22 239-50015-21

Однократная лицензия(обновляемая, на 1 год) 239-50015-24 239-50015-23

Однократная лицензия(обновляемая, на 3 года) 239-50015-26 239-50015-25

Однократная лицензия(обновляемая, на 5 лет) 239-50015-28 239-50015-27

ICDDPDF4+ P/NдляВУЗов P/N для др. пользователей

Однократная лицензия(новая, лицензия на 1г.) 239-50015-02 239-50015-01

Однократная лицензия(обновляемая, на 1 год) 239-50015-04 239-50015-03

Однократная лицензия(обновляемая, на 3 года) 239-50015-06 239-50015-05

Однократная лицензия(обновляемая, на 5 лет) 239-50015-08 239-50015-07

PDF2 программа поиска (DDVIEW) P/N ВУЗов P/N для др. пользователей

Однократная лицензия 1 239-50002-22 239-50002-21

ПринадлежностиКачественный анализ

ПротивомонохроматорПротивомонохроматор, установленный перед детектором, преобразует рентгеновскоеизлучение, прошедшее через входную щель, в монохроматическое излучение, обеспечиваярегистрацию только характеристического излучения (Ka излучение). Исключение из образцавсех остальных рентгеновских излучений, включая непрерывное, Kb и флуоресцентноеизлучение, обеспечивает высокое соотношение сигнал/шум у дифрактограммы.

Это база данных порошковых дифрактограмм, поставляемая ICDD.PDF2 поставляется на CD-ROM и содержит в себе, кроме названиявещества, химическую формулу, d-l данные, индексы Миллера,параметры ячейки, пространственную группу и другуюкристаллографическую информацию. При использовании специальногопрограммного пакета PDF2 Автоматический Поиск (опция), неизвестныевещества, могут быть легко идентифицированы через регистрированнуюкристаллографическую информацию.

В дополнение к функциям PDF2, база данных PDF4 имеет функции поиска данных (DDVIEW+), отображение 2D, 3D структурной таблицы,различные параметры ячейки и моделирование волны из расчетов, а также ввод измеренных данных. Существует два вида базы данныхPDF4+ (основная) и PDF4/органика (для органических веществ).

Программа поиска PDF2(P/N215-00272)Поиск может быть сделан по No. карточки, а также по элементам, использую условия «И»или «ИЛИ», с идентификацией и одновременно полученной кристаллическойструктурой.

Примечание 1: через 5 лет, лицензия должна быть подтверждена, чтобы сделать еепостоянной.

Принадлежности

Карточка No. - экран с результатами поиска

ICDD PDF2/PDF4

18

Описание P/NСтолик для вращения образца (с приводом) 215-21766Столик для вращения образца (без привода) 215-21766-01

Описание P/NСтолик для анализа объектов окружающей среды (с приводом, П/О) 215-21767-02Столик для анализа объектов окружающей среды (с П/О) 215-21767-03Al держатель фильтра (Æ25мм) 215-22775-02Al кювета держатель (5шт.) 215-22507-06Al кювета держатель (со сквозным отверстием) (5шт.) 215-22507-10

Количественный анализ

Столик для вращения образца RS-1001RS-1001 осуществляет вращение в плоскости образца, в комбинации с осцилляциейвокруг оси (q) гониометра для уменьшения рассеяния интенсивностей дифрактограммы,относящихся к ориентации кристаллического образца, и таким образом, увеличиваетточность в большинстве типов количественного анализа.

Основная спецификация· Вращение b ось (в плоскости образца)· Скорость вращения 1-60 об/мин· Мин. ширина шага 0.1º· Режимы управления вращение с постоянной скоростью, осцилляция, исследование вращения в

плоскости образца (непрерывно, ступенчато)· Диапазон измеряемого угла 2q 7°~163°

RS-2001 столик для объектов окружающей средыСистема детального анализа окружающей среды содержит специальный столик дляколичественного анализа объектов окружающей среды, держатель фильтра ипрограммный пакет количественного расчета. Поставляется специальный держательфильтра, который позволяет проводить измерения, используя вырезанный асбестовыйфильтр в таком виде, в каком он есть. Основная спецификация данного столикааналогична столику с вращением образца для общих целей. Коррекция калибровочнойкривой проводится по Zn, однако, когда дифракционная линия образца совмещается слинией Zn, в этом случае имеется Al кювета держатель (опция). Опционный приводстолика образца, также может быть использован с вращающимся столиком.

