Equipment Repair-Bab-3-ee302

40
EE302 EE302 ELECTRONIC EQUIPMENT ELECTRONIC EQUIPMENT REPAIR REPAIR By: En. Izwanizam bin Yahaya

Transcript of Equipment Repair-Bab-3-ee302

Page 1: Equipment Repair-Bab-3-ee302

EE302 EE302 ELECTRONIC EQUIPMENT ELECTRONIC EQUIPMENT REPAIR REPAIR

By:En. Izwanizam bin Yahaya

Page 2: Equipment Repair-Bab-3-ee302

BAB 3BAB 3

TEKNIK DIAGNOSIS DAN TEKNIK DIAGNOSIS DAN ALAT-ALAT PENGUJIANALAT-ALAT PENGUJIAN

Page 3: Equipment Repair-Bab-3-ee302

APAKAH ALAT PENGUJIAN YANG DIGUNAKAN DALAM MEMBAIK PULIH ALATAN ELEKTRIK DAN ELEKTRONIK?.

Page 4: Equipment Repair-Bab-3-ee302

ALAT-ALAT PENGUJIANALAT-ALAT PENGUJIAN

OSSILOSKOPMULTIMETERKUAR LOGIKPENDENYUT LOGIKKLIP LOGIKPENYURIH ARUSPENGANALISA LOGIKPENJANA DENYUT

Page 5: Equipment Repair-Bab-3-ee302

OSSILOSKOPOSSILOSKOP

DEFINASIFUNGSI OSSILOSKOPJENIS OSSILOSKOPGAMBAR RAJAH BLOKKENDALIAN

Page 6: Equipment Repair-Bab-3-ee302

JENIS-JENIS OSSILOSKOPJENIS-JENIS OSSILOSKOP

1. OSSILOSKOP STORAN

2. MULTICHANNEL OSSILOSKOP

3. DIGITAL OSSILOSKOP

Page 7: Equipment Repair-Bab-3-ee302

DEFINASI OSSILOSKOPDEFINASI OSSILOSKOP

Osiloskop adalah alat pengukuran elektronik yang berkeupayaan untuk memaparkan isyarat di atas screen.

Dimana isyarat ini berubah dengan masa (voltan lawan masa).

Page 8: Equipment Repair-Bab-3-ee302

FUNGSI OSSILOSKOPFUNGSI OSSILOSKOP

Digunakan untuk menyukat isyarat yang masanya berubah-ubah serta paparkan isyarat supaya dapat dianalisis.

Pengukuran voltan a.t dan a.u, frekuensi, tempoh dan hubungan fasa antara isyarat .

Analisis isyarat sambutan fana seperti masa menaik, masa menurun dan masa lajakan yang berlaku.

Mengkaji ciri-ciri penguat

Menguji komponen.

Page 9: Equipment Repair-Bab-3-ee302

OSSILOSKOP STORANOSSILOSKOP STORAN

Ia berkeupayaan untuk mengingati isyarat ujian melalui ingatan yang ada padanya.

Memaparkan isyarat ujian secara jelas tanpa memerlukan isyarat persekalaan.

Page 10: Equipment Repair-Bab-3-ee302

OSSILOSKOP MULTICHANNELOSSILOSKOP MULTICHANNEL

Boleh memaparkan 2 atau lebih isyarat ujian dalam satu masa. Ia menggunakan prinsip ‘multiplexer’.

Setiap isyarat dipaparkan satu demi satu oleh senapang elektron tetapi dalam jangka masa yang amat pendek.

Digunakan untuk melihat bentuk signal pada 2 tempat yang berbeza pada satu rangkaian elektronik.

Page 11: Equipment Repair-Bab-3-ee302

OSSILOSKOP DIGITALOSSILOSKOP DIGITAL

Ia menggunakan prinsip digital. Isyarat ujian akan ditukarkan kepada digital yang diproses oleh litar digital (seperti sistem komputer) dan dipaparkan pada skrin.

Ia berkeupayaan untuk membuat pengukuran tambahan dengan ketepatan yang tinggi dan mudah digunakan.

Page 12: Equipment Repair-Bab-3-ee302

BINAAN ASAS CRTBINAAN ASAS CRT

vertical

Vhorizontal

H

ElectronGun

Deflection Planes

Fluorescentscreen

Spot

ElectronBeam

Page 13: Equipment Repair-Bab-3-ee302

KENDALIANKENDALIAN

Apabila voltan diberikan pada Horizontal plate, elektron akan bergerak secara mendatar Dan bila voltan diberikan secara Vertical plate elektron akan bergerak secara menegak.

Plate H disambung kepada satu isyarat Mata Gergaji (Saw Tooth Signal) elektron akan bergerak dari kiri ke kanan pada paksi X.

