Difracción polivalente para todos los usuarios

X’PERT POWDER

La solución para análisis de polvo y mucho más

•Rendimientoexcepcionala un precio accesible

•Actualizaciónsencillayeconómica ahora y en el futuro

La compañía de rayos X analíticos

Altorendimiento,alta calidad

Tecnología PreFIX

X’PERT POWDER

Equipado con un generador dealtapotencia,ungoniómetro de gran tamaño con el sistema de posicionamiento óptico directo (DOPS) y el galardonado detector X’Celerator,X’PertPowdereselsistemaDRXdegamamedia con la mejor relación calidad-precio.

Ventajas de X’PertPowder

Generador de alta capacidad de 3 kW para una mayor intensidad y resultados rápidos

X’Celerator: el primer detector lineal de estado sólido

• Hasta100vecesmásrápidoquelosdetectores de Xe estándar

• Sinreduccióndelaresolución• Sinmantenimiento,recargadegasni

devoluciónafábrica• Launidadmásusadaentodoelmundo

Goniómetro con sistema de posicionamiento óptico directo (DOPS)

• Sensoresenlosbrazosdelgoniómetro(noenelengranaje)

• Resoluciónangularexcepcional

• MódulosderayosXprealineadosydeintercambiorápido

• Unúnicosistemaópticoreconectabledetornillocónicoparacorregirlaposicióndealineaciónconunaexactituddevariosmicrómetros

• Componentesdeacerocementadoparaherramientasparalamáximaprecisióndurantetodalavidaútil

• Cambiosdeconfiguraciónsencillossincomplejasrealineaciones

• Sinreduccióndelaresoluciónolaintensidadalcambiarentreaplicaciones

• Aplicacióndelosúltimosavancesaloscomponentes del camino óptico

5 min

5 min

La solución para análisis de polvo y mucho más

Versátil y fácil de usar

Rendimientoexcepcionalaunprecioasequible

X’PERT POWDER

Paraanálisisdepolvo,análisisdefasesycuantificación

Conunainversiónadicionallimitada,puede:• Realizaranálisisdepelículasfinas• Determinarladistribucióndel

tamañodelaspartículasdenanomateriales

• Determinarelefectodelatemperatura en las propiedades de los materiales

• Realizaranálisisautomatizadosdevariasmuestras

• Aprovecharlosúltimosavancesparasistemasópticos,plataformasdemuestras,detectores,tubosderayosXysoftwaredeanálisis

• Adquisicióndedatosdealtacalidadagranvelocidad

• Hastacincovecesmásrápidoqueunsistemadesobremesa

• Softwarecompletoyfácildeusar• Másde10añosdecalidaddemostrada• Comunidaddemásde2.500sitiosdeusuarios

Casiel80%delasmejores50universidades*delmundosonclientesycolaboranconPANalyticalenmateriadedesarrollo.

*www.usnews.com/articles/education/worlds-best-universities/2009/10/20/worlds-best-universities-top-200.html

X’PertPowder,laúltimaadiciónalagamadedifractómetrosderayosXX’PertPRO,permitela identificación y cuantificación de fases de alto rendimiento y alta calidad de materiales policristalinos a un precio accesible. El innovador sistemamodularX’PertPowderdePANalyticalsepuedeactualizarfácilmenteahoraoenelfuturoamedida que surjan nuevas aplicaciones.

Para análisis y cuantificación de fases

Para transmisión

X’PERT POWDER

Determine la estructura cristalina de las muestrasconHighScore(Plus).Segúnsusnecesidades,puedeconfigurarHighScore para tener un control total mediantelasúltimastécnicasdeanálisis o para que HighScore procese automáticamente el análisis con un cambiador de muestras automático.