Основная спецификацияДиапазон измеряемого угла 2q 7°~163°

П/О количественного расчета объектов окружающей средыОбразцы окружающей среды в виде частиц взвешенной пыли, в очень малом количестве,собранные на фильтре представляют сложную аналитическую задачу. XRD-7000 позволяетпроводить надежный анализ. Программный пакет удаляет эффект абсорбции рентгеновскогоизлучения с помощью фильтра, обеспечивая калибровочную кривую хорошей линейностью ивысокой точностью. П/О связанно с использованием специального кювета держателя позволяетприменять очень точную коррекцию фильтра абсорбции. Три состава могут быть рассчитаныодновременно.

Экран результатов количественного расчета

19

Описание P/N

5 позиционный авто самплер (с 2 опционными приводами) 215-23175

5 позиционный авто самплер (с опционным приводом) 215-23175-01

Zn держатель фильтра (25мм Æ) 215-22775-01Al держатель фильтра (25мм Æ) 215-22775-02

Описание P/NАлюминиевая кювета (5шт) 215-22507-06

Стеклянная кювета (5шт) 215-22507-07Стеклянная микро кювета (5шт) 215-22507-08Неотражающая кювета (2шт) 215-22507-09

Описание P/N

Приставка для анализа тонких пленок (с опционным приводом) 215-21765Приставка для анализа тонких пленок (без опционного привода) 215-21765-01

ПринадлежностиАвтоматический анализ

5 позиционный авто самплер (ASC-1001)Эта приставка используется для автоматического измерения максимум 5 образцов.ASC-1001 осуществляет вращение в плоскости образца в комбинации с осцилляциейвокруг оси (q) гониометра для уменьшения рассеяния интенсивностей дифрактограммы,относящихся к ориентации кристаллического образца. Также, возможно использованиедержателя фильтра (опция) для приставки измерения объектов окружающей средыRS-2001.Основная спецификация· Число образцов 5· Размер образца Порошок: 25мм Æ

Фильтр: 25мм или 47мм Æ (опция)· Скорость вращения 1~60 об/мин· Диапазон измеряемого угла 2q 7°~163°

Кюветы для RS-2001 и ASC

Анализ пленок с помощью THA-1101Это специализированная система для анализа тонких пленок, включающая столикдля тонкой пленки, монохроматор и насос.Использую фиксированный угол падения, метод параллельной дифрактометрии,проникновение рентгеновских лучей в подложку образца максимально ограничено,обеспечивая низкий фон дифрактограмм тонких пленок. Образец легкоустанавливается при помощи всасывающего насоса.Опционный привод может быть использован с вращающимся столиком образца.

Основная спецификация· Вращение b ось (в плоскости образца)· Скорость вращения 1~60 об/мин· Минимальный угол падения 0.1º· Насос AC100V, 10W (1 насос)· Режимы управления Вращение с постоянной скоростью, осцилляция, сканирование в

плоскости вращения образца (непрерывно, ступенчато)

20

Описание P/NПриставка для волокнистых образцов (с П/О) 215-22624

Описание P/NAVS-1101 система автоматической смены щелей 215-23950

Приставка для волокнистых образцов

Данная система, используемая в комбинации со столик вращения образца (RS-1001),измеряет степень ориентации для волокон. Полученные данные обрабатываются,использую поставляемый программный пакет для расчета степени ориентации.

П/О ориентация волокна· Это П/О оценивает степень ориентации для волокнистых образцов, используя

величину ширины пика на полувысоте, полученную из измерений ориентации(измерение в плоскости образца b оси).

Экран оценки степени ориентации

AVS-1101 система автоматической смены щелей

Данный механизм автоматически выставляет ширину щелей DS, SS и AS в соответствии с режимом измерения выбранном на экране.