Plate V disambung kepada satu isyarat ujian, menyebabkan pergerakan elektron akan bergerak mengikut plate ini.

• Apabila voltan diberikan pada Horizontal plate, elektron akan bergerak secara mendatar Dan bila voltan diberikan secara Vertical plate elektron akan bergerak secara menegak.

• Plate H disambung kepada satu isyarat Mata Gergaji (Saw Tooth Signal) elektron akan bergerak dari kiri ke kanan pada paksi X.

• Plate V disambung kepada satu isyarat ujian, menyebabkan pergerakan elektron akan bergerak mengikut plate ini.

Page 14: Equipment Repair-Bab-3-ee302

Hasil dari voltan yang dibekalkan pada Plate H dan V secara berterusan

menyebabkan terhasilnya lengkok atau gelombang pada skrin osc. Yang hampir sama dengan gelombang ujian.

Gelombang tersebut tidak dapat dilihat kerana isyarat yang dipaparkan pada skrin sangat laju.

Untuk jangka masa yang lama penstabilan diperlukan.

Page 15: Equipment Repair-Bab-3-ee302

GAMBARAJAH BLOK GAMBARAJAH BLOK

SAWTOOTHOSCILLATO

R

X - deflection

Y - deflection

X - deflection

Y - deflection

Y - Amplifier

X - Amplifier

comparatorTrigger

Level

Voltage/DIV

Frequency Time / DIV

Trigger Circuit

Input

Page 16: Equipment Repair-Bab-3-ee302

FUNGSI FUNGSI

VOLTAGE/DIV Knob: Untuk menukarkan skala pembesaran pda penguat (amplifier) Channel Y dan juga menukarkan skala paksi Y pada skrin.

TIME/DIV Knob: Untuk menukarkan tempoh masa (skala) ‘saw tooth signal’ yang menentukan berapa lama elektron bergerak dari kiri ke kanan pada skrin dan menukarkan skala paksi X pada skrin.

TRIGGER LEVEL Knob: Menukarkan paras rujukan bagi isyarat ujian untuk menentukan skala bagi ‘saw tooth signal’

Page 17: Equipment Repair-Bab-3-ee302

MULTIMETER (VOM)MULTIMETER (VOM)

SEBUTKAN BEBERAPA CONTOH PENGGUNAAN MULTIMETER?

Page 18: Equipment Repair-Bab-3-ee302

Pengukuran Voltan DC/ACPengukuran Voltan DC/AC

Pilih skala DC/AC yang sesuai pada MOV. Skala tersebut mestilah lebih besar daripada nilai voltan yang diukur untuk mengelakkan kerosakan pada MOV.

Page 19: Equipment Repair-Bab-3-ee302

Pengukuran Miliampere (arus)Pengukuran Miliampere (arus)

Pilih skala DC mA yang sesuai pada MOV. Nilai skala mestilah lebih besar dari nilai yang diukur. Potongkan litar yang hendak diukur dan sambungkan MOV seperti gambarajah di bawah:-

Page 20: Equipment Repair-Bab-3-ee302

Pengukuran rintangan Pengukuran rintangan

Pilih skala yang sesuai, laraskan MOV pada 0 ohm(tentukurkan). Sambungkan objek yang hendak diukur seperti di bawah:-

Page 21: Equipment Repair-Bab-3-ee302

B.S 1852 RESISTANCE CODE B.S 1852 RESISTANCE CODE

1. 0.47 OHM = R472. 1 OHM = 1R03. 4.7 OHM = 4R74. 47 OHM = 47R5. 100 OHM = 100R6. 1K OHM = 1K07. 10K OHM = 10K8. 10M OHM = 10M

Page 22: Equipment Repair-Bab-3-ee302

PENAMBAHAN ABJAD PENAMBAHAN ABJAD MENUNJUKKAN HAD TERIMAMENUNJUKKAN HAD TERIMA

i. F = +/- 1% ii. G = +/- 2 % iii. J = +/- 5 % iv. K = +/- 10 % v. M = +/- 20%

Page 23: Equipment Repair-Bab-3-ee302

Contoh;Contoh;

1. R33M = 0.33 ohm +/- 20%2. 4R7K = 4.7 ohm +/- 10% 3. 390RJ = 390 ohm +/- 5%4. 6k8F = 6.8k ohm +/- 1%5. 68KK = 68k ohm +/- 10 %6. 4M7M = 4.7M ohm +/- 20%

Page 24: Equipment Repair-Bab-3-ee302

Pengujian KapasitorPengujian Kapasitor Tidak semua MOV berkeupayaan untuk menguji

kapasitor. Bagi MOV yang mempunyai kemudahan menguji

kapasitor lakukan seperti gambarajah di bawah. Tetapi kapasitor tersebut mestilah discaskan dahulu

sepenuhnya.

