Difrak ční metody

23
Difrak Difrak ční metody ční metody 1. Zdroje záření 2. Monochromatiz ace 3. Detekce 4. Monokrystalové metody 5. Práškové metody - filmové 6. Práškový difraktogram - zpracování 7. Identifikace neznámé fáze, fázová analýza 8. Určování mřížových parametrů 9. Měření zbytkových napětí 10. Textury 11. Analýza profilů (mikrodeformace, defekty, velikost částic)

description

Difrak ční metody. Zdroje záření. 2. Monochromatizace. 3. Detekce. 4. Monokrystalové metody. 5. Práškové metody - filmové. 6. Práškový difraktogram - zpracování. 7. Identifikace neznámé fáze, fázová analýza. 8. Určování mřížových parametrů. 9. Měření zbytkových napětí. - PowerPoint PPT Presentation

Transcript of Difrak ční metody

Page 1: Difrak ční metody

DifrakDifrakční metodyční metody

1. Zdroje záření2. Monochromatizace

3. Detekce

4. Monokrystalové metody

5. Práškové metody - filmové

6. Práškový difraktogram - zpracování

7. Identifikace neznámé fáze, fázová analýza

8. Určování mřížových parametrů

9. Měření zbytkových napětí

10. Textury

11. Analýza profilů (mikrodeformace, defekty, velikost částic)

Page 2: Difrak ční metody

Zdroje záření - jednotkyZdroje záření - jednotky

Jas ohniska(phot.s-1mrad-2E/E=10-3):

n = f(x, z, , , E, t)

Intenzita(phot.s-1mrad-2E/E=10-3):

I = f(, , E, t) = n dx dz Spektrální tok(phot.s-1E/E=10-3):

s = f(E, t) = I dd

Page 3: Difrak ční metody

Zdroje zářeníZdroje záření

Kvantová účinnostExcitační energie

Intenzita char. čáry

Page 4: Difrak ční metody

Zdroje záření – vznik zářeníZdroje záření – vznik záření

dopadem urychleného elektronu na pevnou podložku

změna dráhy relativistického elektronu

vybuzené fluorescenční záření

brzdné charakteristické

Page 5: Difrak ční metody

Brzdné zářeníBrzdné záření

Spektrální intenzita I ~ Z Ee E (1 – E/Ee)/h2

atomové čísloenergie elektronuEe = eU h E E

h E h eUhc

U

1 2

1

11 2 41 0

nebo

nm

m axm in

m in

,.

S rostoucím U roste i počet srážek elektronu

I ~ U2

Page 6: Difrak ční metody

Charakteristické zářeníCharakteristické záření

I ~ (U – Uk)2

pro U < 3Uk

Moseleyův zákon

K

L

R Z

R Z

3

41

5

5 67 4

2

2

( )

( , )

Rydbergovakonstanta

Page 7: Difrak ční metody

Charakteristické zářeníCharakteristické záření

W 69,3

Mo 20,0

Cu 8,9

Co 7,7

Cr 6,0

Budící potenciály(V)

Ag 60

Mo 50-60

Cu 35-40

Co 30-35

Cr 20-25

Optimální napětí(V)

Page 8: Difrak ční metody

Charakteristické zářeníCharakteristické záření

Page 9: Difrak ční metody

Brzdné a charakteristické zářeníBrzdné a charakteristické záření

I(phot.s-1mrad-2E/E=10-3): U i Z(1-E/Ue) 5.108Kjz f()I(Ee-Eejz)1,63

Účinnost CZeU/2h2 ~ 10-6 ZU

KjzEjz(eU-Eejz)1,63/eU

Pro Mo, U = 40 kV 3,7.10-4

Brzdné Charakteristické

Exp. lonstanta účinnosti

Page 10: Difrak ční metody

Požadavky pro strukturní analýzuPožadavky pro strukturní analýzu

1. Regulovatelné napětí v rozmezí 15-60 kV, stabilizované2. Intenzita co nejvyšší a konstantní3. Pokud možno malé rozměry zdroje4. Malá absorpce okénky5. Rovnoměrné vyzařování ohniska6. Čisté spektrum7. Stabilní ohnisko8. Snadná výměna lampy9. Dostatečně dlouhá životnost

Page 11: Difrak ční metody

Laboratorní zdroje zářeníLaboratorní zdroje záření

Nezbytné součásti

• Regulovatelný zdroj (stabilizovaný ~ 10-3, VN transformátor a usměrňovače v olejové lázni,

nové – spínaný zdroj o vysoké frekvenci, stabilita ~ 10-4)• Vysokonapěťový kabel • Kryt rtg lampy• Chladící médium• Rtg lampa

čerpané odtavené

Katoda - wolframové vláknoWehneltův válecAnoda – Cu blokBeryliová okénka (0,4 mm)Vakuum (< 10-2 Pa)

rotační anoda

Různá velikost ohniska

Broad, normal, fine; mikrofokusní

Page 12: Difrak ční metody

Zdroje – schema rtg Zdroje – schema rtg lampylampy

Page 13: Difrak ční metody

Skleněné lampySkleněné lampy

Page 14: Difrak ční metody

KeramickéKeramické lampylampy

Page 15: Difrak ční metody

AEG Chirana

Page 16: Difrak ční metody

Rigaku Nonius

Page 17: Difrak ční metody

Výrobci rtg lamp a generátorůVýrobci rtg lamp a generátorů

Philips analytical

Bruker

BedeMicrosource

Nonius Nonius

Rotační anody

Rigaku

Page 18: Difrak ční metody

SynchrotronovSynchrotronové zářeníé záření

Vysoká intenzita, vysoký jas

Široký spektrální obor (spojité spektrum), dobře definovaný

Vysoký stupeň polarizace v rovině orbitu

Pulsní struktura

Přirozená kolimace, velmi malá úhlová divergence

Pohyb elektronu po kruhové dráze (J. Larmor 1897, A. Lienard 1898, 40. Léta Sokolov, Ivanenko, Pomeranchuk, Ternov)

SR poprvé pozorováno v General Electric Laboratory 1946 (70 MeV elektron synchrotron)

Akumulační prstenec (1966)

Page 19: Difrak ční metody

Synchrotronové Synchrotronové zářenízáření

Wigglery a undulátory

K = 0,934 B0 d0

Amplitudaindukce

Perioda

Wiggler K > 1

Undulátor K < 1

Page 20: Difrak ční metody
Page 21: Difrak ční metody

SynchrotronovSynchrotronové zářeníé záření

Pe c e cE

m c

2

3

2

3

2

2

2

20

2 4

( )

E

m c

v

c02

2

1 1/

Poloměr křivosti

P E B I 0 0 2 6 5 3,[kW; GeV; T, mA] K BE

1 8 6

2

,

Page 22: Difrak ční metody

Interakce rtg zInterakce rtg záření s hmotouáření s hmotou

Sekundární záření

Fluorescenční rtg záření

Rozptýlené záření- klasický (koherentní, pružný) rozptyl- kvantový (nekoherentní, nepružný, Comptonův) rozptyl

Elektronová emise- fotoelektrony- Comptonovy elektrony (zpětného odrazu)- párové elektrony

Page 23: Difrak ční metody

AbsorpceAbsorpce

xdx

I0

Id

dI = - I dx

dI

Idx

I

Idd

d

I

I d

; ln000

Id = I0 exp (- d)

Lineární absorpční koefeicient

Ag Mo Cu Ni Co Fe Cr

0,49 0,62 1,38 1,49 1,61 1,74 2,07

Absorpční hrany K