· Режим изменяемой щели испускания:Щель испускания настраивается таким образом, что вся поверхность образца облучается рентгеновским излучением одинаковойширины. Щели детектора (SS и RS), также выставляются в соответствии с шириной щели испускания.

· Режим фиксированной щели испускания:Ширина щелей DS, SS и RS зафиксирована в заданныхзначениях.

Система автоматической смены щелей

21

Описание P/N

Приставка для микро измерений (MDA-1101) 215-23180

Приставка для микро измерений (MDA-1201) 215-23180-01

Описание P/N

Приставка для анализа напряжения (Cr трубка, привод, П/О) 215-21769

Приставка для анализа напряжения (Co трубка, привод, П/О ) 215-21769-02Приставка для анализа напряжения (Cr трубка, П/О) 215-21769-01Приставка для анализа напряжения (Co трубка, П/О) 215-21769-03

ПринадлежностиMDA-1101/1201 приставка для микро измерений

Приставка для микро измерений использует щель с малым отверстием для пропускания,позволяя измерять миро участки. Измеряемые поверхности рассматриваются через CCDкамеру, поэтому изображения могут быть загружены на ПК, сохранены и отредактированы.Предлагается две модели: MDA-1101 использует оптический микроскоп и MDA-1201использует камеру с увеличивающим объективом (8 – 80мм).

Основная спецификация· Точечная щель испускания 0.1, 0.2, 0.3, 0.5, 1, или 2мм Æ· XYZ перемещение ±7.5мм· Метод обзора поверхности образца изображение CCD камеры видимое на экране ПК

Приставка для анализа напряжения SA-1101Это - специализированная система анализа напряжения, использующая метод боковогоприложения нагрузки, включает стенд для анализа образца, рентгеновскую трубку и П/О.Рентгеновский анализ напряжения широко используется для измерения степенинапряжения в веществах. В рентгеновской дифрактометрии малейшие изменениянапряжения в пространственной ячейке определяются из профиля рентгеновскойдифрактограммы. Использование специального стенда для анализа напряжения всочетании с методом бокового приложения нагрузки позволяет проводить точноеизмерение остаточного напряжения. Эта техника лишена ошибки поглощения. П/Овключает следующие функции: измерение ширины пика на полувысоте, расчет позициипика и расчет напряжения. В зависимости от типа образца и поверхности отражения,необходима либо Cr трубка, либо Co трубка. Опционный привод может быть использовансо столиком вращения образца.

Основная спецификация· Ось приложения нагрузки a ось· Диапазон угла нагрузки 0-50º· Режимы управления осциллирующий, фиксированный

П/О анализ напряжения· Это П/О может выполнять анализ используя данные, как из испытаний на сжатие (ψ –

фиксированный метод, ψ0 – фиксированный метод), так и из испытаний на изгиб.

Экран результата анализа остаточного напряжения

Принадлежности

22

Описание P/N

PCL-1001 поликапиллярный блок 215-23980СМ-4121 противомонохроматор в сборке (для параллельного пучка) 215-22360-06

Рентгеновская трубка (длинный тонкий фокус LFF, Cu) 210-24100-11

Описание P/N

Нагревательная приставка (с температурным контроллером) 215-23000

TTK-450

Термопара PT100 резистер

Диапазонтемпературы

Комн.T~300°C (воздух, или инертный газ)Комн.T~450ºC (вакуум)

-180~450°C ( в вакууме с охладительным комплектом)Функцииуправления

Установка значения PID, установленный температурныйконтроль (повышение, понижение, удержание, остановка)

Источник питания Одна фаза 200/220V±10% 5A

описание P/N

Нагревательная приставка TTK-450 215-24030-91

Вакуумный комплект для TTK-450 215-24034-92

Охладительный комплект для TTK-450 215-24033-92

PCL-1001 поликапиллярный блокПоликапиллярный блок это новый оптический элемент, который расщепляет единыйрентгеновский луч, вышедший из источника излучения, на множество рентгеновских лучей,используя трехмерно устроенную капиллярную оптику для создания мощного выходящегопараллельного пучка, который покрывает большую площадь образца.1) По сравнению с обычными методами, этот блок более эффективно используетрентгеновское излучение и увеличивает интенсивность дифрагированного излучения,позволяя проводить более чувствительный анализ.2) Для обычных методов, изменения в неровности поверхности образца напрямуюотражаются в изменениях дифракционных углов. Данный поликапиллярный блокиспользует параллельные лучи, поэтому неровности поверхности образца не влияют.