Page 25: Equipment Repair-Bab-3-ee302

Bagi MOV yang tidak mempunyai kemudahan ini, pengujian boleh dilakukan menggunakan kaedah ‘quick and dirty’

Matikan bekalan kuasa pada litar tersebut. sambungkan MOV seperti litar dibawah, dan perhatikan nilai rintangan.

Bagi kapasitor yang baik MOV akan mengecas kapasitor tersebut dan diakhir ujian nilai rintangan adalah infiniti (kapasitor jenis elektrolitik) atau seperti graf di bawah.

MOV secara ‘quick and dirty’ Graf menguji kapasitor

Page 26: Equipment Repair-Bab-3-ee302

Menguji DiodMenguji DiodBagi menguji diod MOV mestilah mempunyai

‘diode check’ atau ‘high-ohm’ skala.

Ini kerana MOV tersebut mestilah boleh mengaktifkan diod (forward bios).

Gambarajah di bawah menunjukkan cara pengujian diod (a) forward-bios dan (b) reverse-bios.

Rintangan = Tinggi (infiniti) seperti litar buka

Rintangan = sifar (litar pintas)

Rintangan = Rendah

Page 27: Equipment Repair-Bab-3-ee302

Pengujian TransistorPengujian Transistor

Sila semak sendiri……………….

Page 28: Equipment Repair-Bab-3-ee302

KOMPONEN ELEKTRONIKKOMPONEN ELEKTRONIK

1. PASIF = komponen yang Memberi laluan kepada arus elektrik,isyarat. contoh ; perintang, peraruh, kapasitor.

2. AKTIF = komponen yang Mengawal laluan arus dan memproses isyarat ,

menghasilkan isyarat baru dan membekalkan tenaga.

contoh ; transistor, ujt,ic,scr,bateri,diod dll

Page 29: Equipment Repair-Bab-3-ee302

Kerosakan yang biasa berlakuKerosakan yang biasa berlaku

a. Bocor = bacaan ohm lebih tinggi (diod)

b. Pintas = 0 ohm (perintang,trasisitor,fet,mosfet,peraruh dan kapasitor)

c. Terbuka = infiniti (perintang,trasisitor,fet,mosfet,peraruh dan

kapasitor)

d .Pertambahan nilai = (utk perintang sahaja)

Page 30: Equipment Repair-Bab-3-ee302

KUAR LOGIKKUAR LOGIK (logic probe) (logic probe)

“Logic Probe” alat yang digunakan untuk membaca atau menguji paras logik isyarat digital (digital signal) .

Bila litar logic atau gate logic berada pada kedudukan ”1” (tinggi) LED pada logic probe akan berwarna merah.

Bila litar logic atau gate logik berada pada kedudukan “0” (rendah) LED pada logic probe akan bertukar menjadi berwarna hijau.

Bila LED penunjuk berkelip-kelip menunjukkan Isyarat denyutan sedang melalui litar logik berkenaan.

Alat ini senang digunakan dan diterima sebagai alat penguji untuk kebanyakkan litar.

Logik probe juga sesuai digunakan untuk menganalisa denyutan (pulse low frequency) yang kecil yang susah dilihat oleh osiloskop.

Page 31: Equipment Repair-Bab-3-ee302

PENDENYUT LOGIKPENDENYUT LOGIK(logic pulser)(logic pulser)

Logik pulser digunakan untuk menghasilkan isyarat digital kedalam litar.

Kebiasaannya ujian untuk menguji dan mengesan kerosakkan litar bersepadu (IC) pada motherboard (system board) computer dijalankan semasa computer berada dalam operasi (switched on), tetapi penggunaan logic pulser digunakan semasa computer tidak beroperasi.(di off kan).

Logik pulser dapat menghasilkan isyarat digital sama seperti yang dihasilkan oleh computer yang sedang beroperasi.

Dengan menggunakan logic pulser kita dapat mewujudkan isyarat yang sentiasa tinggi “1” atau “0” ataupun satu siri denyutan.

Semasa menguji untuk mencari kerosakkan pada litar bersepadu (IC) penggunaan logic probe diperlukan untuk menguji isyarat pada output IC berkenaan.

Isyarat daripada logic pulser biasanya adalah lebih kuat dan boleh mengatasi

Semua isyarat lain yang ada pada litar yang sedang diuji.

Page 32: Equipment Repair-Bab-3-ee302

MONITOR LOGIKMONITOR LOGIK

IC test clip dilekatkan pada pin kaki IC. Hanya perlu mengambil bacaan atau membuat ujian logic probe pada pin yang terdapat pada bahagian atas IC test clip.