Puedeidentificarlamuestramediantela comparación con los patrones de referencia.ConHighScorepuedeaccederadiversasbasesdedatosdereferenciagratuitas.PuedeusarICDD,PAN-ICSDolasbasesdedatosgratuitasdisponiblesenInternet(porejemplo,CrystallographyOpenDatabase).Estaseleccióndebasesdedatosgratuitaslepermiteaccederaentre100.000y500.000patronesdereferenciadedistintosnivelesdecalidad.Paracuantificarlasmuestrascontansólopulsarunbotón,useX’PertQuantifyoX’PertIndustry.Sinecesitaanalizarmuestrascomplejasconmuchasfases,leofrecemosuna amplia asistencia técnica para aplicaciones.

Análisis semicuantitativo mediante RIR En el caso del método de relación de intensidad de referencia (RIR), los datos de RIR de las fichas de ICDD permiten determinar la composición de las mezclas.

Comparación de difractogramas de chocolate en los modos de reflexión y transmisión. En el segundo caso se observan mejores resultados con un ángulo bajo.

ElsistemaX’PertPowderseadaptafácilmentealageometríadetransmisión,loquetienecomoresultado unas posiciones e intensidades de los picosmásexactasconángulosbajos.Además,sepuedeaplicarlamismageometríaparaSAXSyparaelpolvodeloscapilaresdevidrio.

0

10000

40000Inte

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Position [°2Theta]

10 20 30

Transmission geometry Reflection geometry

Para análisis de películas finas

Dispersión de rayos X con ángulo bajo

X’PERT POWDER

PuedeconfigurarfácilmenteX’PertPowderparalosanálisisdepelículasfinas.LareflectometríaderayosXpermitemedir el espesor y la calidad de las capasdelaestructuradepelículafinaresultantedelasdiferenciasdedensidadentrelascapas.Además,puedeidentificarlasfasesdelascapasindividualesdelaestructuradepelículafinamediantelaópticadeincidenciaderasante.LageometríaresultantepermitereducirlaprofundidaddepenetracióndelosrayosX,loqueproporcionainformacióndelascapassuperioresúnicamentesegúnelángulodeincidencia.

UndifractogramaofrecemuchainformaciónademásdelospicosdeBragg.DadoquelosrayosXdeángulobajosedispersanconlasnanoestructuras,ladispersiónderayosXdeángulobajo(SAXS)eslaopciónidealparacaracterizarestasestructuras.Adiferenciadelamicroscopiaelectrónica,SAXSesunmétodomuyrápidoparamedirlasnanoestructurasqueproporcionaninformaciónestructuralrepresentativadeunvolumenmacroscópicodelamuestra.ElsistemaX’PertPowdersepuedeconvertirenuninstrumentoSAXS.ElsoftwareEasySAXSpermiteanalizarnanopartículas,nanocompuestosynanoporos.

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.50.1

3

1

3

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3

100

3

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3

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3

10000000

3

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Omega-2Theta [deg.]

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2 Theta [deg.]

SAXS XRD

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106

104

0 10 20 30 40 50 60 70 80

0.01

0

0.02

0.03

0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

Dv

(R)

R [nm]

23 Å

65Å

Ejemplo de medición por reflectometría de una película de poliestireno de 40 nm en un sustrato de Si oxidado

Ejemplo de distribución del tamaño de las partículas de una

mezcla de nanopolvo de anatasa y rutilo

obtenido mediante mediciones de ángulo

bajo

SoftwaredePANalytical:valor agregado

LagamadesoftwaredePANalyticalpermiteusarunaplataformacomúnde recopilación y análisis de datos paralosinstrumentosdedifracciónderayosX.LosusuariospuedenelegirentreunaampliagamademódulosquerecopilanyanalizandatosparaI+Dycontroldeprocesos.LosresultadosdelasmedicionessonintercambiablesconotrossistemasmedianteelformatoabiertoXRDMLparatransferirdatosycompartirarchivos,basadoenelestándarXMLparalaindustriaeInternet.

Desdelaadquisiciónhastaelanálisisdelosdatosdesuexperimento,elsoftwaredePANalyticallepermiteextraerlasconclusionescorrectas.