Примечание: если в XRD-7000 используется рентгеновская трубка LFF, указанную в таблице трубку заказывать не требуется.

Нагревательная приставка HA-1001Данная система, состоящая из специальной печи и температурного контроллера, используется длянагрева образца в процессе съемки рентгенограммы для изучения влияния нагрева накристаллическую структуру. Атмосфера в печи, в виде воздуха, инертного газа или вакуума, можетбыть нагрета до 1500°C в процессе измерения. Результаты измерения представлены в разныхформатах данных, чтобы была возможность сравнения дифрактограмм, полученных при разныхтемпературах.

Основная спецификация· Термопара Pt-Pt/Rh· Измеряемая температура 1500ºC max в вакууме, в воздухе

1200ºC max в инертном газе (N2)· Функции управления установка значения PID, установленный

температурный контроль (повышениетемпературы, понижение, удержание,остановка)

· Электропитание одна фаза 200/220V±10% 10A

Нагревательная или охладительная приставка TTK-450

Данная система, состоящая из специальной печи и температурного контроллера,используется для нагрева образца в процессе съемки рентгенограммы для изучения влияниянагрева на кристаллическую структуру. Атмосфера в печи, в виде воздуха, инертного газаили вакуума, может быть нагрета до 450ºC в процессе измерения на TTK-450ºC.С вакуумным и охладительным комплектом, атмосфера может быть охлаждена до –180ºC.Результаты измерения представлены в разных форматх, чтобы была возможностьсравнения дифрактограмм, полученных при разных температурах.

Основная спецификация

23

TTK-450

Всестороннее программное обеспечениеКоличественный анализ

Расчет остаточного аустенита (P/N 215-00270-02)Стандартный метод для расчета остаточного аустенита должен применять метод дляобразцов, состоящих из 2-х компонентов, таких как закаленная Cu a-Fe и γ-Fe.Специальное П/О делает возможным определение без стандартного образца. П/Онапрямую использует отношение интенсивности измеренных пиков компонентов a-Fe иγ-Fe, чтобы теоретически выполнить расчет. Для проведения расчетов используетсяметод пяти усредненных пиков, т.о. рассеяние из-за матричного эффекта уменьшено,чтобы повысить надежность результатов. Использование столика для вращения образца(P/N 215-21766) при измерении еще больше помогает преодолеть разброс данных.

Экран результатов расчета

Обработка пика

П/О разделение перекрывающихся пиков (P/N215-00273-02)

Используя модель Гаусса и Лоренца, перекрывающиеся пики разделяют друг от друга, синформацией, содержащей позицию, интенсивность, ширину пика на полувысоте ирассчитанную интегральную интенсивность для каждого дифракционного пика.Это используется далее для проведения количественного и структурного анализа.

Разделение пиков

Анализ кристаллической структуры

П/О точное определение параметров ячейки (P/N 215-00274-02)В рентгеновской дифрактометрии, часто требуется более высокая точность дляопределения параметров ячейки, являющихся фундаментальным критерием дляопределения кристаллической структуры вещества. П/О наиболее часто используетсядля количественного расчета содержания твердого раствора. Данное П/О исправляетисходные дифракционные углы, рассчитанные с помощью основной обработки данных,чтобы определить более точные параметры ячейки для 7 кристаллов одновременно,используя метод наименьших квадратов для уменьшения ошибки в дифракционных углах.Кроме того, для каждого пика приводятся индексы Миллера.