IC test clip dicipta bagi memudahkan pengujian dilakukan disebabkan oleh kedudukan IC yang berselerak di atas Mother board (PCB) juga disebabkan oleh kesempitan ruang pada pin kaki IC bila mengunakan probe logic.

IC Test clip yang dijual dipasaran terdiri daripada berbagai saiz, sesuai untuk iC yang mempunyai kaki 14, 16, 18, 20, 24, 30 dan 40 pin.

Page 33: Equipment Repair-Bab-3-ee302

PENYURIH ISYARAT PENYURIH ISYARAT

Penyurih arus (Current Tracer) juga dikenali sebagai nama pengesan litar pintas (short detector).

Alat ini boleh digunakan bagi mengesan jumlah arus kecil yang melalui papan litar tanpa memutuskan litar. Kebiasaannya penyurih arus akan menggunakan LED untuk menunjukkan kewujudan arus,terdapat juga penyurih arus yang membunyi “buzz” untuk sebagai penanda untuk tujuan yang sama.

Untuk penyurih arus yang membunyikan “buzz”, biasanya bunyi akanbertambah kuat bila alat ini dibawa menghampiri tempat di mana berlakunya litar pintas (short circuit)

Pengurih arus boleh mengesan arus yang berubah dengan cepat.

Jika tempat yang hendak diuji tidak terdapat arus yang berubah,logik probe boleh digunakan untuk menyuntik denyutan.

Page 34: Equipment Repair-Bab-3-ee302

Stuck wired-end circuit.

Multiple get input problem

Page 35: Equipment Repair-Bab-3-ee302

PENGUJI TRANSISTORPENGUJI TRANSISTOR

Alat Multimeter boleh digunakan untuk menguji transisitor.

Walaubagaimana pun Penguji Transistor boleh diuji dengan lebih senang dengan menggunakan penguji transistor.

Terdapat beberapa jenis penguji transistor tetapi yang paling baik ialah yang boleh membuat ujian tanpa mengeluarkan transistor dari papan litar.

Untuk membuat ujian transistor biasanya perlu terlebih dahulu mengetahui punca Collector(C) , Base ((B) dan Emetter(E).

Penguji Transistor jenis yang baik bukan sahaja boleh

menguji samada transistor berkenaan adalah baik tetapi tetapi dapat menunjukkan secara automatik punca collector, Emitter, dan Base.

Page 36: Equipment Repair-Bab-3-ee302

PENGANALISA LOGIK PENGANALISA LOGIK ((LOGIC ANALYSERLOGIC ANALYSER))

Penganalisa Logik digunakan untuk melihat paras logik bagi litar digital pada beberapa titik (lebih daripada satu) secara serentak. Logik-logik ini boleh dilihat melalui ‘timing diagram’ atau ‘state diagram’.

Page 37: Equipment Repair-Bab-3-ee302

PENJANA DENYUT (PENJANA DENYUT (PULSE PULSE GENERATORGENERATOR))

Digunakan untuk menjana denyut yang boleh dikawal parameter pulsenya, bergantung kepada Keperluannya, seperti ;

delay,width,period,single/double lain-lain lagi.

Page 38: Equipment Repair-Bab-3-ee302

PRA Kuiz 1PRA Kuiz 1

1. Nyatakan jenis-jenis osiloskop yang biasa digunakan.

2. Apakah kegunaan meter pelbagai,dan nyatakan keburukan meter analog.

3. Dalam pengukuran julat rintangan pada meter pelbagai, terangkan apakah langkah awal sebelum pengukuran dibuat?

4. Nyatakan kegunaan kuar logic

5. Nyatakan penggunaan logic pulser

6. Nyatakan penggunaan penjana isyarat.

6. Lukiskan dan labelkan gambarajah blok binaan sebuah osiloskop.

Page 39: Equipment Repair-Bab-3-ee302

JAWAPANJAWAPAN

1. i) Osiloskop Storan ii) Multichannel Osiloskop iii) Digital Osiloskop

2. Pengukuran voltan dc/ac,miliampere,rintangan dll

3. Pilih julat sesuai,Pintaskan kedua-dua probe dan laraskan butang pelaras kepada hampir sifar

4. Kegunaan kuar logic untuk menguji paras logic pada litar digital samada logic ‘0’ atau logic ‘1’.

5. Logik Pulser digunakan untuk menyuntik denyut terkawal ke dalam litar logic

Page 40: Equipment Repair-Bab-3-ee302

6. Gambarajah blok Binaan osc.

SAWTOOTHOSCILLATO

R

X - deflection

Y - deflection

X - deflection

Y - deflection

Y - Amplifier

X - Amplifier

comparatorTrigger

Level

Voltage/DIV

Frequency Time / DIV

Trigger Circuit

Input