ElsistemaderecopilacióndedatosdePANalytical esunpaquetedesoftwaredeadquisicióndedatosuniversalparatodaslasaplicacionesdeDRX.Sideseaanalizarfasesdepolvos,nanopartículasoestructurasdepelículasfinas,elsoftwarederecopilacióndedatosfacilitalaconfiguracióndelexperimento.LosdatossealmacenanenlaplataformaXRDMLabiertaycontienentodalainformaciónnecesariapararepetirlamedición.LoscomplementosdelexploradordePANalyticalpermitenobtenervistaspreviasyorganizarfácilmentelosarchivosXRDML.Losdatos de las distintas aplicaciones del archivoXRDMLsepuedenanalizarconHighScore,ReflectivityoEasySAXS.Para iniciar automáticamente el análisisconelsoftwarederecopilacióndedatos,useelprogramadeprocesamientoautomático.

1. Softwarederecopilaciónde datos para el control de los instrumentos ylaadquisicióndedatos para todas las aplicacionesdeDRX

2. AlmacenamientodedatosenformatoXRDMLabierto

3. UsodeHighScore(Plus),ReflectivityoEasySAXSpara el análisis de datos

Aprovechamientomáximodelosdatos

EspecializacióndePANalytical

EnloscentrosdePANalyticaldetodoelmundohaydisponiblescursosdeformación,sesionesdefamiliarizaciónconlosinstrumentos,talleressobreaplicacionesycanalesdeaprendizajeadistanciaparaofrecerinformaciónvaliosaalosclientesnuevosyexistentes.Además,secelebranencuentroscientíficosdecaráctergeneralsobreunaampliavariedaddetemasrelacionadosconladifracciónyladifusiónderayosX.

• Ampliadocumentaciónpararentabilizaralmáximolainversión- Guíadeusuario- Guíarápida- Ayudadelsoftware- Tutoriales

• Cursosadaptadosasusnecesidadesen todo el mundo

- CursodeDRXbásico - Cristalografía - Análisisnoambientales - HighScore - DispersiónderayosXconángulo

bajo - Reflectometría

Intensity

30 40 50 60 70 80°2θ

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¿Quéesladifracciónderayos X?

La muestraEneldiagramasepuedeverunamuestratípicacondosfasescristalinas(violetayazul),cadaunaconcristalitosdedistintotamañomedio,yunaproporcióndematerialamorfo(beis).Lascaracterísticasdeldifractogramamostrado a continuación se han codificadoconcoloresparaindicarloscomponentescorrespondientes.

ElmétodoLadifracciónderayosXesunatécnicadeanálisisversátilynodestructivaparalaidentificaciónyladeterminacióncuantitativadelasdistintasformascristalinas(llamadas“fases”)deloscompuestos presentes en la muestras en polvoysólidas.EstaidentificaciónserealizamediantelacomparacióndelpatróndedifracciónderayosXo“difractograma”obtenidode

unamuestradesconocidaconunabasede datos reconocida internacionalmente conpatronesdereferenciaparamásde200.000fases.Losdifractómetrosmodernoscontrolados por ordenador usan rutinas automáticasparamedir,registrareinterpretarlosdifractogramasúnicosgeneradosporloscomponentesindividualesdeinclusolasmezclasdegrancomplejidad.

Global y local

PANalyticalB.V.Lelyweg1,7602EAAlmeloP.O.Box13,7600AAAlmeloPaísesBajosT+31(0)546534444F+31(0)546534598info@panalytical.comwww.panalytical.com

Oficinas de ventas regionalesAméricaT+15086471100F+15086471115

Europa,OrientePróximoyÁfricaT+31(0)546834444F+31(0)546834499

AsiaPacíficoT+6567412868F+6567412166

El resultado ElresultadodeunamedidadeDRXesundifractograma,donde se muestran las fasescristalinaspresentes(posicionesdelospicos),las concentraciones de las fases(áreasdelospicos),elcontenidoamorfo(elevacióndefondo)yeltamañooladistorsión de los cristalitos (anchuradelospicos).