Экран с результатом расчета точныхпараметров элементарной ячейки

Принадлежности

24

Описание P/N

П/О анализ Ритвелда RIETAN 215-00283-02

П/О анализ Ритвелда (P/N215-00283-02)П/О анализ Ритвелда (P/N 215-00283-02)Метод Ритвелда – это метод анализа кристаллической структуры,применяемый в порошковой дифрактометрии и нейтронографии для прямогоопределения структурных параметров и параметров ячейки.Метод подгоняет рассчитанную дифрактограмму для предполагаемыхкристаллических моделей к реальной дифрактограмме и определяетпараметры, используя нелинейный метод наименьших квадратов,учрежденный Национальным Институтом Материаловедения (в прошломНациональный Институт Исследования Неорганических Материалов).Используемое П/О - анализ Ритвелда представляет собой программу RIETANразработанную Ф.Изуми.

Фазовый анализП/О размер кристаллов и деформация кристаллической решетки

Образцы обычно состоят из кристаллов размером от нескольких микрон додесятка микрон. Однако, в случае кристаллов катализатора, которые могутиметь размер несколько сотен Å, рентгеновская дифрактометрия приводит куширению дифракционного пика. Данное П/О количественно определяет этоуширение и применяет уравнение Шеррера для расчета размера кристалла.Когда имеется деформация ячейки, уширение дифракции определяется длямножества дифракционных пиков и рассчитывается размер каждогокристаллита и деформация решетки, исходя из полученного угла наклоналинии и пересечения ее с осью координат. (Метод Халла)

Экран с результатами расчета по уравнению Халла

П/О расчет кристалличности (P/N215-00277-02)Степень кристалличности смеси аморфного и кристаллического вещества, кпримеру, основа в высокополимерных образцах, является важнымпараметром характеристики вещества.Данное П/О автоматически или в ручную разделяет, полученнуюдифрактограмму, на кристаллические компоненты и аморфные. Затем,программа рассчитывает интегральную интенсивность двух типов веществ,называемую степенью кристалличности, использую отношение площадипика двух классов компонентов.

Экран с результатами расчета кристалличности

25

Описание Площадь образца Применение Примечание P/N

Алюминиевая кювета Æ25 (диам.) x 1мм (т) Общие цели Сделана из алюминия, 5шт 215-22507-01

Стеклянная кювета Æ25 (диам.) x 1мм (т) Парметры ячейки Сделана из стекла, 5шт 215-22507-02

Стеклянная микро кювета Æ15 (диам.) x 0.5мм (т) Микро образцы Сделана из стекла , 5шт 215-22507-03

Неотражающая кювета Ультрамикро образцы Сделана из кремния , 2шт 215-22507-05

Тип фокуса Тип NF Тип BF Тип LFFТип фильтраРазмер фокуса 1 х 10мм 2 х 12мм 0.4 х 12мм

Напряжениетрубки, ток.

60kV, 50mA 60kV, 60mA 60kV, 55mA

Мишень : Максимальная мощность и P/N Описание P/N

Cu 2.0kW (062-40003-03) 2.7kW (210-24016-21) 2.2kW (210-24100-11) Ni фильтр (для Cu) (215-22500-02)Co 1.8kW (062-40003-04) 2.7kW (210-24016-24) 1.8kW (210-24100-14) Fe фильтр (для Co) (215-22500-03)Fe 1.5kW (062-40003-05) 2.7kW (210-24016-25) 1.0kW (210-24100-15) Mn фильтр (для Fe) (215-22500-04)Cr 1.8kW (062-40003-06) 2.7kW (210-24016-26) 1.9kW (210-24100-16) V фильтр (для Cr) (215-22500-05)

Другие принадлежностиКюветы

Данные кюветы доступны для различного применения, включая алюминиевую кювету, поставляемую встандартной комплектации с дифрактометром.

Рентгеновские трубки и фильтры

Al кювета Стекляннаякювета

Стекляннаямикро кювета

Неотражающаякювета

26

Описание P/NНасос для охлаждающей воды CW-1 239-15023

Описание P/N

HYCOOL HYW2023C-S15 044-01807-11

HYCOOL HYW2045C-S36 044-01807-12

Насос для охлаждающей воды CW-1

Данный водяной насос прокачивает воду через рентгеновскую трубку ивысоковольтный трансформатор. Рекомендуется использовать, когда водопроводнаявода имеет давление ниже 3 кгс/см2 или когда давление воды чрезмерно колеблется.

Основная спецификация• Источник питания AC100/200V 5/2.5A• Выходное давление 0~5кгс/см2 (непрерывно изменяемое)

Циркулятор охлаждающей воды

HYCOOL HYW2023C-S15 (для 2kW трубки)HYCOOL HYW2045C-S36 (для 3kW трубки)Со встроенным охладителем, циркулятор охлаждает рентгеновскую трубку и рентгеновскийгенератор за счет циркулирования охлажденной, чистой или очищенной воды. Устройстворекомендуется, когда отсутствует водопроводная вода, либо вода имеет низкое качество.

Основная спецификация• Источник питания Одна фаза 200V ±10% 20A (HYW2023C-S15)

Одна фаза 200V ±10% 30A (HYW2045C-S36)• Окруж. Температура 5~40°C• Производительность 1750/2000ккал/ч (50/60Hz) (HYW2023C-S15)

3600/3900 ккал/ч (50/60HZ) (HYW2045C-S36)

27

2kW тип 3kW тип

XRD-7000LXRD-7000S

215-23750-03215-23750-07

215-23750-04215-23750-08

Объект анализа Описание Каталожныйномер

Железо и стали

Цветные металлы,

драгоценные металлы

Маш

иностроение,авто-/кораблестроение

Производство кирпича,керамики

Цемент и стекло

Электрические,электронные материалы

Продукты питания, текстиль,бумага

Химикаты, катализаторы,краски

Медицинские материалы,

биологические организмы

Природные богатства,энергия

Стройматериалы,строительство

Окруж

ающ

ая среда,пром

ыш

ленные отходы

1 Уменьшение фона, особенно Fe образцы Обратный монохроматор CM-3121 P/N 215-22360-02 ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎2 Качественный анализ PDF2 Поиск ICDD PDF2 файл (CD-ROM) P/N 239-50002-11,12

◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎PDF2 П/О Поиск (DDVIEW) P/N239-50002-21,22

3 Качественный анализ PDF4 Поиск ICDD PDF4+ (CD-ROM) P/N 239-50015-01,02 ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎4 Основной количественный анализ Столик для вращения образца RS-1001 P/N 215-21766

○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○П/О Расчет остаточного аустенита P/N 215-00270-02

5 Расчет остаточного аустенита 5 позиционный авто самплер ASC-1001 P/N 215-23175-02 ○ ○Столик для вращения образца RS-1001 P/N 215-21766 ○ ○

6 Система количественного анализаобъектов окружающей среды

Столик для количественного анализаобъектов окружающей среды RS-2001(Zn держатель фильтра, с П/О)

P/N 215-21767◎

Al держатель фильтра (Æ25мм) P/N 215-22775-02 ◎7 Разделение сложных пиков П/О Разделение пиков P/N 215-00273-02 ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ●8 Точное определение параметров ячейки П/О Точное определение параметров

ячейкиP/N 215-00274-02 ● ● ● ● ● ● ●

9 Анализ кристаллической структуры Анализ Ритвелда, П/О RIETAN P/N215-00283-02 ● ● ● ● ● ● ●10 Размер кристалла/напряжение ячейки П/О Размер кристалла/напряжение ячейки P/N 215-00276-02 ○ ○ ○11 Степень кристалличности П/О Степень кристалличности P/N 215-00277-02 ● ○ ○ ○12 Анализ при нагревании Нагревательная приставка HA-1001 P/N 215-23000-01 ● ● ● ● ● ● ● ●13 Анализ тонкой пленки Приставка для анализа тонкой пленки

THA-1101 (столик, монохроматор, насос)P/N 215-21765

● ● ● ● ● ●14 Анализ степени ориентации волокна Столик для вращения образца RS-1001* P/N 215-21766 ● ● ● ● ● ● ○ ●

Приставка для волокнистых образцов (сП/О)

P/N 215-22624 ● ● ○ ●15 Анализ остаточного напряжения Приставка для анализа напряжения

SA-1101 (с Cr трубкой, П/О)P/N 215-21769

○ ○ ○ ● ● ●16 Микро измерения с микроскопом Приставка для микро измерения MDA-1101 P/N 215-23180 ● ● ● ● ● ●17 Микро измерения с CCD камерой Приставка для микро измерения MDA-1201 P/N 215-23180-01 ● ● ● ● ● ●18 Автоматическое картирование(напряжение, количественный анализ)

R-q столик для крупных образцов ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ●19 Высоко параллельный рентгеновскийпучек

Поликапиллярный блок P/N 215-23980 ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ●

Конфигурация системы и принадлежностиСтандартная конфигурация и многообразные принадлежности для применения.1 Стандартная конфигурация 2 Специальные устанавливаемые принадлежности

· Низкое давление водопроводной водыНасос для охлаждающей воды CW-1

· Отсутствие или низкое качество водопроводной водыЦиркулятор охлаждающей жидкости HYCOOL HYW2023C-S15Циркулятор охлаждающей жидкости HYCOOL HYW2045C-S36

3 Подходящие кюветы 4 Обслуживание/расходные принадлежности· Стеклянная кювета Æ25х1.0 5шт/уп P/N 215-22507-02· Стеклянная микро кювета Æ15x0., 5шт/уп P/N 215-22507-03· Неотражающая кювета 2шт/уп P/N 215-22507-05*Для применения, смотрите информацию по кюветам

· рентгеновская трубка 2.0kW, NF P/N 062-40003-03· рентгеновская трубка 2.7kW, BF P/N 210-24016-21· Si стандартный образец, 20г 325 меш 1 P/N 215-21723

Специальные принадлежности ◎ : Строго необходимо ○ : необходимо ● : необходимо в зависимости от цели,

* Может быть использован со столиком для вращения образца общего назначения

Принадлежности

· Гониометр 1· Высоковольтный трансформатор 1· ПК (закупается отдельно)

· Рентгеновская трубка 1· Сцинтилляционный детектор 1

28

Пункт XRD-7000L XRD-7000S

2kW тип 3kW тип 2kW тип 3kW тип

Рентгеновскаятрубка

Тип Cu, NF Cu, BF Cu, NF Cu, BF

Фокус 1.0x10мм 2.0x12мм 1.0x10мм 2.0х12мм

Мощность 2KW 3kW 2KW 3kW

Рентгеновскийгенератор

Максимальная выходная мощность 3kW

Колебания выходной мощности ±0 01 % (при колебаниях напряжения 10%)

Максимальное напряжение трубки 60kV

Максимальный ток труби 80mA

Шаг изменения напряжения трубки 1kV

Шаг изменения тока трубки 1mA

Максимальный уровень напряжения Изменяется в зависимости от типа трубки

Защита рентгеновской трубки От недостаточного и избыточного напряжения, избыточной мощности, избыточного токаи/или нарушения подачи воды

Механизмы безопасности Механизм блокирования двери (рентгеновсое излучение генерируется только при закрытойдвери)

Гониометр

Тип Вертикальный q-q

Радиус гониометра 275мм стандарт (изменяется 200¸275мм) 200мм стандарт (изменяется 200¸275мм)

Расстояние хода рентгеновского пучка дооснования приставки

220мм 85мм

Минимальный шаг изменения угла 0.0001º (q), 0.0002º (2q)

Угловая воспроизводимость 0.0002º

Угловой диапазон сканирования -12¸164º (2q), -6¸82º (qs), -6¸132º (qd)

Режимы сканирования qs-qd связанный режим; q, 2q несвязанный режим

Режимы работы Режим непрерывного и пошагового сканирования, калибровка, позиционирование

Скорость сканирования 1000°/минута (2q)

Контролируемая скорость 0.1¸50º/минута (qs, qd), 0.1¸100º (2q)

Отклоняющая щель (DS) 0.5º, 1º, 2º, 0.05мм

Рассеивающая щель (SS) 0.5º, 1º, 2º

Принимающая щель (RS) 0.15мм, 0.3мм

Детектор/счетчикДетектор Сцинтилляционный счетчик

Люминофор Nal

Счетчик Задаваемое время 0,1~1000c, число разрядов счета 7

HV/PHA Высоковольтное питание 500~1200В, автоматический контроль базовой линии и интенсивности

КорпусГабариты 1120 (Ш)x1049 (Г)x1790 (В) мм

Масса 530кг

Пропускание рентгеновского излучения Менее 2мкЗиверт/ч (на максимальной мощности)

Тип компьютера IBM PC/AT совместимый

Операционная система WindowsXP

Компьютер Pentium, или эквивалент

Дисплей 17-дюймовый, цветной

Принтер A4 цветной

Контролируемые компоненты Гониометр, генератор рентгеновского излучения, напряжение трубки, ток, напряжение на детекторе, PHA (анализбезопасности эксплуатации), счетчик

Основная обработка данных Сглаживание, вычитание фона, разделение Кa1-Кa2, поиск пиков, ширина пика на половине высоты, интегральнаяинтенсивность, коррекция систематических ошибок, коррекция по внутреннему/внешнему стандарту, обработка данных,графический дисплей

Качественный анализ Создание базы данных, автоматический библиотечный поиск (ICDD PDF1 и PDF2 опции)

Количественный анализ Построение калибровочной кривой, количественный расчет

Главная спецификацияXRD-7000

Блок обработки данных

*Windows зарегистрированная торговая марка Microsoft Corporation.

Принадлежности

29

Для основногоблока

Одна фаза 200/220V±10%

2kW тип: 30A

3kW тип: 50A

ПК Одна фаза 200/220V ±10%

Заземление Независимое, сопротивление не менее 100W

Температура 23ºC±5ºCВлажность 60%±5%

Скорость потока Не менее 4.0л/минДавление воды 3-5кгс/см2

Качество воды pH 6~8, жесткость менее 80 ppmЧастицы Менее 0.1ммДиаметр подводящей трубы 12.7мм ÆКанализация Естественный слив

Требования к установкеМесто размещенияДанный инструмент использует рентгеновское излучение для измерения и анализа. Соответственно, перед установкойприбора, убедитесь, что вы ознакомились с местными инструкциями относительно измерений связанных сгенерированием рентгеновского излучения и выполняйте все необходимые регулирующие процедуры.

Требования к питанию

Колебание источника напряжения не должно превышать 10%.Дополнительный источник питания требуется, если нагревательная приставка использует насос для охлаждающейводы или систему замкнутой циркуляции охлаждающей воды.

Условия эксплуатацииТребуется нижеуказанная температура и влажность.

Избегайте любых резких перепадов температуры, которые могли бы привести к формированию конденсата на поверхностивнутренних частей.Тепловыделение от инструмента составляет примерно 860кал/ч. Если циркулятор охлаждающей жидкости установлен вэтой же комнате, то оно повысится на 2,720кал/ч для 2kW рентгеновской трубки и на 4,580кал/ч для 3kW трубки.

Водоснабжение инструмента

Охлаждающая вода, подаваемая к инструменту, становится засореннойвследствие коррозии труб, это приводит к забиванию фильтров рентгеновскойтрубки. Охлаждающую воду следует подавать при следующих условиях.

Если скорость потока ниже 4.0л/мин, то цепь аварийной защиты рентгеновской трубки становится активной и отключаетцепь генерирования рентгеновского излучения. Если минимальные условия скорости потока не могут быть выполнены,используйте систему циркуляции охлаждающей жидкости, доступную как опция.

Установка

30

Прибор можетбыть установленк стене

Размер и масса XRD-7000 Ш1120хГ1049хВ1790 530кгПК со столом Ш700хГ700хВ1600 70кг

масштаб: ммШирина входа не менее 1200

Пример расположения XRD-7000

Циркуляторохлаждающейводы

Источник воды

XRD-7000 основнойкорпус

Высота 1790мм530кг

ПК

Плата

31